标准解读

《GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)》这一标准是针对电子设备中使用的机电元件,在特定条件下进行衰减或插入损耗测试时所应遵循的试验方法与测量程序。该文件详细规定了如何通过实验来评估机电元件在信号传输过程中对信号强度的影响程度,即插入损耗。

标准中首先明确了适用范围,指出其适用于所有类型的机电开关、连接器以及其他相关组件,并且强调了对于那些需要精确控制信号损失的应用场合尤为重要。接着,定义了关键术语如“插入损耗”,它是指当信号通过某个元件后,输出端信号功率相对于输入端信号功率减少的比例,通常以分贝(dB)为单位表示。

在具体操作指南方面,《GB/T 5095.2502-2021》描述了一系列步骤来确保测试结果的一致性和准确性。这些步骤包括但不限于准备阶段所需的各种仪器设置要求;测试环境条件(温度、湿度等)的规定;以及实际执行过程中的注意事项。例如,在开始正式测量之前,需先校准所有使用的测量设备至制造商推荐的状态;选择合适的频率范围作为测试点;记录下每个频率点上测得的数据值等。

此外,还特别指出了关于数据处理和报告编写的要求。根据获取到的结果,计算出平均插入损耗值,并按照指定格式生成完整的测试报告。这不仅有助于内部质量控制,也是向客户提供产品性能证明的重要依据之一。

整个标准旨在提供一套统一而科学的方法论体系,以便于行业内各组织和个人能够基于相同基准开展工作,从而促进技术交流与合作,提高产品质量水平。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2021-03-09 颁布
  • 2021-10-01 实施
©正版授权
GB/T 5095.2502-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)_第1页
GB/T 5095.2502-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)_第2页
GB/T 5095.2502-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)_第3页
GB/T 5095.2502-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)_第4页

文档简介

ICS3122010

L23..

中华人民共和国国家标准

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-2部分试验25b衰减插入损耗

::()

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-2Test25bAttenuationinsertionloss

::()

[IEC60512-25-2:2002,Connectorsforelectronicequipment—Testsand

measurements—Part25-2:Test25b:Attenuation(insertionloss),IDT]

2021-03-09发布2021-10-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

总则

1………………………1

范围和目的

1.1…………………………1

术语和定义

1.2…………………………1

试验设施

2…………………1

设备

2.1…………………1

装置

2.2…………………1

试验样品

3…………………2

说明

3.1…………………2

试验程序

4…………………2

装置衰减

4.1……………3

样品衰减测量

4.2………………………3

阻抗分析仪开路短路法

4.3(/)…………4

追加测量

4.4……………4

时域法

4.5………………4

相关标准应规定的细则

5…………………5

试验记录文件

6……………5

附录规范性附录装置和设备的示意图

A()……………6

附录资料性附录实用指南

B()…………10

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

前言

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法按试验方法分为若干部分

GB/T5095《》。

的第部分为信号完整性试验已经发布或计划发布的部分如下

GB/T509525,:

第部分试验串扰比

———25-1:25a:;

第部分试验衰减插入损耗

———25-2:25b:();

第部分试验上升时间衰减

———25-3:25c:;

第部分试验传输时延

———25-4:25d:;

第部分试验回波损耗

———25-5:25e:;

第部分试验眼图和抖动

———25-6:25f:;

第部分试验阻抗反射系数和电压驻波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信号完整性试验试验外来串扰

———25-9:25i:。

本部分为的第部分

GB/T509525-2。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻译法等同采用电子设备用连接器试验和测量第部

IEC60512-25-2:2002《25-2

分试验衰减插入损耗

:25b:()》。

本部分做了下列编辑性修改

:

标准名称由电子设备用连接器试验和测量第部分试验衰减插入损耗修

———《25-2:25b:()》

改为电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第部分试验衰减插入损

《25-2:25b:(

)》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口

(SAC/TC166)。

本部分起草单位四川华丰企业集团有限公司中国电子技术标准化研究院

:、。

本部分主要起草人庞斌朱茗肖淼刘俊汪其龙

:、、、、。

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-2部分试验25b衰减插入损耗

::()

1总则

11范围和目的

.

的本部分适用于电连接器插座电缆组件或互连系统

GB/T5095、、。

本部分描述了测量作为频率函数的衰减插入损耗的频域法和时域法

/。

注本文件从始至终引用了衰减一词当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结

:“”。

果时必须使用合适的术语衰减或插入损耗

,()。

12术语和定义

.

下列术语和定义适用于本文件

121

..

衰减attenuation

在样品从输入到输出的传输过程中功率的减少通常测量值以分贝为单位

。,(dB)。

122

..

插入损耗insertionloss

由于连接器或类似器件插入传输线中所产生的功率损耗通常测量值以分贝为单位

。,(dB)。

123

..

样品环境阻抗specimenenvironmentimpedance

由装置在样品信号线上引起的阻抗该阻抗是由传输线路终端电阻附装的接收器或信号源以及

,、、

装置的寄生效应产生的

2试验设施

21设备

.

211频域

..

优先选用网络分析仪当要求较大频率范围时可采用信号发生器和频谱分析仪或矢量网络分

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