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文档简介
第三节原子发射光谱仪器发射光谱仪通常由三部分组成:1:激发光源2:分光系统3:检测系统一、激发光源作用:提供能量要求:1.把试样中的组分蒸发、解离为气态原子或离子。2.使气态原子或离子激发、跃迁到高能级。常用光源:(1)激发能力强(2)灵敏度高(3)稳定性好(4)结构简单(5)操作方便(6)使用安全(1)直流电弧(2)交流电弧(3)电火花(4)ICP(一)直流电弧
1.基本电路
直流电源,电压为220~380V,电流为5~30A。铁芯自感线圈L,用于防止电流的波动。镇流电阻R,用于调节和稳定电流。分析间隙G,一般以两个碳电极为阴阳两极。2.工作原理(1)电极接触或采用高频引弧装置,点弧。(2)阴极发射高能热电子,轰击阳极。(3)阳极产生炽热的阳极斑。(4)阳极斑使试样蒸发、解离成气态原子。(5)各种粒子发生碰撞并电离,在电极间形成等离子体,维持电弧放电。(6)气态原子或离子再获得能量被激发高能态后跃回,产生原子或离子的发射光谱。阴极阳极3.特点(1)电极头温度高,达4000-7000K,蒸发能力强。(2)弧焰面积大,电流密度小,激发温度低,约4000K,激发能力弱。(3)放电不稳定,弧焰漂移较大,再现性差,定量分析的精密度不高。(4)弧层较厚,自吸现象严重。(5)产生的谱线主要是原子线。4.适用范围(1)适宜定性或半定量分析。(2)不适用高含量元素的定量分析。(3)对难挥发、易激发元素的定量分析也可以。(准确度要求不高)(二)
交流电弧1.基本电路1高频高压引火线路低频低压燃弧线路2.工作原理(1)T1升压220V3000V,C1充电,放电盘G1加压。(2)G1被击穿,C1放电,在L1–C1–G1回路产生高频振荡电流(105Hz,约10000V)。(3)L1L2耦合,继续升压至12万伏,给C2充电至分析间隙G被击穿,通过C2–L2–G高频高压电路使分析间隙的空气电离,形成等离子气体导电通道,引燃电弧,这一过程称为分析间隙被击穿。(4)低压交流线路接通经R2、A维持燃弧。(5)试样被蒸发、激发、跃迁产生光辐射作用。3.特点(1)电极头温度较低,蒸发能力较弱。
由于两电极的极性交替变化,工作电流具有间歇性,从而使电极头温度较低,约4000K,蒸发能力较弱。(2)弧焰温度高,激发能力强。
由于电流呈周期性变化,每交流半周强制点弧,使电极表面有一个新接触点,所以电流密度大,弧焰温度高,约40008000K。
(3)定量分析的精密度好。
放电稳定,弧焰不发生漂移,稳定性好,再现性好。(4)产生的谱线原子线和离子线的数目接近。4.适用范围(1)适宜定性分析。(2)适用于易挥发、难激发元素的定量分析。(3)广泛应用于金属或合金样品中低含量元素的定量分析。(三)
电火花光源1.基本电路扼流线圈电感2.工作原理(1)升压220V10000V,通过扼流线圈D,给C充电。(2)C升至G的击穿电压时,G击穿,C通过电感L放电于分析间隙,形成C–L–G振荡回路。(3)C–L–G振荡回路,产生高频振荡电流。(4)振荡电流放电,产生电火花,试样被蒸发、激发产生光辐射作用。(5)放电后,振荡电流衰减,重新开始。
3.特点(1)电极头温度低,蒸发能力低。
电火花光源放电时间短,间歇时间长,弧焰半径小,因此电极头温度低,约20004000K,蒸发能力低。(2)弧焰温度高,激发能力强。
由于发电通道窄,电流密度大,因此弧焰温度高,约10000K,故激发能力强。(3)光谱背景大,分析的灵敏度低。(4)产生的谱线主要是离子线。4.适用范围(1)适用于定性分析。(2)适用于易挥发、难激发元素的定量分析。(3)适用于高含量元素的定量分析。(4)不适合微量、痕量元素的定量分析。
