标准解读

《GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法》相较于《GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》,在内容上进行了多方面的更新和改进。新版本的标准更加注重与国际标准接轨,同时结合了近年来半导体技术的发展趋势,对测试条件、测试项目以及测试方法等做了更详细的规范。

具体来看,《GB/T 4377-2018》增加了对于不同工作模式下电压调整器性能参数的测试要求,比如静态电流、负载调节能力等方面的测试变得更加严格;此外,还引入了更多关于环境因素影响下的稳定性测试,包括温度变化、湿度等因素对器件性能的影响评估;另外,新版标准中还特别强调了安全性方面的考量,在原有基础上增加了短路保护功能的验证等内容;同时,为了保证测试结果的一致性和可比性,《GB/T 4377-2018》也对测试设备的技术指标提出了更高的要求,并且给出了更为详尽的操作指南来指导实际测试过程。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2018-03-15 颁布
  • 2018-08-01 实施
©正版授权
GB/T 4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法_第1页
GB/T 4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法_第2页
GB/T 4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法_第3页
GB/T 4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法_第4页
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文档简介

ICS31200

L56.

中华人民共和国国家标准

GB/T4377—2018

代替

GB/T4377—1996

半导体集成电路

电压调整器测试方法

Semiconductorintegratedcircuits—

Measuringmethodofvoltageregulators

2018-03-15发布2018-08-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T4377—2018

目次

前言

…………………………Ⅰ

范围

1………………………1

术语和定义

2………………1

总则

3………………………3

测试环境要求

3.1………………………3

测试注意事项

3.2………………………3

测试仪器和设备

3.3……………………3

参数测试

4…………………3

电压调整率S

4.1(V)……………………3

电流调整率S

4.2(I)……………………5

电源纹波抑制比S

4.3(rip)………………6

输出电压温度系数S

4.4(T)……………7

输出电压长期稳定性S

4.5(t)…………8

输出噪声电压V

4.6(NO)…………………9

耗散电流I和耗散电流变化I

4.7(D)(ΔD)……………10

短路电流I

4.8(OS)……………………11

输出阻抗Z

4.9(O)……………………12

基准电压V

4.10(REF)…………………13

启动时间t

4.11(S)……………………14

最小输入输出电压差V

4.12(DROP)……………………15

输入电压变化瞬态响应时间t和输入电压变化瞬态过冲电压V

4.13(1)[OM(VI)]…16

负载电流变化瞬态响应时间t和负载电流变化瞬态过冲电压V

4.14(2)[OM(IO)]…17

输出电流限制I

4.15(Limit)……………18

热关断温度T和滞回温度T

4.16(SHDN)(ΔSHDN)………19

输出电压V和输出电压偏差V

4.17(O)(ΔO)…………20

热调整率S

4.18(h)……………………21

GB/T4377—2018

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准代替半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理与

GB/T4377—1996《》,GB/T4377—

相比主要技术变化如下

1996,:

修改了电源纹波抑制比S输出噪声电压V耗散电流I和耗散电流变化I热调整率

———rip、NO、DΔD、

S项参数测试方法

h4;

删除了原标准中不适用于双端输入口器件一句

———“()”;

删除了原标准中启动电压范围V一项改由启动时间t来代替

———“OR”,“S”;

增加了启动时间t输出电流限制I热关断温度T和滞回温度T及输出电压V

———S、Limit、SHDNΔSHDNO

和输出电压偏差V项参数的测试方法

ΔO4。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出

本标准由全国半导体器件标准化技术委员会归口

(SAC/TC78)。

本标准起草单位圣邦微电子北京股份有限公司中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研

:()、

究所成都振芯科技股份有限公司北京宇翔电子有限公司

、、。

本标准主要起草人王鸿儒袁莹莹邹臣朱华张宝华张冰陈志培罗彬

:、、、、、、、。

GB/T4377—2018

半导体集成电路

电压调整器测试方法

1范围

本标准规定了电压调整器以下称为器件参数测试方法

()。

本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试

2术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

21

.

电压调整率voltageregulation

输出电压随输入电压变化而发生的变化率通常通过改变直流输入电压并测量相应的输出电压变

,

化来确定电压调整率

22

.

电流调整率currentregulation

输出电压随输出电流变化而发生的变化率通常通过改变直流输出电流并测量相应的直流输出电

,

压变化来确定电流调整率

23

.

电源纹波抑制比powersupplyrejectionratio

输入电源变化量与输出电压变化量的比值

24

.

输出电压温度系数outputvoltagetemperaturecoefficient

输出电压随环境温度变化而发生的变化率通常通过改变环境温度和记录相应的输出电压变化来

,

确定输出电压的温度系数

25

.

输出电压长期稳定性outputvoltagestability

输出电压随时间的变化率通过测试输出电压值随时间的变化来确定

,。

26

.

输出噪声电压outputvoltagenoise

器件本身在输出电压上产生的噪声

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