CP测试简单介绍_第1页
CP测试简单介绍_第2页
CP测试简单介绍_第3页
CP测试简单介绍_第4页
CP测试简单介绍_第5页
已阅读5页，还剩2页未读， 继续免费阅读

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

CP测试简单介绍第一页，共7页。CP测试简介第二页，共7页。CP测试的意义和作用提高FTyield，降低封装成本。帮助foundry控制工艺。裸片测试。第三页，共7页。CP测试的工具proberATE探针Probecard固定在loadboard上面，一起装在ATE上面。装上loadboard后ATE的测试头翻转，如右图，然后扣在prober上面第四页，共7页。Probecard制作前的准备工作1.选ATE和prober。prober厂家TEL,TSK,EPSON国内装机比较多的是TEL-P8,P12,TSK-UF200,UF30002.同测数和芯片PAD的坐标数据。3.Loadboard和probecard制作厂家的选择。probecard的制作厂家

(1)日本厂家有JEM,MMS(旺杰芯),TCL

(2)美国厂家PROBERLOGIC,KNS,CASCADE,multitest

(3)台湾probeleader,上海菁成

(4)国产沈阳的圣仁,上海依然,江阴JCAP根据针的数目，PAD的尺寸和间距来选择合适的厂家，一般都能做到10um精度，但是5um以下的精度就要选择比较好的厂家。第五页，共7页。探针材质选择钨针：优点：成本低，硬度/抗疲劳性佳，寿命长。缺点：易沾粘异物或化学物质造成阻抗增加，且不适用高电流测试。铼钨针：优点：硬度/抗劳性佳，稳定度佳适合长时间测试。缺点：接触电阻成本较高。BeCu针：优点：接触电阻较不易沾粘异

人人文库> 全部分类> 教育资料 > 课件下载

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论