(四)ICP(电感耦合等离子体光源)
(InductivelyCoupledPlasma)等离子体(plasma):
一般指电离度大于0.1%,由离子、电子、原子和分子组成的,正负电荷密度相等,呈电中性的电离气体称为。1.基本结构由四部分组成:(1)高频发生器
作用:提供高频电流。作用:把试样溶液变成细雾。作用:产生等离子火炬。由三层同心石英管组成:
(4)雾化系统(3)等离子体火炬管(2)感应线圈作用:产生感应磁场形成涡电流。ICP光源等离子体火炬管等离子体火炬管外层中层内层气体通路①外层石英管切向通入氩气Ar(流速1020L.min-1),一起冷却气作用,保护外层石英管不被高温等离子体烧毁,二是等离子体工作气体,形成等离子火焰。②中层切向通辅助气(氩气,流速1L.min-1),维持等离子体的稳定。③内层通载气(氩气)和样品气溶胶。为什么用氩气(Ar)做工作气体?氩气为单原子稀有气体,具有以下特点:(1)自身光谱简单;(2)不会与试样组分形成难解离的化合物;(3)不会相多原子分子那样电离而消耗能量;(4)具有很好的激发性能;(5)具有很高的分析灵敏度。2.工作原理①通工作气体(氩气Ar)。②铜线圈接通高频电流,经感应线圈,产生一轴向的高频磁场。③电火花引燃氩气,被高频磁场加速,碰撞,电离,形成等离子气体。④等离子气体在磁场作用下,形成环形感应区,产生环形涡电流。⑤涡电流在短时间内加热等离子气体至10000K。⑥试样喷入等离子体内蒸发、激发。3.ICP火焰的分区ICP火焰的外观与普通火焰相似,但它不是化学燃烧火焰,而是气体放电。ICP火焰分为:焰心、内焰、尾焰三个区域,各区域温度不同,性质不同,应用各不相同。焰心区内焰区尾焰区
4.特点(1)激发能力强
弧焰温度最高达10000K,激发温度高(60008000K),激发能力强,有利于难激发元素的测定,不易生成难解离氧化物。(2)检出限低各种元素的检出限一般在10-110-3g.mL-1范围。(3)精密度准确度高ICP火炬发电的稳定性好,精密度高,相对标准偏差在1%左右,灵敏度高。(4)干扰小
分析通道的惰性环境,试样在惰性气体中激发,自吸效应、化学干扰、基体效应及光谱背景都小。(5)线性范围宽
分析的线性范围宽(从10-6%x%)达46个数量级,既可测定痕量组分,也可测定主成分元素。(6)试样的原子化、电离和激发充分
因为存在轴向分析通道,试样在ICP光源中停留时间长(约1ms),对于试样的原子化、电离和激发十分有利。5.适用范围(1)适用于各种分析。是AES分析中最有前途的光源。缺点:(1)仪器价格昂贵;(2)等离子气(Ar)费用较高;(3)测定非金属元素的灵敏度低。选择的光源依据(1)试样的性质(如挥发性、电离电位等)(2)试样的形状(如块状,粉末等)(3)含量大小(4)不同类型光源的蒸发温度、激发温度和放电的稳定性。几种常见光源的性质和应用见表。几种常见的光源的比较
光源蒸发温度(K)激发温度(K)放电稳定性用途直流电弧4000-70004000一般定性分析、难挥发元素的半定量分析及低含量金属的定量分析(要求低)交流电弧比直流电弧低4000K4000-8000好定性分析、低含量金属的定量分析高压火花比交流电弧低2000-4000K10000较好定性分析、高含量金属,难激发元素的定量分析ICP-----6000-8000很好溶液定性分析和定量分析二、分光系统
常用分光元件:(一)棱镜(二)光栅作用:把复合光色散为单色光。(一)棱镜分光原理
依据不同波长的光,在棱镜中的折射率不同而分开。科希(Cauchy)经验公式:
