GB/T 12274.1-2012有质量评定的石英晶体振荡器第1部分：总规范

ICS31140

L21.

中华人民共和国国家标准

GB/T122741—2012

代替.

GB12274—1990

有质量评定的石英晶体振荡器

第1部分总规范

:

Quartzcrystalcontrolledoscillatorsofassessedquality—

Part1Genericsecification

:p

(IEC60679-1:2007,MOD)

2012-11-05发布2013-02-15实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T122741—2012

.

目次

前言…………………………

Ⅰ

范围………………………

11

规范性引用文件…………………………

21

术语定义和一般信息……………………

3、3

质量评定程序……………

412

试验和测量程序…………………………

515

附录规范性附录逻辑电平驱动的负载电路………

A()57

附录规范性附录闩锁试验…………

B()60

附录资料性附录静电放电敏感度的分级…………

C()61

附录资料性附录本部分与技术性差异及其原因…………

D()IEC60679-1:200762

参考文献……………………

63

GB/T122741—2012

.

前言

有质量评定的石英晶体振荡器分为以下几个部分

GB/T12274《》:

第部分总规范

———1:;

第部分使用指南

———2:;

第部分分规范能力批准

———3:;

第部分空白详细规范能力批准

———3-1:;

第部分分规范鉴定批准

———4:;

第部分空白详细规范鉴定批准

———4-1:。

本部分为的第部分

GB/T122741。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替有质量评定的石英晶体振荡器第部分总规范与

GB12274—1990《1:》,GB12274—

相比主要变化如下

1990,:

增加了条术语和定义

———34;

根据电子元器件质量认证的通用规定全面规定了质量评定程序的细则

———,;

增加了条电性能测量方法个机械和环境试验项目耐久性试验方法

———25、9、;

增加了附录附录附录和附录

———A、B、CD。

本部分使用重新起草法修改采用石英晶体振荡器第部分总规范

IEC60679-1:2007《1:》。

本部分与相比存在技术性差异这些差异涉及的条款已通过在其外侧页边空白

IEC60679-1:2007,

位置的垂直单线进行了标示附录中给出了相应技术性差异及其原因的一览表

(|)。D。

本部分还作了下列编辑性修改

:

规范性引用文件和中删除了和

———3.2.39ANSIT1.105.03、ANSIT1.101、TelcordiaGR-253

ETSIEN300462。

将第章的优先顺序调至第章

———2“”3。

图中直线线条的位置有偏移将其修正到正确位置

———2,。

图右上方补画ff段的抖动允差线

———83~4。

调幅频率响应中总失真的计算公式改为放在调幅失真中

———5.5.22.4“”5.5.22.3“”。

用公制线径代替英制线规

———。

本部分用环境试验国家标准代替对应的它们在本部分的引用中无技

———GB/T2423IEC60068,

术性差异

。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会归口

(SAC/TC182)。

本部分起草单位中国电子元件行业协会压电晶体分会中国电子技术标准化研究所

:、。

本部分主要起草人章怡姜连生李晓英

:、、。

本部分所代替规范的历次版本发布情况为

:

———GB12274—1990。

Ⅰ

GB/T122741—2012

.

有质量评定的石英晶体振荡器

第1部分总规范

:

1范围

的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器的试

GB/T12274

验方法和通用性要求

。

本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器

。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

电工电子产品环境试验概述和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

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GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-

1:2007,IDT)

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验高温

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-

2:2007,IDT)

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GB/T2423.3—20062:Cab:

(IEC60068-2-78:2001,IDT)

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GB/T2423.4—20082:Db

循环

(12h+12h)(IEC60068-2-30:2005,IDT)

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GB/T2423.5—1995:Ea:(idt

IEC60068-2-27:1987)

电工电子产品环境试验第二部分试验方法试验和导则碰撞

GB/T2423.6—1995:Eb:(idt

IEC60068-2-29:1987)

电工电子产品环境试验第二部分试验方法试验自由跌落

GB/T2423.8—1995:Ed:(idt

IEC60068-2-32:1990)

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GB/T2423.10—20082:Fc:()

(IEC60068-2-6:1995,IDT)

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GB/T2423.15—20082