标准解读

《GB/T 12273.501-2012 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准》与《GB/T 15020-1994 电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平 E》相比,主要存在以下几点差异和更新:

  1. 适用范围和对象:GB/T 12273.501-2012更侧重于建立一个通用的电子元器件质量评定体系规范,特别是针对石英晶体元件的质量评估,而GB/T 15020-1994则具体针对电阻焊石英晶体元件的空白详细规范及其评定水平,体现了从单一产品规格向更广泛质量管理体系的转变。

  2. 发布年份与标准更新:GB/T 12273.501-2012发布于2012年,较之1994年的GB/T 15020,反映了近二十年来技术进步和行业标准的更新。新标准可能包含了对新材料、新工艺、以及测试技术的最新要求。

  3. 质量评定体系:新标准引入了更为系统化的质量评定体系规范,包括但不限于详细规范的制定、鉴定批准流程等,旨在提高评价的全面性和标准化程度,而旧标准主要关注电阻焊类型晶体元件的具体评定水平。

  4. 测试方法和指标:随着技术发展,新标准可能更新或增加了测试项目和指标,以适应现代电子设备对石英晶体元件更高性能的要求,包括频率稳定性、温度特性、老化率等方面的评估标准。

  5. 文档结构和表述:新标准在文档结构和表述上可能更加清晰、规范,便于理解和执行。它可能采用了国际通行的标准框架,增强了与其他国际标准的兼容性。

  6. 环境保护与安全要求:考虑到全球化贸易和技术进步,新标准可能加入了环保材料使用、有害物质限制(如RoHS指令)及产品安全性评估等方面的要求,这些内容在旧标准中可能未被充分强调。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2012-11-05 颁布
  • 2013-02-15 实施
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GB/T 12273.501-2012石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第5.1部分:空白详细规范鉴定批准_第1页
GB/T 12273.501-2012石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第5.1部分:空白详细规范鉴定批准_第2页
GB/T 12273.501-2012石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第5.1部分:空白详细规范鉴定批准_第3页
GB/T 12273.501-2012石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第5.1部分:空白详细规范鉴定批准_第4页

文档简介

ICS31140

L21.

中华人民共和国国家标准

GB/T12273501—2012

代替.

GB/T15020—1994

石英晶体元件

电子元器件质量评定体系规范

第51部分空白详细规范

.:

鉴定批准

Quartzcrystalunits—

Aspecificationinthequalityassessmentsystemforelectroniccomponents—

Part51Blankdetailspecification—Qualificationapproval

.:

(IEC61178-3-1:1993,Quartzcrystalunits

AspecificationintheIECQualityAssessmentSystem

forElectronicComponents(IECQ)—

Part3:Sectionalspecification—Qualificationapproval—

Section1:Blankdetailspecification,MOD)

2012-11-05发布2013-02-15实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T12273501—2012

.

前言

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范分为如下几个部分

GB/T12273《》:

第部分总规范

———1:;

第部分使用指南

———2:;

第部分标准外形和引出端连接

———3:;

第部分分规范能力批准

———4:;

第部分空白详细规范能力批准

———4.1:;

第部分分规范鉴定批准

———5:;

第部分空白详细规范鉴定批准

———5.1:。

本部分为的第部分

GB/T122735.1。

本部分代替电子设备用石英晶体元件空白详细规范电阻焊石英晶体元

GB/T15020—1994《

件评定水平与相比除编辑性修改外主要变化如下

E》,GB/T15020—1994,:

由于本标准的体系增加了分规范空白详细规范根据分规范修改相应的引用内容

———,;

删去了应该直接写在分规范中的规定内容

———;

标准编号按标准不同部分进行了调整

———。

本部分使用重新起草法修改采用石英晶体元件电子元器件质量评定

IEC61178-3-1:1993《IEC

体系第部分分规范鉴定批准第一篇空白详细规范

3::》。

本部分与相比在结构上有调整原因是被代

IEC61178-3-1:1993,:IEC61178-1IEC60122-1:2002

替目前的其他部分还继续有效根据的预计结构本部分应为的

,IEC61178。IEC60122,IEC60122

第部分待修订时即进行编号调整本部分采用了的预计结构这样的结构清晰并方

5.1,。IEC60122。

便使用并且与有关频率控制和选择用元器件规范结构的调整趋势一致

,IEC。

本部分作了下列编辑性修改

:

外形和尺寸图由第三视角改为第一视角

———;

规范性引用文件中的文件为目前的现行版本

———IEC。

用代替计数检查抽样方案和程序前者与后者在使用中

———GB/T2828.1—2003IEC410:1973,

无技术性差异

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出

本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会归口

(SAC/TC182)。

本部分起草单位中国电子元件行业协会压电晶体分会中国电子技术标准化研究所

:、。

本部分主要起草人章怡姜连生李晓英

:、、。

本部分所代替标准的历次版本发布情况为

:

———GB/T15020—1994。

GB/T12273501—2012

.

序言

空白详细规范

空白详细规范是分规范的补充文件它规定了详细规范的格式和最小内容要求

,。

在制定详细规范时应将第章要求考虑进去

,GB/T12273—19962。

对于生产批量小的晶体元件可以不采用本规范推荐采用能力批准

,,。

详细规范的识别

对于本页方括号的数字应在相应位置填上下列相应项目内容

,:

按其权限发布详细规范的国家标准机构名称适用时可从该机构得到详细规范

[1]。,。

编号和由分配给的详细规范编号

[2]IECQIEC。

总规范和相关分规范编号及其版本号若有差异也可加上国家标记

[3]:,。

与编号不同的详细规范的国家编号出版日期以及国家体制要求的任何进一步内容

[4]IECQ、,

和任何修订的编号

石英晶体元件的识别

石英晶体元件或石英晶体元件范围的简述如标称频率泛音次数切型振动模式

[5](、、、)。

按及其修改件的典型结构的内容适用时如电阻焊冷压焊

[6]IEC60122-3()(、)。

对于和详细规范给出的内容应按和填入足够的内容

[5][6],IECQC001005IECQC001004。

标有主要互换性尺寸的外形图它应符合及其修订件和或符合相应的国家或

[7],IEC60122-3()

国际标准文件中关于外形的要求此外该图也可在详细规范的附录中给出

。,。

可从获得规范版本号

[1][2]

发布日期

第页共页

,

GB/T12273—1996[3][4]

鉴定批准评定质量的元器件

外形和尺寸石英晶体元件

[7][5]

第一视角

()

晶体盒

[6]

单位

:mm

GB/T12273501—2012

.

石英晶体元件

电子元器件质量评定体系规范

第51部分空白详细规范

.:

鉴定批准

1额定值

优先额定值见的

GB/T12273—19962.3。

工作温度范围

———;

电路条件

———;

最大激励电平

———;

激励电平测量

———;

气候类别

———;

机械试验严酷度

———。

按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从得到

IECQC001005。

2特性值

特性值见的

GB/T12273—19962.2。

标称频率范围

———/;

基准温度

———;

频差

———;

最大谐振电阻

———。

另外也可以规定下述的其他特性

,:

最大并电容

———;

动态参数或频率牵引范围

———;

无用响应

———;

老化

———;

激励电平相关性

———。

注若有必要上述特性可以表

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