标准解读

《GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》作为一项国家标准，规定了半导体集成电路模拟乘法器的测试原则、测试条件、测试项目及其方法，旨在为该类器件的性能评估提供统一的标准依据。然而，您提供的对比对象信息不完整，无法直接进行详细的变更比较。但可以一般性地描述此类标准更新时可能包含的变更方向：

  1. 技术进步的反映：随着半导体技术的快速发展，新版本的标准可能会纳入新的测试技术和指标，以适应更先进制程下模拟乘法器的特性评估需求。

  2. 测试方法的优化：更新的标准可能会引入更精确、高效的测试方法，减少测试过程中的误差，提升测试结果的可靠性与重复性。

  3. 参数调整：根据行业实践和技术演进，标准可能会对原有的测试参数范围、精度要求等进行修订，以更好地匹配实际应用要求。

  4. 安全与环境要求：随着对电子产品安全性和环保要求的提高，新标准可能会增加相关的测试内容，如电磁兼容性(EMC)、有害物质限制(RoHS)等。

  5. 标准化语言与格式的统一：为了与国际标准接轨或提升国内标准体系的一致性，标准在修订时可能会调整表述方式、符号使用等，使之更加规范和易于理解。

  6. 新增或删除测试项目：根据技术进步或市场需求变化，可能会有新的测试项目被加入，或者某些过时的测试被移除。

由于具体对比的另一标准未给出，以上内容仅是基于一般标准更新趋势的推测。若需要具体的变更分析，请提供完整的对比标准名称或内容。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1992-12-18 颁布
  • 1993-08-01 实施
©正版授权
GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理_第1页
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UDC621.382：681.31L55中华人民共和国国家标准GB/T14029-92半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理Generalprinciplesofmeasuringmethodsofanaloguemultiplierforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18发布1993-08-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准半导体集成电路模拟乘法器GB/T14029-92测试方法的基本原理CeneralprinciplesofmeasuringmethodsofanaloguemultiplierForsemiconductorintegratedcircuits本标准规定了半导体集成电路模拟乘法器（以下简称器件或乘法器）测试方法的基本原理乘法器与运算放大器相同的静态与动态参数测试.可参照GB3442《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》。1总的要求1.11若无特殊说明,测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响.测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定1.3测试期间，施于被测器件的电参量的精度应符合器件详细规范的规定T4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。1.5若有要求时应按器件详细规范规定的顾序接通电源。1.6测试期间，被测器件应避免出现自激现象。17若电参数由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短.1.8测试期间，施于被测器件的信号源内阻在讯号频率下应基本为零。1.9）测试期间，被测器件应按器件详细规范规定连接外围网络。2参数测试2.1满量程总误垫E。2.1.1目的在乘法器的两个输入电压绝对值为最大值时·测试输出电压与其设计值的最大相对偏差2.1.2测试原理图

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