标准解读
GB/T 16840.6-2012是一项中国国家标准,专注于电气火灾痕迹物证的技术鉴定方法,特别着重于扫描电子显微镜(SEM)微观形貌分析法的应用。该标准为电气火灾调查提供了科学依据和技术手段,帮助确定起火原因、火灾发展过程及与电气系统相关的故障点。
标准概览
-
标准范围:规定了利用扫描电子显微镜对电气火灾现场残留物进行微观形貌分析的方法,旨在通过观察和分析火灾后电气设备及线路的微观结构变化,如熔痕、烧蚀形态等,来判断电气故障类型及火灾起因。
-
术语和定义:明确了在SEM分析中涉及的关键术语,如扫描电子显微镜、微观形貌、熔痕等,确保了专业术语使用的统一性和准确性。
-
原理:概述了SEM的工作原理,即通过电子束扫描样品表面,收集二次电子或背散射电子信息,形成高分辨率的微观形貌图像,用于揭示材料的微观结构特征及其变化。
-
仪器与设备:详细说明了进行SEM分析所需仪器的性能要求和操作条件,包括扫描电子显微镜及其附件、样品制备工具等,确保检测的准确性和可靠性。
-
样品采集与处理:规范了从火灾现场采集电气痕迹物证的程序,以及样品的预处理、固定、切割、镶嵌、磨抛和镀膜等步骤,以保证样品适合SEM观察。
-
分析步骤:具体描述了使用SEM进行微观形貌分析的操作流程,包括设置合适的放大倍数、工作距离、电压等参数,进行形貌观察和拍照记录,以及如何根据微观特征识别电气故障模式。
-
结果判定与解释:提供了根据SEM图像分析结果判定电气火灾起因的方法,包括但不限于短路、过载、电弧放电等故障类型的微观特征鉴别,有助于形成科学的鉴定结论。
-
质量控制与安全:强调了在SEM分析过程中应遵循的质量控制措施和实验室安全规程,确保实验过程的可靠性和人员安全。
-
记录与报告:要求详细记录实验过程、观察结果和分析结论,并按照标准化格式编写鉴定报告,以便于信息的交流和存档。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
查看全部
- 现行
- 正在执行有效
- 2012-12-31 颁布
- 2013-10-01 实施




文档简介
ICS1322020
C82..
中华人民共和国国家标准
GB/T168406—2012
.
电气火灾痕迹物证技术鉴定方法
第6部分SEM微观形貌分析法
:
Technicaldeterminationmethodsforelectricalfireevidence—
Part6Micro-morholoicalanalsismethodusin
:pgyg
scanningelectronmicroscope
2012-12-31发布2013-10-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
中华人民共和国
国家标准
电气火灾痕迹物证技术鉴定方法
第6部分SEM微观形貌分析法
:
GB/T16840.6—2012
*
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲号
2(100013)
北京市西城区三里河北街号
16(100045)
网址
:
服务热线
/p>
年月第一版
20135
*
书号
:155066·1-46913
版权专有侵权必究
GB/T168406—2012
.
前言
电气火灾痕迹物证技术鉴定方法由以下部分组成
GB/T16840《》:
第部分宏观法
———1:;
第部分剩磁检测法
———2:;
第部分俄歇分析法
———3:;
第部分金相分析法
———4:;
第部分电气火灾物证识别和提取方法
———5:;
第部分微观形貌分析法
———6:SEM。
本部分为的第部分
GB/T168406。
本部分依据给出的规则编写
GB/T1.1—2009。
本部分由中华人民共和国公安部提出
。
本部分由全国消防标准化技术委员会火灾调查分技术委员会归口
(SAC/TC113/SC11)。
本部分起草单位公安部沈阳消防研究所
:。
本部分主要起草人邸曼张明赵长征夏大维齐梓博高伟吴莹
:、、、、、、。
本部分为首次发布
。
Ⅰ
GB/T168406—2012
.
电气火灾痕迹物证技术鉴定方法
第6部分SEM微观形貌分析法
:
1范围
的本部分规定了电气火灾痕迹物证技术鉴定方法中扫描电子显微镜微观形貌
GB/T16840(SEM)
分析法的术语和定义原理仪器设备试样制备观察部位和判据
、、、、。
本部分适用于火灾调查中应用对火灾现场金属熔化痕迹的微观形貌分析根据熔痕的微观
SEM,
形貌特征鉴别熔痕的熔化性质
。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
分析仪器术语
GB/T13966
电气火灾痕迹物证技术鉴定方法第部分宏观法
GB/T16840.11:
3术语和定义
和中界定的以及下列术语和定义适用于本文件
GB/T13966GB/T16840.1。
31
.
二次电子secondaryelectrons
样品中原子的外层电子受入射电子的激发而发射到样品以外的非弹性散射电子
。
32
.
二次电子成像secondaryelectronimage
二次电子被检测器接收后成像
。
33
.
SEM的分辨本领solvingpowerforSEM
在二次电子图像上测出能明显分开的两个物点之间的最小距离与放大倍率之比
。
34
.
放大倍率magnifyingpower
物体放大后的长度与原实物的长度的比值
。
35
.
有效放大倍率effectivemagnifyingpower
人眼的分辨率与仪器的分辨率的比值
。
36
.
熔痕meltedmark
在外界火焰或短路电弧高温作用下在金属表面特别是铜铝导线上形成的圆状凹坑状瘤状尖
,,、、、、
状及其他不规则的微熔或全熔痕迹
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