标准解读
《GB/T 33714-2017 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术》是一项国家标准,主要针对使用原子力显微镜(AFM)进行纳米颗粒尺寸测量的方法进行了规范。该标准适用于各类固体纳米颗粒的尺寸测定,包括但不限于金属、陶瓷及聚合物等材料制成的纳米颗粒。
根据此标准,测量前需对样品进行适当的准备处理,确保其表面状态适合于AFM成像,并且能够准确反映颗粒的真实形态与尺寸。对于样品制备的具体要求包括清洁度、平整度等方面的规定,以保证后续测量结果的有效性和可靠性。
在选择合适的探针时,应考虑探针尖端半径、弹性系数等因素,以匹配不同类型的样品和实验需求。此外,还需注意扫描参数的选择,如扫描速度、力反馈设置等,这些都将直接影响到图像的质量以及最终的数据分析结果。
关于数据采集与处理部分,《GB/T 33714-2017》详细介绍了如何通过AFM获取高质量的二维或三维形貌图,并基于这些图像来计算出单个纳米颗粒或多颗颗粒聚集体的确切尺寸信息。其中包括了利用软件工具对原始数据进行校正、滤波等预处理步骤,以及采用不同的算法模型来进行精确测量的方法论指导。
最后,在报告编写方面,本标准也给出了明确指示,强调了记录所有相关实验条件的重要性,比如使用的仪器型号、具体操作流程、环境因素控制等,同时还建议附上代表性图片作为辅助说明材料,以便他人可以复现实验过程并验证所得结论。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2017-05-12 颁布
- 2017-12-01 实施
![GB/T 33714-2017纳米技术纳米颗粒尺寸测量原子力显微术_第1页](http://file4.renrendoc.com/view/a8982dcb76fbaec41bdb81b24f117e1b/a8982dcb76fbaec41bdb81b24f117e1b1.gif)
![GB/T 33714-2017纳米技术纳米颗粒尺寸测量原子力显微术_第2页](http://file4.renrendoc.com/view/a8982dcb76fbaec41bdb81b24f117e1b/a8982dcb76fbaec41bdb81b24f117e1b2.gif)
![GB/T 33714-2017纳米技术纳米颗粒尺寸测量原子力显微术_第3页](http://file4.renrendoc.com/view/a8982dcb76fbaec41bdb81b24f117e1b/a8982dcb76fbaec41bdb81b24f117e1b3.gif)
![GB/T 33714-2017纳米技术纳米颗粒尺寸测量原子力显微术_第4页](http://file4.renrendoc.com/view/a8982dcb76fbaec41bdb81b24f117e1b/a8982dcb76fbaec41bdb81b24f117e1b4.gif)
文档简介
ICS19020
N04.
中华人民共和国国家标准
GB/T33714—2017
纳米技术纳米颗粒尺寸测量
原子力显微术
Nanotechnology—Testmethodforsizeofnanoparticles—Atomicforcemicroscopy
2017-05-12发布2017-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T33714—2017
目次
前言
…………………………Ⅲ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
基本原理和模式
4…………………………1
仪器
5………………………2
测量样品的预处理
6………………………2
测量方法
7…………………3
测量结果
8…………………5
不确定度评定
9……………5
测量报告
10…………………5
附录资料性附录纳米颗粒的沉积方法
A()……………7
附录资料性附录纳米颗粒高度测量实例
B()…………10
附录资料性附录不确定度评定
C()……………………13
附录资料性附录推荐的测量报告格式
D()……………15
参考文献
……………………16
Ⅰ
GB/T33714—2017
前言
本标准按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任
。。
本标准由中国科学院提出
。
本标准由全国纳米技术标准化技术委员会归口
(SAC/TC279)。
本标准起草单位国家纳米科学中心纳米技术及应用国家工程研究中心北京粉体技术协会
:、、。
本标准主要起草人朱晓阳杨延莲高洁何丹农朱君周素红张迎
:、、、、、、。
Ⅲ
GB/T33714—2017
纳米技术纳米颗粒尺寸测量
原子力显微术
警告本标准并未指出所有可能的安全问题在应用本标准之前使用者有责任采取适当的安全和
:,,
健康措施并保证符合国家有关法规规定的条件
,。
1范围
本标准规定了用原子力显微术简称测量纳米颗粒高度来表征纳
(Atomicforcemicroscopy,AFM)
米颗粒尺寸的方法
。
本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量
。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
利用晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
GB/T27760Si(111)
纳米科技术语第部分核心术语
GB/T30544.1—20141:
表面化学分析术语第部分扫描探针显微术术语
ISO18115-22(Surfacechemical
analysis—Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning-probemicroscopy)
3术语和定义
和界定的以及下列术语和定义适用于本文件
GB/T27760、GB/T30544.1ISO18115-2。
31
.
团聚体agglomerate
弱束缚颗粒的堆积体聚集体或二者的混合体其外表面积与其单个颗粒的表面积的总和相近
、,。
注1支撑团聚体的作用力都是弱力如范德华力或简单的物理缠结
:,。
注2团聚体也被称为次级颗粒而源颗粒则被称为初级颗粒
:,。
注3利用成像技术如一般很难区分样品在沉积过程中形成的团聚即假象或事先存在的团聚体
:,AFM,()。
32
.
聚集体aggregate
强束缚或融合在一起的颗粒构成的新颗粒其外表面积可能小于其单个颗粒表面积的总和
,
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