标准解读

GB/T 5095.2504-2021是关于电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法的标准之一,具体涵盖了第25-4部分:试验25D,即传输时延的测试。该标准旨在为电子设备中的机电元件提供一个统一的测试框架,确保这些组件在实际应用中能够满足特定的性能要求。

根据此标准,试验20D专注于评估信号通过被测设备或系统时所经历的时间延迟,这对于保证高速数据通信系统的效率和可靠性至关重要。它定义了如何设置测试环境、选择合适的测试信号以及记录和分析结果的方法。此外,还详细说明了对于不同类型接口(如串行与并行接口)可能需要采取的不同测试策略。

标准中强调了使用精确且可重复的方式来进行测量的重要性,包括但不限于对测试仪器精度的要求、环境条件控制(例如温度、湿度)、以及为了获得准确结果而必须遵循的具体步骤。通过遵循这些指导原则,制造商和服务提供商可以确保其产品符合行业内广泛接受的质量标准,从而提高终端用户满意度并促进技术创新与发展。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2021-03-09 颁布
  • 2021-10-01 实施
©正版授权
GB/T 5095.2504-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-4部分:试验25d:传输时延_第1页
GB/T 5095.2504-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-4部分:试验25d:传输时延_第2页
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GB/T 5095.2504-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-4部分:试验25d:传输时延-免费下载试读页

文档简介

ICS3122010

L23..

中华人民共和国国家标准

GB/T50952504—2021/IEC60512-25-42001

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-4部分试验25d传输时延

::

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-4Test25dProaationdela

::pgy

(IEC60512-25-4:2001,Connectorsforelectronicequipment—Testsand

measurements—Part25-4:Test25d:Propagationdelay,IDT)

2021-03-09发布2021-10-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T50952504—2021/IEC60512-25-42001

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

总则

1………………………1

范围和目的

1.1…………………………1

术语和定义

1.2…………………………1

试验设施

2…………………1

设备

2.1…………………1

装置

2.2…………………1

试验样品

3…………………2

说明

3.1…………………2

试验程序

4…………………3

探头法

4.1………………3

插入法

4.2………………3

标准装置法

4.3…………………………3

相关标准应规定的细则

5…………………3

试验记录文件

6……………4

附录规范性附录装置和设备示意图

A()………………6

附录资料性附录实用指南

B()…………9

GB/T50952504—2021/IEC60512-25-42001

.:

前言

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法按试验方法分为若干部分

GB/T5095《》。

的第部分为信号完整性试验已经发布或计划发布的部分如下

GB/T509525,:

第部分试验串扰比

———25-1:25a:;

第部分试验衰减插入损耗

———25-2:25b:();

第部分试验上升时间衰减

———25-3:25c:;

第部分试验传输时延

———25-4:25d:;

第部分试验回波损耗

———25-5:25e:;

第部分试验眼图和抖动

———25-6:25f:;

第部分试验阻抗反射系数和电压驻波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信号完整性试验试验外来串扰

———25-9:25i:。

本部分为的第部分

GB/T509525-4。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻译法等同采用电子设备用连接器试验和测量第部

IEC60512-25-4:2001《25-4

分试验传输时延

:25d:》。

本部分做了下列编辑性修改

:

标准名称由电子设备用连接器试验和测量第部分试验传输时延修改为电

———《25-4:25d:》《

子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第部分试验传输时延

25-4:25d:》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口

(SAC/TC166)。

本部分起草单位四川华丰企业集团有限公司中国电子技术标准化研究院

:、。

本部分主要起草人庞斌朱茗肖淼刘俊汪其龙

:、、、、。

GB/T50952504—2021/IEC60512-25-42001

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-4部分试验25d传输时延

::

1总则

11范围和目的

.

的本部分适用于电连接器插座电缆组件或互连系统

GB/T5095、、。

本部分描述了测量数字信号从一个规定地点传送至第二个规定地点所需时间的方法

12术语和定义

.

下列术语和定义适用于本文件

121

..

测量系统上升时间measurementsystemrisetime

安装就位无样品并具有滤波或归一化作用的装置测量的上升时间通常测量的是

,()。,10%~

电平的上升时间见图

90%(1)。

122

..

样品环境阻抗specimenenvironmentimpedance

由装置在样品信号导线上引起的阻抗该阻抗是由传输线路终端电阻附装的接收器或信号源以

。、、

及装置的寄生效应产生的

123

..

传输时延propagationdelay

信号在互连系统的两个规定地点之间传送所需的时间见图

(2)。

2试验设施

21设备

.

211脉冲发生器和示波器时域反射计或具有测量系统上升时间小于或等于测量传输时延的

..

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