标准解读
GB/T 19600-2004 是一项中国国家标准,全称为《产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的校准》。该标准主要规定了使用接触式探头(触针)测量仪器对产品表面结构进行轮廓测量时的校准方法与要求,确保测量结果的准确性和可比性。具体要点包括:
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适用范围:标准适用于所有利用触针接触式探头来测量和评估工件表面粗糙度、波纹度以及其他表面轮廓特性的仪器。这涵盖了从简单的便携式粗糙度仪到高级的轮廓扫描系统等多种设备。
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术语定义:标准首先明确了相关的专业术语和定义,如表面结构、轮廓、算术平均偏差(Ra)、采样长度、评价长度等,为后续内容的准确理解奠定基础。
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校准原则:阐述了校准的基本原则,要求校准过程需考虑仪器的工作原理、测量范围、精度等级及使用环境等因素,确保校准活动的科学性和有效性。
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标准参考表面:详细说明了用于校准的参考标准表面的选择、使用和维护要求。这些标准表面具有已知且稳定的表面特性,用以检验和调整仪器的测量性能。
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校准程序:提供了详细的校准步骤和方法,包括仪器的预调整、测量参数设置、实际测量操作、数据处理及分析等,确保校准过程的标准化和规范化。
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校准结果评估:介绍了如何根据校准数据评估仪器的测量误差、重复性和再现性,以及如何根据评估结果对仪器进行必要的调整或校正。
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记录与报告:强调了校准过程中记录的详细要求和校准报告的编制格式,确保校准活动的可追溯性和透明度。
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校准周期与维护:提出了关于校准频率的建议,并强调了仪器日常维护的重要性,以维持其长期的测量精度和稳定性。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2004-11-11 颁布
- 2005-07-01 实施




文档简介
ICS17.040.30J04中华人民共和国国家标准GB/T19600—2004/ISO12179:2000产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廊法接触(触针)式仪器的校准GeometricalProductSpecifications(GPS)—Surfacetexture--ProfilemethodCalibrationofcontact(stylus)instruments(ISO12179:2000,IDT)2004-11-11发布2005-07-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会
中华人民共和国国家标准产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廊法接触(触针)式仪器的校准GB/T19600-2004/ISO12179:2000中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045http://www,电话:63787337、637874472005年6月第一版2005年7月电子版制作书号:155066·1-22523版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533
GB/T19600—2004/IS012179:2000前本标准等同采用国际标准ISO12179:2000《产品儿何量技术规范(GPS)表面结构轮廊法触(触针)式仪器的校准》英文版)本标准主要规定了符合GB/T6062定义的接触(触针)式仪器的校准原则,提供了用测量标准对仪器进行校准的校准方法和程序。本标准适用于采用轮廊法测量表面结构的触针式测量仪器的校准本标准的附录A和附录B均为规范性附录;附录C和附录D为资料性附录。本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口本标准起草单位:机械科学研究院、哈尔滨量具刃具厂、时代集团公司、中国计量科学研究院、成都工具研究所、北京市计量科学研究所、哈尔滨理工大学。本标准主要起草人:王欣玲、郎岩梅、王忠滨、高思田、邓宁、吴迅、陈捷
GB/T19600—2004/IS012179:2000产品几何量技术规范(GPS)表面结构:轮廊法接触(触针)式仪器的校准范围本标准规定了轮魔法测量工件表面结构的接触(触针)式仪器的计量特性校准的术语、原则、方法本标准适用于GB/T6062—2002中闻述的轮廊法测量表面结构的接触(触针)式仪器计量特性的校准。该校准是借助于测量标准完成的。附录A给出了测量图形法参数仪器的校准附录B适用于简化运算的接触(触针)式仪器的校准,此类仪器不符合GB/T6062—2002的定义规范性引用文件下列标准中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注明日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勒误的内容)修改版均不适用于本标准.然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本适用于本标准。GB/T3505—2000产品几何量技术规范((GPS)表面结构轮席法表面结构的术语、定义及参数(eqvISO4287:1997)GB/T6062—2002产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廊法接触(触针)式仪器的标称特性(eqvISO3274:1996)GB/T18618-2002产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廊法图形参数(eqvISO12085:1996)GB/T18779.1-2002产品几何量技术规范(GPS)工件与测量设备的测量检验第1部分:按规范检验合格或不合格的判定规则(eqvISO14253-1:1998)GB/T18779.2—2004产品几何量技术规范(GPS)工件与测量设备的测量检验第2部分:测量设备的校准和产品检验中GPS测量的不确定度评定指南(ISO/TS14253-2:1999.IDT)GB/T19022.1—1994测量设备的质量保证要求第1部分:测量设备的计量确认体系(idtISO10012-1:1992GB/T19067.1-2003产品几何量技术规范(GPS)表面结构轮廊法量标准第1部分:实物测址标准(ISO5436-1:2000,IDT)』F1001-1998通用计量术语及定义(VIM第二版,1993)』F1059—1999测量不确定度评定与表示。(GUM第一版,1995)术语和定义由GB/T3505、GB/T6062.GB/T18779.1、JJF1001和』F1059确立的以及
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