JB47302射线检测-在实际工作中应用

JB47302射线检测__在实际工作中应用第一页，共30页。第一部分通用要求3、术语和定义3.1公称厚度T；受检工件名义厚度，不考虑材料的制造偏差和加工减薄。（1）理解；一般由设计图纸提供的厚度，不考虑焊缝余高和垫板厚度。（2）应用；在单壁透照时为透照厚度，在透照厚度范围选择像质計灵敏度值（单壁透照）以及评级时均采用公称厚度。（3）注意；在用设备和管线测厚后，应填写公称厚度第二页，共30页。3.2透照厚度W；射线照射方向上材料的公称厚度，多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。（1）理解；所谓射线照射方向上即与主射线垂直。（2）应用；一般在双壁双影或双壁单影以及带夹套工件透照时采用透照厚度如Ø57×3.5mm,透照厚度是7mm,Ø219×7mm,透照厚度为14mm,夹套厚度10mm,焊接头厚度是12mm,透照厚度22mm（以透照厚度确定灵敏度，评级仍采用单壁公称厚度）（3）注意；当壁厚不等时已薄工件为准，但选择射线能量时要考虑厚的一面以及焊缝的余高和垫板的厚度。第三页，共30页。3.3工件至胶片的距离b；沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。（1）理解；b等于L2（2）应用；计算几何不清晰度（3）注意；计算b厚度时要考虑焊缝余高，双壁双影时为管子的外径+2余高，双壁单影时为管子公称厚度的+1余高，第四页，共30页。3.4射线源至工件的距离f；沿射线束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源侧表面之间的距离。（1）理解；f等于L1（2）应用；计算几何不清晰度，环焊缝透照次数（单壁外透）（3）注意；只有采当用内透法时f值可以减小。中心50﹪，偏心20﹪而且与技术级别无关第五页，共30页。3.5焦距F；沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。（1）理解；F=f＋b（2）应用；计算曝光量，采用其它方式透照环向对接接头（3）注意当用X射线机时要考虑窗口到焦点的距离。第六页，共30页。3.6射线源尺寸d；射线源的有效焦点尺寸（1）理解；X光机所提供的焦点尺寸是有效焦点尺寸（2）应用；计算几何不清晰度（3）注意；采用γ射线两个以上源叠加时以长轴计算第七页，共30页。3.7管子直径D0；管子的外径（1）理解；一般给出的管子规格均指外径，如Ø57×3.5mm（2）应用；计算小径管透照次数，环向焊接接头透照次数，双壁双影计算几何不清晰度，计算椭圆开口间隙。（3）注意；容器一般给出的D0系指内径第八页，共30页。3.8圆形缺陷；长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷（1）理解；小于和等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均属于圆形缺陷（2）应用；在检测报告缺陷性质一栏中，凡长宽比小于和等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均应称作圆形缺陷（3）注意；当圆形缺陷的长径大于1/2板厚时应注明其尺寸第九页，共30页。3.9条形缺陷；长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷（1）理解；凡长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均属于条形缺陷（2）应用；在检测报告缺陷性质一栏中，凡长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均应称作条形缺陷（3）注意；在管对接接头评级中，内凹、咬边不属于条形缺陷第十页，共30页。3.10透照厚度比K;一次透照长度范围内，射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之比（1）理解；透照厚度比K值即横向裂纹捡出角（2）应用；计算纵向焊接接头一次透照长度和环向焊接接头的透照次数（3）注意；对100mm＜D0≤400mm的环向焊接接头可放宽≤1.2与技术级别有关（仅限A级和AB级）第十一页，共30页。3.11小径管；外直径D0小于或等于100mm的管子（1）理解；小径管外直径的上限为100mm,下限无规定但壁厚≥2mm。（6.1.1）（2）应用；计算小径管的透照次数。（3）注意；由于结构原因不能进行多次透照时，应采取有效措施扩大缺陷的检出范围第十二页，共30页。3.12底片评定范围；本部分规定底片上必须观测和评定的范围（1）理解；以两搭接标记之间的距离为长，焊缝加焊缝两侧热影响区为宽的范围。对小径管而言应是黑度大于1.5(AB级）或黑度大于大于2.0（B级）部分（2）应用；评片时评定范围以外的缺陷不作为该片的评定依据，但要在备注栏中注明。当缺陷延伸到评定范围以外时也应计算其尺寸和数量。（3）注意；丁字焊口的纵、环部分焊缝也应进行评定。第十三页，共30页。3.13缺陷评定区；在质量分级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域。可以是正方形或长方形。缺陷评定区应选在缺陷最严重的部位。（1）理解；缺陷系指条形缺陷和圆形缺陷。评定区尺寸选取只与母材的公称厚度有关，与技术级别无关。（2）应用；按不同性质的缺陷和母材的公称厚度择评定区，测量时评定区应与焊缝平行，（5.1.5.1)在圆形缺陷评定区内存在条形缺陷时要综合评级（3）对小径管圆形缺陷评定区按10mm×10mm第十四页，共30页。透照方式的选择：（1）、应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。（2）、在源在内单壁透照和源在外单壁透照之间选择时，尽可能多采用源在内单壁透照方式（3）、典型透照方式的b值如表3。

表3第十五页，共30页。6、小径管环缝透照的要求（表4）第十六页，共30页。三、根据已知的条件（如壁厚）和已确定的条件(如源种类、透照方式、像质计的放置位置)，确定符合标准要求的工艺参数和技术要求（如透照厚度W、增感屏的种类和前后增感屏的厚度、应识别丝号和像质计型号、底片黑度范围等）（1）、透照厚度W的确定单壁透照时，透照厚度W取材料公称厚度T，此处T只计算母材，不考虑焊缝余高，透照带垫板单面焊缝时，不考虑垫板厚度。双壁透照（双壁单影和双壁双影透照）时，透照厚度W取射线通过的各层材料公称厚度之和（T1+T2+T3……），此处T只计算母材，不考虑焊缝余高，透照带垫板单面焊缝时，不考虑垫板厚度。第十七页，共30页。（2）、公称厚度、透照厚度与标准中相关规定的对应关系（表5）（3）、增感屏材料及前后增感屏厚度

射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合下表的规定。第十八页，共30页。（4）、像质计的选择和像质计灵敏度①像质计选用依据有4个，

a.透照厚度；

b.透照方式；

c.像质计放置位置（源側或胶片側）；

d.射线照相技术等级②单壁透照、像质计置于源侧时，像质计灵敏度应符合表5的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表6的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表7的规定。第十九页，共30页。第二十页，共30页。第二十一页，共30页。第二十二页，共30页。第二十三页，共30页。②(纵缝)双壁透照：同上。③椭圆形封头拼接缝透照（纵缝单壁内透照）：三次周向曝光N=L’eff/250+2L”eff/250L’eff=2(0.42Di+0.47T)L”eff=0.19Di+1.1T+H说明：N—透照片数;T—母材厚度;H—直边高度f1min=0.57Di，f1max=0.9Dif2min=0.17Dif2min=0.31Di+0.79T，Di—封头齐边处焊缝内侧间的弦长，当拼缝经过封头的顶点时，为该封头的公称直径。第二十四页，共30页。第二十五页，共30页