标准解读

《GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法》是一项国家标准，旨在为通信领域中使用的光电子器件提供一套系统化的可靠性测试方案。该标准适用于各类用于数据传输、信号处理等通信目的的光电子元件，如激光器、光电探测器、调制器等。

根据此标准，可靠性试验涵盖了多个方面，包括但不限于环境应力筛选、寿命评估、加速老化实验等。这些测试旨在模拟实际使用条件下可能遇到的各种情况，通过严格的条件设定来检测和验证光电子器件在长期运行中的稳定性和耐用性。

对于环境应力筛选而言，它通常涉及到温度循环、湿度变化等因素下的性能测试；而寿命评估则更多地关注于器件在持续工作状态下的表现，比如连续发光时间对激光器的影响；加速老化实验则是通过施加比正常使用更严苛的条件（例如更高的温度或更大的电流），以缩短试验周期的方式来预测产品在整个使用寿命期间的质量状况。

此外，《GB/T 33768-2017》还规定了详细的测试程序、所需设备及其规格要求，以及如何记录与分析实验结果等内容。这不仅有助于制造商确保其产品质量符合行业标准，也为采购方提供了评估不同供应商所提供光电子产品可靠性的依据。

该标准强调了测试过程中需要注意的安全措施，并指出所有操作都应在具备相应资格的专业人员指导下进行。同时，也鼓励相关企业和研究机构基于此框架不断探索更加先进有效的检测技术，推动整个行业的技术进步与发展。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-05-31 颁布
  • 2017-12-01 实施
©正版授权
GB/T 33768-2017通信用光电子器件可靠性试验方法_第1页
GB/T 33768-2017通信用光电子器件可靠性试验方法_第2页
GB/T 33768-2017通信用光电子器件可靠性试验方法_第3页
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文档简介

ICS3318020

M31..

中华人民共和国国家标准

GB/T33768—2017

通信用光电子器件可靠性试验方法

Reliabilitytestmethodforoptoelectronicdevicesusedintelecommunications

2017-05-31发布2017-12-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

中华人民共和国

国家标准

通信用光电子器件可靠性试验方法

GB/T33768—2017

*

中国标准出版社出版发行

北京市朝阳区和平里西街甲号

2(100029)

北京市西城区三里河北街号

16(100045)

网址

:

服务热线

:400-168-0010

年月第一版

20176

*

书号

:155066·1-56887

版权专有侵权必究

GB/T33768—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

一般要求

4…………………1

试验类型

4.1……………1

试验设备

4.2……………1

试验环境

4.3……………2

抽样方案

4.4……………2

试验报告

4.5……………2

详细要求

5…………………3

符合性试验

5.1…………………………3

光电特性

5.1.1………………………3

外形尺寸

5.1.2………………………4

外部目检

5.1.3………………………4

机械完整性试验

5.2……………………5

机械冲击

5.2.1………………………5

变频振动

5.2.2………………………6

热冲击

5.2.3…………………………7

光纤扭力

5.2.4………………………8

光纤侧向拉力

5.2.5…………………9

光纤拉力

5.2.6………………………9

引脚牢固性

5.2.7……………………10

连接器插拔耐久性

5.2.8……………11

受力传输

5.2.9………………………12

环境试验

5.3……………13

高温贮存

5.3.1………………………13

低温贮存

5.3.2………………………14

温度循环

5.3.3………………………14

恒定湿热

5.3.4………………………16

抗潮湿循环

5.3.5……………………16

高温寿命

5.3.6………………………18

物理特性试验

5.4………………………19

内部水汽含量

5.4.1…………………19

密封性

5.4.2…………………………20

阈值

5.4.3ESD………………………22

抗扰度

5.4.4ESD……………………24

Ⅰ

GB/T33768—2017

芯片剪切力

5.4.5……………………27

可焊性

5.4.6…………………………28

引线键合强度

5.4.7…………………30

可燃性

5.4.8…………………………31

参考文献

……………………34

Ⅱ

GB/T33768—2017

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本标准由工业和信息化部通信归口

()。

本标准起草单位武汉烽火科技集团有限公司中兴通讯股份有限公司中国信息通信研究院深圳

:、、、

新飞通光电子技术有限公司

。

本标准起草人赵先明宋梦洋江毅龚雪罗勇邓智芳杨春武成宾赵文玉陈悦

:、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T33768—2017

通信用光电子器件可靠性试验方法

1范围

本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的术语和定义一般要求详细要求包括试验的

、、,

目的设备条件程序检验及失效判据

、、、、。

本标准适用于通信用光电子器件其他领域的光电子器件也可参照使用

,。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

质量管理体系要求

GB/T19001

通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求

GB/T21194

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T21194。

31

.

光电子器件optoelectronicdevice

具有光电特性的元件

。

注包括但不限于激光二极管发光二极管光电二极管雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块统称光电

:

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