标准解读
GB/T 21021-2007 是一项由中国发布的国家标准,专注于射频连接器、连接器电缆组件以及电缆的互调电平测量方法。该标准旨在为这些元件在通信系统中的性能评估提供统一的测试和评估规程,确保其互操作性和可靠性。下面是该标准主要内容的概览:
标准适用范围
本标准适用于工作频率在0.5GHz至40GHz之间的射频连接器、连接器电缆组件及电缆。它定义了测量这些组件互调电平(IMD)的方法,互调电平是衡量非线性效应引起信号失真程度的一个重要指标,对理解系统内信号质量至关重要。
测量原理与方法
- 互调产物:标准详细介绍了如何识别和测量由两个或多个频率信号在非线性设备中相互作用产生的互调产物。
- 测试配置:规定了测试环境的设置,包括信号源、功率计、矢量网络分析仪等测试仪器的正确连接方式,以及测试夹具和适配器的要求。
- 校准过程:要求在实际测量前对测试系统进行全面校准,以消除系统本身引入的误差。
- 测量步骤:详细说明了如何施加测试信号,通常采用两音或多音信号注入法,以及如何准确测量输出信号中的互调产物电平。
性能评估指标
- IMD电平:定义了如何计算和报告互调产物的电平,通常以dBc(相对于载波的分贝值)表示。
- 互调产物阶数:明确了考虑的互调产物阶次,如三阶互调(IM3)是最常见的评估对象。
环境条件与重复性
- 规定了进行测量时的环境条件,如温度、湿度等,以确保测试结果的一致性和可比性。
- 强调了重复测量的重要性,以评估测试结果的稳定性和可靠性。
报告要求
指导如何编制测试报告,需包含测试条件、所用设备、测量结果及其不确定性分析等关键信息。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
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文档简介
ICS33.120.10L23中华人民共和国国家标准GB/T21021-2007/IEC62037:1999射频连接器、连接器电缆组件和电缆互调电平测量RFconnector.connectorcableassembliesandcable-Intermodulationlevelmeasurement(IEC62037:1999.IDT)2007-06-29发布2007-11-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局爱布中国国家标准化管理委员会
GB/T21021-2007/IEC62037:1999本标准等同采用IEC62037:1999《射频连接器、连接器电缆组件和电缆互调电平测量》(英文版)为便于使用,对于IEC62037:1999做了下列编辑性修改:a)删除IEC62037:1999的前言;b)按我国书写习惯对标点符号做必要的调整本标准由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由全国电子设备用高频电缆及连接器标准化技术委员会归口。本标准起草单位:中国电子科技集团公司第二十三研究所、上海佳吉通信器件有限公司。本标准主要起草人:王锐臻、葛雄浩、陈志彬、张建平、吴正平。
GB/T21021-2007/IEC62037:1999射频连接器、连接器电缆组件和电缆互调电平测量范围和目的本标准适用于射频连接器、连接器电缆组件和电缆的互调电平测量本标准给出的试验程序旨在测量无源射频元件内部传输两路或多路信号时所产生的干抗信号的电平!互调电平的产生射频回路中互调产物产生的基本理论在有关文献中已有明确的表述对无源射频元件而言,互调失真由非线性源产生,大多数情况下无法明确这些非线性源的状态、部位和特性,这些非线性源的示例包括:金属间的互相接触部位、不同的材料、锈蚀物、灰尘和污染物等由于受机械应力、温度变化、材料特性的变化(如:冷变形等)和气候变化等的影响.这些效应中的大多数将随时间而发生变化。互调产物的产生并不一定遵循常用的二次非线性方程,因此,不可能精确计算出导致互调产生的其他功率电平。另一方面,互调的产生是射频元件的固有特性,与所选的频率无关。因此,允许在工作频段内的适当频率对射频元件进行测量试验程序的原理试验中,将具有规定的相等试验端口功率电平的频率为广和广的信号混合.并输入被试器件(DUT)。试验信号中所包含的谐波信号或自互调信号应低于DUT中预期产生的互调电平至少10dB.价数为(广士广)或(2)土广)等的互调产物由经校准的接收机进行测量。大多数情况下,三阶互调信号代表了所产生的干扰信号中的最严重的情况。因此.对上述信号的测量足以说明DUT的互调特性。但本标准中给出的试验装置也可用于测量其他阶数的互调产物。4试验装置经验表明互调产物由DUT内部的某些点状源产生。因此,可测量DUT中的反射互调信号.或者测量DUT中的传输互调信号,两种不同的试验装置如图1和图2所示,仅供参考。也可采用其他试验装置布局试验装置1仅用于测量反射互调信号,试验装置2还可用于测量传输互调信号。上述两种试验装暨均可用于测量低于载波电平、超过100dB的互调信号。由于反射法既适用于单端口器件,又适用于多端口器件,一般将其作为通用测量方法试验装置可由适用于本特定用途的标准微波或射频回
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