SPC控制图应用指导书

1 (SPC)控制图应用指导书用于使(工序)过程保持稳定状态，预防不合格发生。2)负责对现场操作人员进行控制图作业的培训和指导。质量特性值⊙3倍的标准偏差3倍的标准偏差抽样时间或样本序号1)分析用控制图主要用于分析过程是否处于稳态，过程能力是否适宜。如果发生异22)控制(管理)用控制图不合格的发生。控制用控制图的控制线特点特点X图用于观察分布均值变X－R联合运用，用于观适用场合适用于产品批量较符号X－S适用于产品批量较X－S联合运用，用于观X－X－RX－S联合运用，用于观简便省事并能及时判断工序是否处于稳定状态。缺点是不易发现工序分布中简便省事并能及时判断工序是否处于稳定状态。缺点是不易发现工序分布中适宜于各种原因(时得到一个数据或希望尽快发现并消除异常因素的场合。分布的变化，但灵敏度低。名称名称特点控制图符号适用场合等。PPC用C单位缺陷数控制图单位缺陷数控制图2)控制：决定某过程何时需要调整，何时需要保持原有状态。33)确认：确认某一过程的改进。些特性应能够计算(或计数)并且在技术上可以控制。2)选定控制图的种类。3)收集数据：应收集近期的，与目前工序状态一致的数据。收集的数据个一般n=3~611/P~5/PC=1~5一般k=20~25一般k=20~25K=20~30一般k=20~25控制图名称X－R图X－R图X－S图4)计算有关参数各控制图有关参数的计算步骤及公式(见表3)Xi――按大小排列的第i个位置上的2nXi2――按大小排列的第i组n2X1nXji=nj=1R=max(Xi)-min(Xi)X1nXji=nj=1n(XiXi)2n1Xi=Xi(n为奇数)22XiX组的中位数XX－R图X－S图X－R图2组数据中第数据中第4P(pn)ii=1(Pn)iniUi=ni计算各种样本的单位缺陷数控制名称中心线(CL控制名称中心线(CL)(UCL与LCL)X图R图Ki=1X图R图Ki=1XKi=1X图Ki=1X图Ki=1XK≤2n时 ,k),控制界RS图Ki=1UCL=X+2.660RSLCL=X-2.660RSXXK1i=2X图X图Ki=1X－S图③A2,A3,D4,③A2,A3,D4,D3,m3A2,B4,B3查控制图Ki=1LCL＝B3SKPn图Ki=1i=1i=1i=1Ki=1Ki=1i=1i=1UCL＝U＋3niU图ULCL＝U－3ni5apap数数av3.2672.5742.2822.004系C-----0.0760.1360.1840.223Z2.0592.3262.2342.7042.8472.9703.0783.2672.5683.2662.089AC2.659.957----.030.185.239.284.796.691.549.509.432.412.363AZ.577.483.373.419.373.337.308nZCvg9L865)计算控制图中心线和上、下控制界限6)画控制图在坐标上作出纵、横坐标轴，纵坐标为产品质量特性，横坐标为样 7)在控制图上打点8)填写必要事项包括车间、小组名称，工作地点(机床、设备编号)的名称与编号，零件、工序的名称与编号，检验部位，控制技术要求与测量工具，操作分析用控制图上的点子同时满足以下条件时，可以认为生产过程处于统计1)点子随机地处于下列情况：62)控制界限内的点子排列无下述异常情况：a)链异常★如果有下列四种情况，则判定点子异常(如图3)b)趋势(倾向)或下降趋势时(或连续6点或更多的点具有上升或下降趋势时)，则c)周期点子的排列随时间的推移而呈周期性(或连续14点中相邻点上7点子处在警戒区内是指点子处在2δ~3δ(δ－标准差)范围若出现下列情况之一，则判定为异常(如图7)。区2δLCL当连续15格以上的点子集中在中心线附近时，则判为异常(此种8限线外或控制界限线上。2)控制界限线内的点子排列异常，见分析用控制图判断准则解释。1)规格界限(如公差的上下限、硬性规定的不合格品率)不能当作上下控2)P图(不合格品率控制图)中有点子溢出下控制限，或连续7点呈下降改进正。★可能有真正是不合格品率变小的因素，应积极寻找这种因素，并将。5.1均值和极差图(X－R图)应用实例1.1计算每一个子组的均值X和极差Rn的和3)求每个样本子组的均值X5)画在控制图上的特性量是每个子组的样本(X)和样本极差(R)，合.2控制图坐标值的选定：两个控制图的纵坐标分别用于X和R图的测量值。对于X图，坐标上坐标上的刻度值的最大值与最小值之差至少为子组均值(X)的最大值与最小值差初始阶段所遇到的最大极差(R)的2倍。