• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-05-12 颁布
  • 2017-12-01 实施
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文档简介

ICS19020

N04.

中华人民共和国国家标准

GB/T33714—2017

纳米技术纳米颗粒尺寸测量

原子力显微术

Nanotechnology—Testmethodforsizeofnanoparticles—Atomicforcemicroscopy

2017-05-12发布2017-12-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T33714—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

基本原理和模式

4…………………………1

仪器

5………………………2

测量样品的预处理

6………………………2

测量方法

7…………………3

测量结果

8…………………5

不确定度评定

9……………5

测量报告

10…………………5

附录资料性附录纳米颗粒的沉积方法

A()……………7

附录资料性附录纳米颗粒高度测量实例

B()…………10

附录资料性附录不确定度评定

C()……………………13

附录资料性附录推荐的测量报告格式

D()……………15

参考文献

……………………16

GB/T33714—2017

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中国科学院提出

本标准由全国纳米技术标准化技术委员会归口

(SAC/TC279)。

本标准起草单位国家纳米科学中心纳米技术及应用国家工程研究中心北京粉体技术协会

:、、。

本标准主要起草人朱晓阳杨延莲高洁何丹农朱君周素红张迎

:、、、、、、。

GB/T33714—2017

纳米技术纳米颗粒尺寸测量

原子力显微术

警告本标准并未指出所有可能的安全问题在应用本标准之前使用者有责任采取适当的安全和

:,,

健康措施并保证符合国家有关法规规定的条件

,。

1范围

本标准规定了用原子力显微术简称测量纳米颗粒高度来表征纳

(Atomicforcemicroscopy,AFM)

米颗粒尺寸的方法

本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

利用晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

GB/T27760Si(111)

纳米科技术语第部分核心术语

GB/T30544.1—20141:

表面化学分析术语第部分扫描探针显微术术语

ISO18115-22(Surfacechemical

analysis—Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning-probemicroscopy)

3术语和定义

和界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T27760、GB/T30544.1ISO18115-2。

31

.

团聚体agglomerate

弱束缚颗粒的堆积体聚集体或二者的混合体其外表面积与其单个颗粒的表面积的总和相近

、,。

注1支撑团聚体的作用力都是弱力如范德华力或简单的物理缠结

:,。

注2团聚体也被称为次级颗粒而源颗粒则被称为初级颗粒

:,。

注3利用成像技术如一般很难区分样品在沉积过程中形成的团聚即假象或事先存在的团聚体

:,AFM,()。

32

.

聚集体aggregate

强束缚或融合在一起的颗粒构成的新颗粒其外表面积可能小于其单个颗粒表面积的总和

,

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