波长越短的光,折射率越大。(二)光栅1.分类:透射光栅和反射光栅光栅分为透射光栅和反射光栅,用得较多的是反射光栅。反射光栅又可分为平面反射光栅及凹面反射光栅。光栅是一种多狭缝元件,光栅光谱的产生是单缝衍射和多缝干涉两者联合作用的结果。单缝衍射决定谱线的强度分布,多缝干涉决定谱线出现的位置。反射光栅
在光学玻璃或金属高抛光表面上,准确地刻制出许多等宽、等距、平行的具有反射面的刻痕,称为反射光栅。常见光栅的刻痕密度:1200,1800,2400条/mm。2.分光原理:单缝衍射和多缝干涉的综合结果。一束均匀的平行光射在平面光栅上,光波就在光栅每条刻痕的小反射面上产生衍射光,各条刻痕产生的同一波长的衍射光方向一致,他们经物镜聚合,并在焦面上产生干涉,衍射光相互干涉的结果,使光程差与衍射光波长成整数倍的光波互相加强,得到亮条纹,即该波长单色光的谱线。dsinθdsinφ
3.光栅公式:d(sin±sin)=Kd:光栅常数(mm),它是相邻两刻痕间的距离,即光栅刻痕密度b(mm-1)的倒数。:入射角:衍射角dsin:相邻入射光波1和2的光程差dsin:相邻衍射光波1’和2’的光程差d(sin±sin)光波11’与光波22’的总光程差,即在方向衍射的两相邻光波的光程差。+:表示衍射光与入射光在光栅法线的同侧-:表示衍射光与入射光在光栅法线的异侧K:光谱级次,:衍射光的波长
(三)光学特征的表征
棱镜和光栅的光学特征常用色散能力和分辨能力来表征。1.色散能力
或称单位波长差的两条谱线在焦面上分开的距离。(1)线色散率:dl/d
指两条波长相差d的光线被分开的距离dl的大小。
单位:mm.nm-1在大多数情况下,衍射角一般都小于8º。因此cos1,则f:物镜焦距b:光栅刻痕密度光栅(2)倒线色散率
线色散率的倒数。单位:nm.mm-1
习惯上用线色散率的倒数表示色散性能,其值越小,色散率越大。①.光栅常数d越小,光谱级次K越大,物镜焦距f越大,倒线色散率越小,即线色散率越大。②.增大K和f,线色散率会增大,但光强减弱。③.线色散率和倒线色散率与谱线的波长无关。2.分辨能力指光谱仪能正确分辨出相邻两条谱线的能力。判断依据是瑞利(Rayleigh)准则。计算公式是理论分辨率R。(1)瑞利(Rayleigh)准则(p53)等强度相邻的两条谱线,当一条谱线的衍射极大值恰好和另一条谱线的衍射极小值重叠时,可以认为这两条谱线刚好能被分辨开来。(2)理论分辨率R:两条可以分辨开的谱线的波长的平均值与其波长差值之比。R值越大,分辨能力越强。通用例如:在光谱分析工作中,对于中型摄谱仪,常以能否清晰分辨铁元素的两条典型谱线310.0305、309.9970nm,来计算其理论分辨率。所以通常把R≥104作为摄谱仪分辨率的要求。(3)光栅的理论分辨率K:光谱级次N:光栅总刻线数b:光栅刻痕密度(mm-1)l:光栅宽度(mm)提高光栅理论分辨率的方法:
①增大K、N或l、b
②减小入射狭缝的宽度例如:对于一块宽度为50mm,单位长度刻痕数为1200条/mm的光栅,在第一级光谱中(K=1),它的分辨率为:R=KN=Klb=1×50×1200=6×104(4)闪耀光栅
平面光栅的缺点:不同级次光谱的能量分布是不均匀的。未经色散的零级(K=0)光谱的能量最大,但不是单色光,而正负一级、二级光谱等的能量逐级减弱,但光的单色性却逐渐增强。如何既要使光谱的能量最大,又要使光的单色性增强呢?闪耀光栅:若将光栅的刻痕刻成具有不等腰三角形的槽痕,使每一刻痕的小反射面与光栅平面保持一定的夹角,以控制每一个小反射面对光的反射方向,使衍射光能集中在所需要的光谱级次和一定范围内,获得特别明亮的光谱,这种光栅称为闪耀光栅。闪耀角:闪耀光栅刻痕小反射面与光栅平面的夹角称为闪耀角。