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第五节典型的双光束干涉系统及其应用一、典型干涉系统1、斐索(

Fizeau)干涉仪：等厚干涉型的干涉仪L3GL2PQL1激光平面干涉仪aHHe-NeDhR1R2PQ2、球面干涉仪球面干涉仪PLQ基本特点：（1）属于等厚干涉重点掌握：（1）光程差与厚度的关系。（2）厚度变化与条纹弯曲方向的关系。（3）干涉面间距变化与条纹移动的关系。条纹分析：（2）干涉光束，一个来自标准反射面，一个来自被测面。2、迈克尔逊干涉仪(TheMichelsoninterferometer）图12-25特点：M1和M2垂直时是等倾干涉，否则为等厚干涉。掌握：（1）系统结构，（2）M1或M2垂直于光线移动时对条纹的影响。ExtendedsourceBeamsplitterReflectivecoatingMirrorCompensatingplate迈克耳干涉仪补偿玻璃板半透明镀银层M1固定M2可移动NNM1固定

M2可移动迈克耳逊干涉仪的等倾条纹M2M1M2M1M2M1M2M1与重合M1M2M2M1M2M1M2M1M2M1M2M1迈克耳逊干涉仪的等厚条纹设M1与M2’之间的空气层厚度为d讨论：M1和M2严格垂直:空气薄膜干涉----圆环M2平移：----干涉条纹移动数目M1和M2不严格垂直：空气劈干涉M2移动/2，则有一条纹移过二.应用已知某光波波长，数出n，则可测长度d数出n和读出d，可测光波波长3、泰曼干涉仪（Twymaninterferometer）特点：在迈克尔逊干涉仪的一个光路中加入了被测光学器件ContourlinesFringesofequalthickness等厚干涉条纹密,波面弯曲大,条纹疏,波面弯曲小1、数字波面干涉术目的：产生移动的干涉条纹，用光电器件探测条纹的变化。基本原理：利用光学拍频中干涉条纹强度随时间变化的性质。外差干涉原理频率偏移器ABPtI(x,y,t)条纹是随时间变化的量。需测量的相位信息。ABtITt光学相位差2、傅里叶变换光谱仪原理：利用光源的相干长度对条纹可见度的影响，测量光源的光谱分布。相干长度：光谱宽度为Dl的光源能够产生干涉的最大光程差设：I0(k)为随波数而变化的谱密度函数，整个光谱分布在（-，+）之间，为两光路的光程差。则：特点:光能的利用效率高,在有相同分辨本领情况下,光能高两个数量级通过移动M2，改变D获得W(D)，再通过反傅里叶变换计算出I0(k)。W(D)DI(l

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