标准解读
《GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范》作为一项国家标准,为金属氧化物半导体气敏元件的生产、检验及应用提供了统一的技术要求和测试方法。然而,您提供的对比项似乎不完整,没有明确指出要与哪个具体的标准或版本进行比较。不过,我可以基于该标准本身的内容,概述其关键要点及可能相对于早期或后续相关标准的一般性变更方向,尽管无法提供直接的逐条对比分析。
该标准主要规定了金属氧化物半导体气敏元件的分类、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和储存要求。若将其与早期的标准或未明确提及的其他标准相比,可能的变更包括但不限于以下方面:
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分类与命名规则:新标准可能对气敏元件的类型进行了更细致的分类,并引入了新的命名规则,以适应技术发展和产品多样化的需求。
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技术要求提升:随着材料科学和制造工艺的进步,新标准可能会提高对元件性能指标的要求,如灵敏度、响应时间、恢复时间、稳定性、工作寿命等,确保产品质量和可靠性。
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试验方法的标准化与完善:为保证检测结果的准确性和可重复性,新标准可能详细规定了更加严格的试验条件和方法,包括气体浓度控制、环境条件模拟、长期稳定性的评估方法等。
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质量控制与检验规则:在质量控制方面,新标准可能强化了出厂检验和型式试验的规定,增加了抽样检验的比例和频率,确保每一批次产品的质量符合标准。
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包装、运输与储存指导:考虑到实际操作中的安全与保护需求,新标准可能对元件的包装材料、运输条件及储存环境提出了更为具体的要求,以防损坏和性能衰退。
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环保与安全要求:随时代发展,新标准还可能加入了环保和用户安全相关的条款,要求材料无害化,使用过程中减少对环境的影响,以及提高使用安全性。
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- 现行
- 正在执行有效
- 1995-07-24 颁布
- 1996-04-01 实施
![GB/T 15652-1995金属氧化物半导体气敏元件总规范_第1页](http://file4.renrendoc.com/view/43bdd87ac8637da6fefbbf63fd67ce10/43bdd87ac8637da6fefbbf63fd67ce101.gif)
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文档简介
JDg621.383L15中华人民共和国国家标准GB/T15652-1995金属氧化物半导体气敏元件总规范Genericspecificationforgassensorsofmetal-oxidesemiconductor1995-07-24发布1996-04-01实施国家技术监督局发布
主题内容与适用范围2.1优先顺序2.2有关文件2.3术语、符号、代号2.4分类2.5标志3质量评定程序3.1质量评定体系3.2;初始制造阶段3.3结构相似的元件3.4鉴定批准程序·3.5质量一致性检验“试验和测量方法4.1、试验程序4.2标准大气条件4.3试验顺序4.4直观检查和尺寸检查及其方法4.5电气参数测量及其方法4.6环境试验及其方法4.6.1振动(正弦)4.6.22冲击(规定脉冲)4.6.3跌落4.6.4引出端强度4.6.5锡焊4.6.6温度冲击4.6.7交变湿热4.6.8低温4.6.9高高温104.6.10耐腐蚀?104.7电负荷试验及其方法(114.7.1短期负荷(114.7.2长期负荷(11)4.8其他试验及其方法(12)4.8.1老化(12)4.8.2防防爆(12
中华人民共和国国家标准CB/T15652-1995金属氧化物半导体气敏元件总规范Genericspecificationforgassensorsofmetal-oxidesemiconducton主题内客与适用范臣本规范规定了金属氧化物半导体气敏元件(以下简称气敏元件)质量评定程序、试验和测量方法、包装和储运的一般要求。具体要求和特性在相应的空白详细规范和详细规范中规定。本规范适用于金属氧化物半导体气敏元件,其他气敏元件亦可参照采用。2总则2.1优先顺序若本规范要求与详细规范或其他有关文件之间出现矛盾,应按如下优先顺序使用文件:详细规范;空白详细规范;6C总规范;d中国电子元器件质量认证章程;IECQQC001002&IEC电子元器件质量评定体系程序规则》;其他引用文件(如IEC文件)。2.2有关文件GB191包装储运图示标志GB2421电工电子产品基本环境试验规程总则GB2423.1电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB2423.2电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB2423.4电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB2423.5电工电子产品基本环境试验规程试验Ea:冲击试验方法GB2423.10电工电子产品基本环境试验规程试验Fe:振动(正弦)试验方法GB2423.20电工电子产品基本环境试验规程试验Kd:接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB2828连批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查)GB/T4475敏感元器件术语GB7408星期编号GB/T15653金属氧化物半导体气敏元件测试方法SJ1155敏感元器件型号命名方法SJ/T10554敏感元器件文字符号SJ/T10555电气用图形符号敏感元器件2IEC电子元器
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