DPPM制程不良统计方法

DPPM製程不良統計方法3/13/20231主要內容DPPM概念介紹計數值與計量值統計方法定義及區別CPK與良率及sigma對應關係定宏採用之DPPM製程統計方法定宏製程DPPM統計目標定宏採用DPPM統計目的及改進措施3/13/20232

DPPM相關知識解釋DPPM:DefectPartPerMillion:百萬分之一不良品產品品質特性的記錄一般分成計數值或計量值，計數值又以計件或計點為記錄，計量值以實際量測之特性值計量值則以製程能力指數Cp、k（Ca）、Cpk為代表計數值一般以MIL-STD-105E之AQL來衡量,AQL在10以下時，可表計件的不良率或計點的缺點數，AQL在10以上時，則表計點的缺點數或每百件缺點3/13/20233計量值衡量標準:Cpk—製程能力指標

(1)Ca之計算方式如下(準確度)

實績平均值-規格中心值X-u Ca=----------------------------------*100%=--------------*100%

規格公差/2T/2 T=USL-LSL

=規格上限--規格下限規格公差6個估計實績標準差=T6σCp=

(雙邊規格)(單邊規格)或規格上限-實績平均值3個估計實績標準差=USL-X3σCp=實績平均值-規格下限3個估計實績標準差=X-LSL3σCp=Cpk=

(1─│Ca│)*Cp(2)Cp之計算方式:(精確度)(3)製程能力指數3/13/20234計量值品質統計衡量方式

Cpk&Sigma(中心點不偏移Cp=Cpk)3/13/20235計量值品質統計衡量方式Cpk&Sigma(中心點偏移1.5σ)3/13/20236計數值製程良率衡量指標製程良率（Yield）：一般以一製程之投入產品件數與該製程輸出良品的件數之比率。以上適用於電子零件、半導體等製程，其不良品無法修理而報廢者。裝配廠的製程，其不良品大致上都可以修理，修理好的產品，再回線測試，繼續裝配，如此要定義其良率應以各製程的初檢通過率（FirstTimeYield；FTY）較為合理。初檢通過率（FirstTimeYield；FTY）:一製程投入產品件數與第一次檢驗就通過之件數之比率。

全製程之直通率（RolledThroughoutYield）:定義為全製程的投入產品件數與通過全製程無缺點產品件數之比率，不過在製程上要準確計算比較困難，一般以各製程的良率相乘

3/13/20237檢點數與良率的關係

一.檢點數與良率的關係(中心不偏移目標值)

檢點數ｎ3σ4σ5σ6σ199.73%99.9937%99.999943%99.9999998%299.6499.9999.999999.99999398.6699.9799.999799.999991097.3399.9499.999499.999995087.3699.6999.99799.9999910076.3199.7399.99499.9999850025.8896.9099.9799.9999010006.7093.8999.9499.99983/13/20238檢點數與良率的關係二.檢點數與良率的關係(中心偏移目標值1.5σ)檢點數ｎ3σ4σ5σ6σ193.32%99.797%99.9767%99.99966%287.0998.7699.9599.99932370.7796.9399.8899.99831050.0993.9699.7799.9966503.1573.2498.8499.981000.1053.6497.7099.9665000.004.4489.0299.8310000.000.2079.2499.663/13/20239計數值計點的品質

1.一般資訊電子產品只要有一個缺點就應視為不良品，但是一個不良品可能有一個以上的缺點，因此以平均每件幾個缺點較能完全表示品質，以dpu

（DefectsPerUnit）為單位2.一般不同產品的每件檢點數不同，檢點數愈多，dpu就可能愈大，以dpu的大小來比較產品品質的好壞似乎不太合理，因此用總檢點數與總缺點數之比來比較品質會客觀一點；以dppm（DefectPartsPerMillion）為單位.dpu是代表每件產品平均有幾個缺點，而dppm是每檢查一百萬的檢點平均有幾個缺點。3/13/202310定宏光電將採用統計方法針對每一Process(或站別)列出檢點數如附表總檢點數=抽樣件數*檢點數/件依每一站別IPQC抽檢不良點數作為統計Dpu製程DPPM=抽檢出不良總點數與整個製程總檢點數比值

各工站(Process)製程良率=產出數/投入數

全製程直通率=各工站(Process)製程良率相乘以上可以整體反映產線狀況,但有時有來料不良,這樣對產線製程管控似乎不太公平,故類似上述做法,引出以下概念

I.產線DPPM=(抽檢出不良總點數-來料不良總點數)/整個製程總檢點數

II.各工站(Process)產線良率=產出數/(投入數-來料不良數)III.整體產線直通率=各工站(Process)產線良率相乘3/13/202311定宏製程不良DPPM品質目標

季度Q1Q2Q3Q42005品質目標DPPM5000300020001000

500一.Backlight組裝線製程不良DPPM品質目標季度Q1Q2Q3Q42005品質目標DPPM300020001000800

400二.Lampassembly&Invertr組裝線製程不良DPPM品質目標3/13/2023123/13/2023133/13/202314定宏採用DPPM統計目的及