标准解读
《YS/T 581.18-2012 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第18部分:X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量》是针对氟化铝中元素含量测定的一项标准。该标准规定了使用X射线荧光光谱分析技术通过压片法制备样品来测定氟化铝中的主要及次要元素含量的方法。适用于工业生产过程中对氟化铝产品质量控制以及科学研究领域。
根据此标准,首先需要将待测样品与适当的稀释剂混合均匀后,在一定压力下压制成为具有一定厚度和平整度的圆形薄片,即为“压片”。这种制样方式能够确保样品表面平整一致,有利于提高测量结果的准确性和重复性。
在进行X射线荧光光谱分析时,需按照仪器操作手册设置好参数,并选择合适的标准物质建立校准曲线。通过对已知浓度的标准样品进行测试,可以得到各元素特征X射线强度与其浓度之间的关系曲线。利用这条曲线就可以计算出未知样品中相应元素的实际含量。
此外,标准还详细描述了实验所需的各种条件,包括但不限于样品预处理、仪器设备的选择与调试、数据处理方法等,旨在提供一套完整且可操作性强的技术指南,以保证不同实验室之间结果的一致性和可靠性。同时,对于可能影响最终结果的因素也给出了相应的控制措施或建议,如如何避免污染、怎样保证样品代表性等。
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....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2012-12-28 颁布
- 2013-06-01 实施



文档简介
ICS7110010
H61..
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/T58118—2012
.
氟化铝化学分析方法和物理
性能测定方法
第18部分X射线荧光光谱分析
:
压片法测定元素含量
()
ChemicalanalysismethodsandphysicalpropertiesofAluminumFluoride—
Part18X-rafluorescencesectrometricmethodforthedeterminationof
:yp
elementscontentusingpressedpowdertablets
2012-12-28发布2013-06-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布
YS/T58118—2012
.
前言
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法共分为部分
YS/T581《》18:
第部分重量法测定湿存水含量
———1:;
第部分烧减量的测定
———2:;
第部分氟含量的测定
———3:;
第部分容量法测定铝含量
———4:EDTA;
第部分火焰原子吸收光谱法测定钠含量
———5:;
第部分钼蓝分光光度法测定二氧化硅含量
———6:;
第部分邻二氮杂菲分光光度法测定三氧化二铁含量
———7:;
第部分硫酸钡重量法测定硫酸根含量
———8:;
第部分钼蓝分光光度法测定五氧化二磷含量
———9:;
第部分射线荧光光谱分析法测定硫含量
———10:X;
第部分试样的制备和贮存
———11:;
第部分粒度分布的测定筛分法
———12:;
第部分安息角的测定
———13:;
第部分松装密度的测定
———14:;
第部分游离氧化铝含量的测定
———15:;
第部分射线荧光光谱分析法测定元素含量
———16:X;
第部分流动性的测定
———17:;
第部分射线荧光光谱分析压片法测定元素含量
———18:X()。
本部分为的第部分
YS/T58118。
本部分按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口
(SAC/TC243)。
本部分起草单位多氟多化工股份有限公司中国铝业股份有限公司河南分公司新疆众和股份有
:、、
限公司
。
本部分主要起草人薛旭金叶文豪施秀华王建萍司腾飞王晓雯孙洪斌聂爱红周维
:、、、、、、、、、
肖丽梅戴珍珍
、。
Ⅰ
YS/T58118—2012
.
氟化铝化学分析方法和物理
性能测定方法
第18部分X射线荧光光谱分析
:
压片法测定元素含量
()
1范围
的本部分规定了射线荧光光谱分析压片法测定氟化铝中氟铝钠硅铁硫磷
YS/T581X()、、、、、、
分别以2-表示等元素的方法
(F、Al、Na、SiO2、Fe2O3、SO4、P2O5)。
本部分适用于氟化铝中氟铝钠硅铁硫磷等元素的测定测定范围见表
、、、、、、。1。
表1
组分测定范围组分测量范围
/%/%
F57~66Fe2O30.010~0.130
2-
Al30~35SO40.07~0.80
Na0.042~0.120P2O50.0019~0.1500
SiO20.008~0.400——
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法第部分试样的制备和贮存
YS/T581.11—200611
3方法原理
按一定比例将试料和分散剂混合研磨然后加压制成样片用射线荧光光谱仪进行测量根
、,。X。
据标准样片中各元素强度的校准曲线计算出试样中各元素的含量
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