闪耀波长:闪耀角所对应辐射能量最大的波长称为闪耀波长。光栅适用的光谱范围近似计算:K:第K级光谱闪耀范围的上限与下限适用波长K:光谱级次i(1):光栅的一级闪耀波长例如:WPG-100型平面光栅摄谱仪有两块光栅,其一级闪耀波长i(1)分别是300nm和570nm,根据上式计算,此摄谱仪两光栅一级光谱适用范围分别是200~600nm和380~1140nm。质量优良的闪耀光栅可以将约80%的光能集中到所需的波长范围内。三、检测系统常用的检测方法:(一)目视法(二)摄谱法(三)光电法三种检测方法的比较三种方法的基本原理都相同,区别在于:(1)目视法是用眼睛去接受。(2)摄谱法是用感光板去接受,应用最广。(3)光电法是用光电倍增管接受。(一)
目视法仅适用于可见光波段,常用的仪器是看谱镜,专用于钢铁及有色金属的半定量分析。(二)
摄谱法1.分析过程感光板2.感光板感光板的制作:由卤化银(AgBr)与精胶混合制成乳剂,均匀地涂布在质地良好的玻璃上而制成。成像原理:与普通照相一样,经显影和定影后得到底片。显影液:还原剂:米吐尔对甲氨基苯酚硫酸盐海得洛对苯二酚保护剂:Na2SO3
稳定还原剂,防止氧化。加速剂:Na2CO3
调节酸度以提高显影速度。抑制剂:KBr
同离子效应可控制还原速度。定影液:络合剂:海波Na2S2O3保护剂:Na2SO3防止Na2S2O3分解中和剂HA:中和从显影液中带来的碱明矾硫酸铝钾KAl(SO4)2起坚膜作用原理;2AgBr+h=2Ag+Br2感光板在分析中的应用
(1)定量分析时,最好采用反衬度高的感光板,但其灵敏度低,展度较小,定量分析线性范围小。一般为紫外Ⅰ型感光板。(2)定性、半定量分析时。最好采用灵敏度高,展度较大的感光板。一般为紫外Ⅱ型感光板。3.光栅摄谱仪光栅摄谱仪的工作流程
图10-17是常用的国产WSP-1型平面光栅摄谱仪的光路示意图,由光源B发射的光经三透镜L及狭缝S后投射到反射镜P1上,经反射后投射至凹面反射镜M下方的准光镜O1上,经O1反射以平行光束照射到平面光栅G上,复合光经光栅色散后,按波长顺序分开,不同波长的各平行光束又投射到凹面反射镜上方的物镜O2,平行光被聚焦到感光板的乳剂面上,得到按波长顺序展开的光谱。转动光栅台D,可同时改变光栅的入射角和衍射角,便可获得所需光谱的波长范围和改变光谱的级次。(三)
光电检测法仪器:1.光电倍增管2.电荷耦合器件作用:把光能转变为电能再放大检测。1.光电倍增管原理:当辐射作用于器件中的光敏材料时,使其发射电子进入真空或气体中,产生电流,这种效应称为外光电效应。2.电荷耦合器件也称半导体光电器件。原理:当辐射作用于器件中的光敏材料时,所产生的电子通常不脱离光敏材料,而是依靠吸收光子后所产生的电子-空穴对在半导体材料中的光电体(即吸收光子后半导体的电阻减小,而导电增加)产生电流,这种效应称为内光电效应。3.光电直读光谱仪
光电直读光谱仪是利用光电测量方法直接测定光谱线强度的光谱仪。过去在钢铁等冶炼部门应用较多。目前由于ICP光谱的广泛使用,光电直读光谱仪才被大规模地应用,现在商品ICP光谱仪中光电直读光谱仪已占主要地位。有两种基本类型:(1)多道固定狭缝式(2)单道扫描式本章主要讨论多道固定狭缝式,它又称为光量计。1.多道固定狭缝式和单道扫描式的区别
在光电光谱仪中,一个出射狭缝和一个光电倍增管构成一个通道(光的通道),可接受一条谱线。多道仪器是安装多个(可达70个)固定的出射狭缝和光电倍增管,可接受多种元素的谱线。单道扫描式只有一个通道,这个通道可以移动,相当于出射狭缝在光谱仪的焦面上扫描移动(多由转动光栅或其他
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