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文档简介
第九章
石英微谐振器在非致冷红外成像阵列的应用目录1:引言2:用作红外传感器的石英微谐振器3:石英温度计及它们的温度系数4:振荡器的噪声5:频率测量6:热隔离7:微谐振器的红外吸收8:微谐振器阵列的预期性能9:可产性和其他一些要求10:总结和讨论一:引言石英晶体可以作为稳定的机械谐振器通过热电体性质和高Q值来决定振荡电路产生的频率。一个石英晶体在厚度模式下的振动频率
等式中的每一项都与温度有关。但是,在一定截面角下,Cij消除了等式中其它项的温度系数。在一定角度下,有可能获得陡峭且单调的温度—频率特性,从而用作热辐射计和红外(IR)探测器。石英常用且具有良好特性的截面有这些:AT截面,BT截面,SC截面,AC截面等等
二:用作红外传感器的石英微谐振器任何热探测器的性能主要由以下决定:1:稳态响应:
是从热量源中吸收的能量,是由增加的温度,是敏感元件到一个热量散热器之间的热传递系数。
2:探测器的噪声相对于T产生的信号,它会限制T的最小探测能力。3:探测元的时间常数
C是探测元件的热容
三:石英温度计及其温度系数微型谐振体可由不同的铁电体材料制备:
例如:1:石英
2:氧化锌3:砷化镓很久以前人们就了解了石英谐振器的温度敏感性(Heising,1946)
石英温度计的优点:可以在很宽的温度范围内具有百万量级的绝对精度和10-6度的分辨能力。
石英谐振器的频率的倒数是随温度单调变化的,其斜率为10-4/K。由于晶体振荡器具有低噪声性能:1/f噪声会限制对温度变化的分辨率,如在10MHz下的低噪声为10-12或更小。因此这种谐振器的噪声相对于温度起伏10纳度或更小
四:振荡器的噪声用AT或SC截面谐振器制作的具有目前水平的振荡器,它的噪声最低值:称作阿伦偏移最低值。
是以Hz为单位的谐振频率。
1:在400到900MHz的表面声波(SAW)谐振器中:噪声最低值是到之间(Montress和Parker,1994)2:而100MHz下的第三个谐波和160MHz下的第五个谐波BAW(SC截面)的谐振器中:对应噪声最低值为到(Driscoll和Hanson,1993)。微型谐振器传感器的噪声会受到的影响:1:尺寸效应2:污染物的吸附和反吸附
厚度小于2um的微型谐振器中的噪声:主要噪声是温度变化引起的噪声;它是由热量传递时量子本身的特性引起的;也就是说在热量交换时伴随着光子和声子的发射和吸收。由该噪声引起的平均温度起伏:这种温度变化噪声本身也是一种频率噪声,通过微谐振器的温度系数,该噪声附加到其它振荡器的噪声源上。五:频率测量在一个普通的晶体振荡器中,可以以多快速度测量频率是由谐振器的噪声特性函数确定的。最短测量时间是在无损分辨率的情况下用于频率测量。
它是曲线上的弯曲点对应的值;也就是说,它是噪声最低值较低的的极限值。在这个极限值下,其它的噪声源,如白噪声或Johnson噪声就开始超出频率噪声的闪烁点,致使随着降低而上升。
例子1:对于一个500MHz的SAW谐振振荡器,当用一个40MHz的高频截止频率fc来测量时,曲线拐点为10-3秒
2:在同样下,一个500MHz的微型谐振器的拐点处的与前面相同,如果使用40KHz的fc,将会使降至300微秒
在不增加噪声的情况下,是否能降低到30毫秒取决于谐振频率、驱动水平和测量的空载时间。
在设计一个扫描式阵列时,需要综合平衡考虑每个子阵列在驱动信号下的谐振器数目以及噪声等效温差(NETD)。在子阵列中谐振器的数目越多,在给定的驱动水平下的NETD值越高。六:热隔离在设计一个微谐振器阵列时,在G和C之间的取值上的考虑:
1:要使红外探测器对给定的红外源有最大响应,应该使敏感元件到散热器之间的热传导G最低。()2:但是在给定的电容C下将G降至最低会使最大。()3:减小C会使减小,但会增加温度起伏噪声
微谐振器热隔离的方式:
1:将微谐振器悬浮在真空中,并与电极的激励源结合。
2:在微谐振器的腐蚀期间获得所需的热隔离效果。3:用自由排列的薄膜条状的机械支撑。
我们可以制作一个又薄又窄的桥或又薄又窄的环形围住谐振器,环行由桥与谐振器相连(并且对多重环是互相连接)。
也可以做成圆形的谐振器如下图
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七:微谐振器的红外吸收在谐振器上沉积红外吸收层可以提高整体的红外吸收能力
怎样获得高的吸收率:1:利用宽吸收范围的红外吸收膜让膜层的面阻值(188Ω)占自由空间阻抗(377Ω)的一半,能吸收50%的红外辐射(Hadley和Dennison,1947)。25%被反射,25%被透射。
2:建立多个红外吸收通道。
例如:在谐振器的背面加上一层红外反射膜层。3:将密封层作成一个谐振的光学腔。一个三层的吸收材料的组成:第一层:金属膜(377Ω)第二层:介质层第三层:红外反射层为了获得良好的谐振器性能,需要获得更多的能量。1:沉积红外吸收膜2:在谐振区外镀上附加的吸收层。要同时获得足够的红外能量俘获,并得到高的红外吸收系数,对设计和制备就会有更高的要求。八:微谐振器阵列的预期性能
扫描型阵列和凝视型阵列工作的微谐振器的性能的不同:1:扫描型阵列,微谐振器受到周期性激励,也就是说在两次测量之间存在延迟时间。
2:凝视型阵列,所有的微谐振器受到激励,并进行连续测量。下图给出了在两个条件下的NETD与微谐振器频率的函数关系。
(a):扫描性阵列(b):凝视型阵列NETD与微谐振器频率的函数关系:在r=1下,对600MHz的微谐振器阵列的噪声等效温差(NETD)与G(和)的函数关系
240×336象素的阵列分别在100MHz、200MHz、600MHz、1.0GHz、1.4GHz及1.8GHz的典型参数值比较:—————————————————————————————————频率 NETD(K)(MHz) ————————— 圆片尺寸桥长 r=1000r=1 (cm×cm)(um)—————————————————————————————————100
0.0110.0047——1.3200 0.0120.0050—— 2.76000.0130.00596.4*9.08.110000.0140.00683.9*3.013.614000.0150.00762.8*3.919.418000.0160.00832.2*3.025.3—————————————————————————————————各种非致冷红外成像阵列的比较:1:硅微辐射计阵列
(NETD=0.04K)2:铁电体辐射计阵列(NETD=0.05K)3:低温冷却红外成像阵列碲镉汞、锑化铟、硅化铂和砷化镓/砷化镓铝(NETD=0.01K)
九:可生产性和其它一些要求用现存的技术是可以生产小
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