标准解读

《YS/T 630-2007 氧化铝化学分析方法 氧化铝杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》是一项国家标准,旨在提供一种使用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)技术来测定氧化铝中多种杂质元素含量的方法。该标准适用于纯度较高的氧化铝样品中的微量到痕量级别的杂质检测。

标准详细规定了从样品准备到最终结果报告的整个分析流程。首先,在样品制备阶段,需要将待测的氧化铝试样溶解于适当的溶剂中,形成均匀可分析的溶液。这一过程中可能涉及到酸性或碱性介质的选择以及加热处理等步骤,以确保所有目标杂质都能完全进入溶液状态而不发生损失或污染。

接着是仪器条件设置部分,包括选择合适的波长、优化功率输出以及其他参数调整,以便获得最佳信噪比和线性响应范围。此外,还需通过校准曲线建立浓度与信号强度之间的关系,通常会采用一系列已知浓度的标准溶液来进行此操作。

在实际测量时,按照设定好的程序依次对空白对照、标准系列及样品溶液进行扫描,并记录下各元素特征谱线处的强度值。之后利用软件自动计算或手动查表方式得出未知样品中相应杂质的具体浓度。

最后一步为数据处理与结果表示,要求根据实验重复性误差确定有效数字位数,并以质量分数的形式给出每种被测杂质在原始固体样品中的含量。同时,对于超出方法检出限的结果应予以特别标注说明。

本标准还强调了质量控制的重要性,建议定期参与实验室间比对活动以及使用认证参考物质验证方法准确性,从而保证长期稳定可靠的测试能力。


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  • 已被新标准代替,建议下载现行标准YS/T 630-2016
  • 2007-04-13 颁布
  • 2007-10-01 实施
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ICS71.100.10Y5H12中华人民共和国有色金属行业标准YS/T630—2007氧化铝化学分析方法氧化铝杂质含量的测定电感合等离子体原子发射光谱法Chemicalanalysismethodsofalumina-DeterminationofimpuritiesinaluminaInductivelycoupledplasmaatomicemissionnspectrometricmethod2007-04-13发布2007-10-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布

YS/T630—2007前本标准附录A为资料性附录本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口本标准由中国铝业股份有限公司河南分公司负责起草本标准由广州有色金属研究院、中国铝业股份有限公司郑州轻金属研究院参加起草。本标准主要起草人:吴钢、全玉、黄健、梁倩、魏明献、董良、王振萍、王攀.本标准主要验证人:熊晓燕、李跃平。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。

YS/T630—2007氧化铝化学分析方法氧化铝杂质含量的测定电感合等离子体原子发射光谱法1范围本标准规定了氧化铝中二氧化硅、三氧化二铁、氧化钠、氧化钾、氧化铜、氧化镁、氧化钙、三氧化二格、五氧化二钒、氧化锌、二氧化钛、氧化锰、三氧化二家含量的测定方法。本标准适用于氧化铝中二氧化硅、三氧化二铁、氧化钠、氧化钾、氧化铜、氧化镁、氧化钙、三氧化二络、五氧化二钒、氧化锌、二氧化钛、氧化锰、三氧化二镖含量的测定。测定范围见表1.表1杂质测定范明/%杂质测定范围/%二氧化硅0.005~0.30三氧化二铭0.0003~0.10三氧化二铁五氧化二机0.005~0.300.0002~0.10氧化钠0.01~1.30氧化锌0.0004~0.10氧化钾0.004~0.30二氧化钛0.0005~0.10氧化铜0.0005~0.10氧化锰0.0003~0.10氧化铁0.0005~0.10三氧化二惊0.001~0.10氧化钙0.005~0.302规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勒误的内容)或修订版均不适用于本标准.然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T602-2002化学试剂杂质测定用标准溶液的制备(ISO6353-1:1982NEQ)方法原理在微波消解系统作用下.试料以硫酸高温高压消解,试液引入氩气等离子体中.在选定的最佳操作条件下,用电感帮合等离子光谱仪测定,以基体匹配法校正基体对测定的影响4试剂氩气(二99.99%)4.2硫酸(1十2):优级纯4.3硫酸(1十1):优级纯4.4高纯铝(>99.999%)。4.5铝基体溶液(20mg/mL):称取5.2873g高纯铝(4.4)于1000mL烧杯中,加入400mL.硫酸(4.3).将烧杯置于电炉上缓慢加热至溶解完全.冷却.将溶液移入500mL容量瓶中.用水稀释至刻度.混勺,置于聚乙烯瓶中存。此溶液

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