9(R为平均极差)子组大小情况下，均值和极差的控制限将具有大约相同的宽度，给分析以直观(R为平均极差)5.1.1.3将均值(X)和极差(R)画到控制图上2)检查所有画上的点是否合理，确保计算和画图正确。4)对于还没有计算控制限(由于没有足够的数据)的初期操作控制图上，原因时子组的均值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反映在极差上子组内的变差的量1)计算平均极差R和过程均值X：kK(X为过程均值，为样本均值)2)计算控制限下控制限LRDRLCLRD3RUCL＝X＋A2XLCL＝X－A2XR5.1.2在控制图上做出平均值和极差控制限的控制线。5.1.2.1将平均极差(R)和过程均值(X)画成水平实线；5.1.2.2将各控制限(UCLR、LULR、UCLX、LCLX)，画成水平虚线；5.1.2.3把线标上记号，在初始研究阶段，这些被称为试验控制限。5.1.3重新计算控制限：在进行初始研究或重新评定过程能力时，识别和消除如果过程的零件间的变异性和过程均值保持在现有的水平(如分别通过 超越控制限。而且，数据中不会出现于与由于随机变化产生的图形有明显不同5.1.4.1分析极差图上的数据点(首先分析R图，并与X图进行比较)1)找出超出控制限的点，并采取纠正措施予以排除。。5.1.4.2识别并标注特殊原因程记录表，并作为改进的信息源。5.1.4.3重新计算控制限。2)这些控制限可用来继续对过程进行监视，操作人员或检验人员根据R(在极差受控时期)dnd2234.065.33只要过程和均值两者都处于统计受控状态，则可以用估计的过程标准偏差(6＝R/d2＝6R/d2)来评价过程能力。(过程能力用Z表示，是指按标准偏差为单位来描述的过程6/dR26/dR26R/d＝估计的过程标准偏差2R2R2式中：USL，LSL＝规格上限和下限(Z为负值说明过程均值XXLSLUSLX=Cpu(即36/dmin)或CPL(即)或CPL(即Cpk=)的最小值R2RR2ZCpk＝5.2X－R控制图案例(平均值和极差)1)确定样本容量和样本个数2)采集数据基本相系统性原因反映为零件号：SA120零件名称：轴X－R控制图数据表工序名称：车使用设备：C620-0作业者：张鹏测量者：李小龙测量工具：百分尺测量单位：0.01mm抽样时间抽样时间X序号123456R276382778920.0020.00X图CLX19.9574LCL=X－A2R=19.8897R图CL=R=0.036合计平均n4498.934A210.036系数d22.063.27244)计算各样本的平均值Xi填入表中。i5)计算总平均值XK6)计算各样本的极差Ri填入表中。样本极差的平均值R。KKi=18)计算控制界限22440.04n4456789101214161820222425n=4L789111315171921232510)判断生产过程是否处于统计受控状态11)计算过程能力指数Cmk值。式中：k===0.18Cp====1.33Cp====1.33d2.0592用控制线,,不必随时计算。需要分析用控制线计算出新的控制线.程标准偏差5.3P控制图案例(不合格品率)13066240793609.546.3500.36007.575064840496057056063108.8209.1408.3608.1307.0405180616077307.0406550514045051404006.04079计0据表。nmax＜2n和nmin＞n为宜。6.3011n＝＝241，2n=2241=482，n＝241＝120.52522：nmax＜2n，nmin＞n样本大小的均值n为代表值2)计算各样本的不合格品率pi。不合格品率pi用以下公式计算：ii第一个样本6 6 3)计算平均不合格品率p。式计算：i=1i=14)计算中心线和控制界限＝－0.4％(无意义)nLCL＝P－3LCL＝P－3＝2.77％－35)画出中心线和控制界限P＊＊4＊＊＊＊＊＊＊＊＊10246810121416182022246)描点。7)标注有关事宜，如日期、班组、制作人员等(本例省略)。8)判断控制图有无异常。5.4C控制图案例(缺陷数)样本号(铸造编号)样本号(铸造编号)123456789缺陷数(Ci)4658244536248缺陷数(Ci)563453754543(铸造编号)合计CCCC+....+C1K1Kii=1ii=1 12KK4+6+....+311525253)计算中心线和控制界线。中心线和控制界限用以下公式计算