标准解读

《JJF 1250-2010 激光测径仪校准规范》是由中国国家质量监督检验检疫总局发布的,用于指导激光测径仪的校准工作。该标准规定了激光测径仪的主要技术要求、校准条件、校准项目及方法等内容,适用于新制造、使用中以及修理后的激光测径仪的校准。

根据文件内容,激光测径仪在进行校准时需满足一定的环境条件,比如温度应在(20±5)℃范围内,相对湿度不超过80%,且应避免强烈振动和电磁干扰的影响。此外,对于被校准仪器也有明确的要求,如测量范围、分辨率等参数需符合特定标准。

在校准过程中,首先需要对仪器进行外观检查,确保其无明显损伤或影响正常工作的缺陷;然后是功能检查,验证各项基本操作是否正常;接下来通过与已知尺寸的标准件对比来测定激光测径仪的示值误差及其重复性;同时还会测试设备的最大允许误差是否在可接受范围内。所有这些步骤都旨在确保激光测径仪能够准确可靠地完成测量任务。

标准还详细列出了不同类型激光测径仪的具体校准方法,并给出了数据处理的原则与方法。对于校准结果,文件要求必须按照规定的格式出具正式报告,包括但不限于被校准设备的信息、校准依据、所用标准器简介、校准日期、环境条件记录、校准结果分析等内容。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2010-05-11 颁布
  • 2010-08-11 实施
©正版授权
JJF 1250-2010激光测径仪校准规范_第1页
JJF 1250-2010激光测径仪校准规范_第2页
JJF 1250-2010激光测径仪校准规范_第3页
JJF 1250-2010激光测径仪校准规范_第4页
JJF 1250-2010激光测径仪校准规范_第5页
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文档简介

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1250—2010

激光测径仪校准规范

CalibrationSpecificationforLaserDiameterMeasuringGauges

2010-05-11发布2010-08-11实施

国家质量监督检验检疫总局发布

中华人民共和国

国家计量技术规范

激光测径仪校准规范

JJF1250—2010

国家质量监督检验检疫总局发布

*

中国质检出版社出版发行

北京市朝阳区和平里西街甲号

2(100013)

北京市西城区复外三里河北街号

16(100045)

网址

:

服务热线

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年月第版

201071

*

书号

:155026·J-2492

版权专有侵权必究

JJF1250—2010

激光测径仪校准规范췍췍

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LaserDiameterMeasuringGauges

本规范经国家质量监督检验检疫总局于年月日批准并自

2010511,

年月日起施行

2010811。

归口单位全国几何量工程参量计量技术委员会

:

起草单位工业和信息化部电子第五研究所

:

江苏省计量科学研究院

本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释

JJF1250—2010

本规范主要起草人

:

常青工业和信息化部电子第五研究所

()

王晓飞江苏省计量科学研究院

()

参加起草人

:

李升春工业和信息化部电子第五研究所

()

李江云工业和信息化部电子第五研究所

()

JJF1250—2010

目录

范围……………………

1(1)

引用文献………………

2(1)

概述……………………

3(1)

计量特性………………

4(2)

示值误差……………

4.1(2)

重复性………………

4.2(2)

稳定性………………

4.3(2)

自校准用标准规……………………

4.4(2)

校准条件………………

5(2)

环境条件……………

5.1(2)

校准用标准器及其他设备…………

5.2(2)

校准项目和校准方法…………………

6(3)

示值误差……………

6.1(3)

重复性………………

6.2(3)

稳定性………………

6.3(3)

自校准用标准规……………………

6.4(3)

校准结果的表达………………………

7(4)

复校时间间隔…………

8(4)

附录激光测径仪示值误差的测量结果不确定度评定……………

A(5)

附录自校准用标准规直径的测量结果不确定度评定……………

B(7)

附录校准证书内容…………………

C(10)

JJF1250—2010

激光测径仪校准规范

1范围

本规范适用于测量范围上限至的激光测径仪的校准

30mm。

2引用文献

本规范引用下列文献

:

通用计量术语及定义

JJF1001—1998

测量不确定度评定与表示

JJF1059—1999

使用本规范时应注意使用上述引用文献的现行有效版本

,。

3概述

激光测径仪是利用激光扫描光束测量物体几何尺寸的非接触快速测量仪器它采用

半导体激光器为光源由激光器发出的光束通过多面体扫描转镜和一组光学透镜后形

,,

成与光轴平行的连续高速扫描光束对放置于测量区域的工件进行高速扫描并由激光

,,

接收器接收被阻挡的扫描光束时间通过已知激光扫描的速度计算获得被测工件的几

。,

何尺寸其测量原理见图

。1。

图激光测径仪测量原理

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