标准解读

《GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法》与《GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》相比,主要在以下几个方面进行了调整和更新:

  1. 测试项目增补与细化:2013版标准在原有测试项目基础上新增了多项参数的测试方法,如更详细的噪声特性测试、响应率测量、动态范围评估等,以适应红外焦平面阵列技术的发展和应用需求的提高。同时,对原有测试项目的具体步骤和要求进行了细化,提高了测试的准确性和可操作性。

  2. 测试环境与条件:新标准对测试环境的温湿度控制、暗室条件、电磁干扰控制等方面提出了更为严格的要求,确保测试结果的稳定性和重复性。此外,还明确了不同测试条件下应遵循的具体标准操作程序。

  3. 测量仪器与精度要求:2013版标准对用于测试的仪器设备性能和精度要求进行了更新,引入了更先进的测量技术和设备标准,确保测试数据的可靠性和准确性。同时,针对特定参数测试,规定了更精确的校准方法和频率。

  4. 数据处理与分析:新标准提供了更加系统化的数据处理流程和分析方法,包括对测试数据的统计处理要求、异常值剔除规则以及如何进行误差分析等,有助于提升测试结果的科学性和客观性。

  5. 标准适用范围扩展:考虑到技术进步和市场变化,2013版标准扩大了适用的红外焦平面阵列类型和应用场景,不仅涵盖了军事领域,也包括了民用领域的多种新型红外探测器,增强了标准的通用性和前瞻性。

  6. 术语定义与标准引用更新:根据技术发展,标准中对关键术语给出了新的或修订的定义,并更新了引用的其他国家标准和国际标准,确保与国际接轨,便于国内外技术交流与合作。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2013-11-12 颁布
  • 2014-04-15 实施
©正版授权
GB/T 17444-2013红外焦平面阵列参数测试方法_第1页
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文档简介

ICS31260

L52.

中华人民共和国国家标准

GB/T17444—2013

代替

GB/T17444—1998

红外焦平面阵列参数测试方法

Measuringmethodsforparametersofinfraredfocalplanearrays

2013-11-12发布2014-04-15实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T17444—2013

目次

前言…………………………

范围………………………

11

术语和定义………………

21

符号和单位………………

34

测试方法…………………

45

方法响应率和响应率不均匀性……………

4.13001:5

方法噪声电压………………

4.23002:8

方法探测率…………………

4.33003:9

方法噪声等效温差…………

4.43004:9

方法有效像元率……………

4.53005:10

方法固定图形噪声…………

4.63006:11

方法噪声等效功率…………

4.73007:11

方法饱和辐照功率…………

4.83008:12

方法动态范围………………

4.93009:12

方法相对光谱响应………………………

4.103010:13

方法读出速率帧频………………………

4.113011:、14

方法串音…………………

4.123012:15

附录规范性附录响应率的其他表示………………

A()17

附录规范性附录空间噪声…………

B()18

附录资料性附录备用特性参数及相关量…………

C()19

附录资料性附录调制传递函数测试方法…………

D()20

附录资料性附录非线性度测试方法………………

E()22

附录规范性附录一种推荐算法……………………

F()23

GB/T17444—2013

前言

本标准按照给出的规则起草

GB1.1—2009。

本标准代替红外焦平面阵列特性参数测试技术规范与

GB/T17444—1998《》,GB/T17444—1998

相比主要变化如下

:

标准名称修改为红外焦平面阵列参数测试方法

———《》。

增加了一些参数定义如红外焦平面阵列像元帧频行频固定图形噪声平均峰值探测率

———,:、、、、、、

饱和信号电压像元噪声等效温差

、。

增加一些参数测试方法如固定图形噪声读出速率帧频

———,:、、。

增加了附录调制传递函数测试方法附录非线性度测试方法

———D《》、E《》。

修改了部分参数的名称和定义如积分时间读出速率辐照功率辐照能量饱和辐照功率

———,:、、、、、

死像元过热像元噪声等效功率

、、。

修改了部分参数的测试方法如响应率噪声电压噪声等效温差探测率动态范围相对光

———,:、、、、、

谱响应串音

、。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出

本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口

本标准起草单位中国科学院上海技术物理研究所

:。

本标准主要起草人丁瑞军梁平治唐红兰陈洪雷曹妩媚殷建军陈世军

:、、、、、、。

本部所代替标准的历次版本发布情况为

:

———GB/T17444—1998。

GB/T17444—2013

红外焦平面阵列参数测试方法

1范围

本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义

本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件

本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列

2术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

21

.

红外焦平面阵列infraredfocalplanearraysIRFPA

;

对红外辐照以下简称辐照敏感的探测器阵列并带有读出电路的器件简称红外焦平面

(),。

22

.

像元pixel

红外探测器阵列的敏感单元

23

.

帧周期frameperiod

面阵红外焦平面一帧信号积分和读出所需要的时间

24

.

帧频framefrequence

面阵红外焦平面在时间内的信号输出帧数

1s。

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