标准解读

《GB/T 13389-2014 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程》相比于《GB/T 13389-1992 掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程》,主要在以下几个方面进行了更新和扩展:

  1. 适用范围扩大:2014版标准不仅涵盖了掺硼和掺磷的硅单晶,还新增了对掺砷硅单晶的电阻率与掺杂剂浓度换算规定,适应了更广泛的半导体材料应用需求。

  2. 技术内容更新:鉴于半导体材料和技术的快速发展,2014版标准引入了新的测量技术和计算方法,以更准确地反映当前技术水平下掺杂剂浓度与电阻率之间的关系,提高了换算的精确度和可靠性。

  3. 测试方法优化:标准中对测试条件、样品制备、测量仪器和步骤等给出了更为详细和严格的规定,确保不同实验室间测试结果的一致性和可比性增强。

  4. 数据表更新:根据新材料特性和实验数据,更新了用于换算的参考数据表和图表,为实际操作提供了更精确的参考依据。

  5. 术语和定义明确:对涉及的关键术语和定义进行了修订和补充,使得标准的表述更加清晰准确,便于读者理解和执行。

  6. 规范性引用文件更新:引用了最新的国家标准和国际标准,确保了标准的先进性和与国际接轨的程度。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2014-12-31 颁布
  • 2015-09-01 实施
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GB/T 13389-2014掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程_第1页
GB/T 13389-2014掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程_第2页
GB/T 13389-2014掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程_第3页
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文档简介

ICS29045

H80.

中华人民共和国国家标准

GB/T13389—2014

代替

GB/T13389—1992

掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与

掺杂剂浓度换算规程

Practiceforconversionbetweenresistivitanddoantdensitforboron-doed

ypyp,

hoshorus-doedandarsenic-doedsilicon

ppp,p

2014-12-31发布2015-09-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T13389—2014

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准代替掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程参照

GB/T13389—1992《》,SEMI

掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程对进行修订

MF723-0307《》GB/T13389—1992。

本标准与相比主要有以下变化

GB/T13389—1992,:

增加了公式即砷的掺杂剂浓度换算电阻率掺硼硅单晶电阻率换算空穴浓度和

———(5)、(6)、(7),、

掺磷硅单晶电阻率换算电子浓度的公式以及相应的适用范围

;

由于所有公式都是经验公式或是试验结果因此本标准中给出了公式的试验依据以便于使用

———,

者更好地了解和使用这些换算规程

;

增加干扰因素见第章

———(6);

增加了附录和参考文献

———。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会和全国半导体设备和材料标准

(SAC/TC203)

化技术委员会材料分会共同提出并归口

(SAC/TC203/SC2)。

本标准起草单位有研半导体材料股份有限公司四川新光硅业科技有限责任公司中国计量科学

:、、

研究院浙江省硅材料质量检验中心杭州海纳半导体有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司西安隆

、、、、

基硅材料股份有限公司

本标准主要起草人孙燕梁洪高英楼春兰张静王飞尧曹孜何良恩张海英张群社

:、、、、、、、、、。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为

:

———GB/T13389—1992。

GB/T13389—2014

掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与

掺杂剂浓度换算规程

1范围

本标准规定了掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度之间的换算关系该换算关系也适用于

、、,

掺锑硅单晶还可扩展至硅中激活能与硼磷相似的其他掺杂剂

,、。

本标准适用于掺硼浓度14-320-3掺磷浓度13-320-3掺砷浓

10cm~1×10cm,3×10cm~1×10cm,

度19-320-3对掺硼掺磷的硅单晶掺杂剂浓度可扩展到12-3

10cm~6×10cm。、10cm。

本标准也可用于在下从硅单晶电阻率到载流子浓度的换算但不包括对砷掺杂剂的载流子浓

23℃,

度换算或任何其他载流子浓度的换算

,。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注明日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

非本征半导体材料导电类型测试方法

GB/T1550

硅单晶电阻率测定方法

GB/T1551

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

GB/T4326

半导体材料术语

GB/T14264

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T14264。

31

.

自相容性误差theself-consistencyerrors

电阻率与掺杂剂浓度之间的换算公式或表格是以其中一个为变量拟合实验数据推导出另一个变

,,

量当使用不同的变量时会产生两个互为补充的公式例如公式和公式和由于这些公

,,(1)(2),(3)(4)。

式在数学上并不完全等价因此在使用由此推导出来的公式或表格时将产生微小的差异该差异称为自

,,

相容性误差

4方法提要

电阻率与掺杂剂浓度之间的相互换算是基于掺硼掺磷硅单晶中两者间的综合经验数据得到的并

、,

将其扩展到硅中具有相似激活能的其他掺杂剂根据相同的方法也给出了电阻率与载流子浓度的换算

,

关系本标准中将该换算关系表示为公式曲线以及表格的形式应用时请特别注意不同公式的适用范

。、

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