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文档简介

探针使用次数实验报告衡阳2009.4.29背景测试过程中测试架构会造成电池片FF值得损耗，进而影响测试效率。这种损耗包括：探针数量、探针磨损、探针是否完全与主栅接触、架构材料的硬度以及探针、针筒和连接线的焊接情况。其中影响最大的是探针磨损，探针在使用一定数量后针尖的损伤以及针头内夹杂浆料颗粒都会使接触电阻变大。问题测试探针最高使用次数是多少？实验设计选取一台测试机（L7）从刚更换探针开始跟踪，检验探针的使用寿命；检验手段采用衰减完全的电池片若干片，以每测试1~2W次后手动测试这些电池片的FF情况；以每天IPQC抽测十片数据作为参考项。实验数据1.二级标片测试结果异常点备注：第10天测试时，累计测试数量不到18万23日白班探针磨损的FQC抽测数据为说明该FF差异是由于探针损耗引起，对比更换探针前后的FQC10片数据。23日白班之前的FQC10片抽测数据23日晚班更换探针后FQC10片抽测数据根据前后的对比可以看出，FF的稳定性受到探针磨损的影响较大。数据分析从实验数据来看，探针出现磨损时表现出来的现象是自动测试时会出现一定比例的串联较大，FF较低的测试结果。手动校准标片时不容易查出此异常。通过FQC的10片抽测数据可以看出出现异常。结论Berger测试机的探针使用不到18W次的情况下已经磨损，表现状况是自动测试时部分电池片测试数据Rs较大，FF较低，需更换新探针；因自动测试和手动测试两个过程有差异，标片校准过程不容易看出该异常，需要通过FQC的十片

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