超声检测工艺卡

超声检测工艺卡工艺卡编号：产品名称产品编号规格材质检测部位□焊缝□板材□锻件□管件□焊接方法坡口型式工件厚度mm受检产品状态□制造□安装□返修□在用□检测面要求检测方法标准质量查收标准合格级别检测比率％工艺规程编号检测方法横波：□直射波□反射波/纵波：□单直纵波□双斜（小角度）纵波耦合方式耦合剂种类扫查方式扫查速度mm/s扫查覆盖率＞晶片直经15％仪器型号标准试块参照反射体φ探头种类晶片尺寸mm晶片有效面积2mm探头K值探头前沿mm探头频率MHz扫描线调治Y：/X：/S：DAC曲线绘制□坐标曲线□面板曲线表面/曲面补dB扫查矫捷度Ф偿基准波高％评定矫捷度Ф检测地域要求检测地域：焊缝宽度＋两侧热影响区。探头搬动范围应≥1.25P（P＝2TK）检测部位表示图及表记规定：编制人：资格：

年代日

审察人：资格：

年代日一台现场组焊反应器，材质为16MnR，壁厚42mm。现要求对其主体对接环焊缝进行100%超声波检测（检测技术等级为C级），请按JB/T4730-2005填写下表检测工艺超声波探伤工艺卡工件名称表面准备仪器型号

反应器对接环焊缝

规格检测比率耦合剂纵波检测试块检测矫捷度探头频率

晶片直径表面补偿

扫描调治扫查速度弊端记录及备注：横波检测探头

K值

试块扫描调治

表面补偿扫查矫捷度

扫查覆盖率扫查方式检测区宽度弊端指示长度测定方法：

探头搬动区编制审察赞同注：编制等栏填写资格证书级别或职务，不要写名字。超声波探伤工艺卡工件名称反应器对接环焊缝规格42mm材质16MnR检测机会焊后24小时表面准备焊缝磨平并露出金属光检测比率100%泽仪器型号CTS-22A等耦合剂机油或化学浆糊纵波检测无弊端处第二次底波调试块母材大平底检测矫捷度节为荧光屏满刻度的50%探头频率2-5MHz晶片直径10-25mm表面补偿0dB扫描调治深度1：1扫查速度150mm/S弊端记录及备注：1.凡弊端信号高出荧光屏满刻度的20%的部位，应在工件表面作出标记，并予以记录。横波检测探头K值K1、K2试块CSK-ⅠA、ⅢA扫描调治深度1：1表面补偿实测扫查矫捷度84mm处φ1×6-9-补偿dB扫查覆盖率15%以上纵向弊端检测：锯齿，前后、左右、转角、环绕。横向弊端检测：在焊扫查方式缝及两侧热影响区作两个方向的平行扫查。扫查矫捷度应比纵向检测灵敏度再提高6dB。检测区宽度焊缝自己加两恻各10mm探头搬动区大于等于210mm弊端指示长度测定方法：1)当弊端反射波位于Ⅱ区时，用最大波高6dB法或端点6dB法测其指示长度；(2)当弊端反射波峰位于Ⅰ区，如认为有必要记录时，将探头搬动，使波幅降到评定线，测其指示长度编制

II级

审察

III级

赞同

技术负责人四．工艺题（填写工艺卡并回答以下问题，共30分）1、表1为某高压气体贮罐超声波检测工艺卡，请将工艺卡中的空白项填写达成。（15分，每空1分）表1超声波检测工艺卡工件号工件名称高压气体贮罐规格Φ2800×1600×材质18MnMoNbR40mm焊接方法埋弧自动焊容器种类Ⅲ焊缝编号H—1-9；B—1-8焊缝种类纵、环对接焊缝执行标准JB/T4730-200查收规范《容规，GB150-985合格级别Ⅰ检测比率100%表面状态打磨至金属光彩仪器型号CTS-22水平线性误差≤1%垂直线性误差≤5%探头参数2.5P10×16K2试块型号CSK-ⅠA；CSK-ⅢA扫描线调治深度1：1扫查矫捷度Φ1×6-9检测机会焊后24h后及热办理后距离波幅曲线/表面损失补偿4dB耦合剂化学浆糊探伤面外壁焊缝两侧探头搬动宽度2.5KT/200表示图编制

×××审察

××

××年×月×日UT--ⅡUT--Ⅲ2、依照JB/T4730-2005标准规定，超声波检测时，在哪些情况下需要对仪器和探头系统进行重新核查？（5分）答：（1）校准后的探头、耦合剂和仪器调治旋钮发生改变时；（2）检测人员思疑扫描量程或扫查矫捷度有变化时；（3）连续工作4h以上时；（4）工作结束时。3．依照JB/T4730-2005标准规定，该工件的纵、环焊缝可否需要作横向检测，如何进行横向检测？（5分）答:应进行斜平行扫查,并把各线的矫捷度均调高6dB.4、若是在该容器超声波检测中发现有裂纹存在，应如何办理？（5分）答：（1）第一应将裂纹打磨至肉眼不可以见，必要时可进行表面检测，以确认裂纹除掉干净；（2）返修后应采用同样的工艺进行超声检测，以确认可否产生新的超标弊端；（3）依照相关规程（《容规》、《检规》）应确定可否需要进行扩探。注：编制等栏填写资格证书级别或职务，不要写名字。探伤仪采用A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为0.5MHz～10MHz，仪器最少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。探伤仪应拥有

80dB

以上的连续可调衰减器，步进级每档不大于

2dB，其精度为任意相邻

12dB

误差在±

1dB

以内，最大累计误差不高出

1dB。水平线性误差不大于1%，垂直线性误差不大于5%。其他指标应吻合JB/T10061的规定。探头2晶片面积一般不应大于500mm，且任一边长原则上不大于25mm。单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°，主声束垂直方向不应有明显的双峰。超声探伤仪和探头的系统性能在达到所探工件的最大检测声程时，其有效矫捷度余量应不小于10dB。仪器和探头的组合频率与公称频率误差不得大于±10%。仪器和直探头组合的始脉冲宽度（在基准矫捷度下）：对于频率为5MHz的探头，宽度不大于10mm；对于频率为2.5MHz的探头，宽度不大于15mm。直探头的远场分辨力应不小于30dB，斜探头的远场分辨力应不小于6dB。仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试。检测面的确定，应保证工件被检部分均能获得充分检查。焊缝的表面质量应经外观检测合格。所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以除掉，其表面粗糙度应吻合检测要求。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完满性，否则应做合适的办理。扫查覆盖率为保证检测时超声声束能扫查到工件的整个被检地域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。探头的搬动速度探头的扫查速度不应高出150mm/s。当采用自动报警装置扫查时，不受此限。扫查矫捷度扫查矫捷度平时不得低于基准矫捷度。耦合剂应采用透声性好，且不伤害检测表面的耦合剂，如机油、浆糊、甘油和水等。矫捷度补偿耦合补偿。在检测和弊端定量时，对付由表面粗糙度引起的耦合损失进行补偿。衰减补偿。在检测和弊端定量时，对付材质衰减引起的检测矫捷度下降和弊端定量误差进行补偿。曲面补偿。对探测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件同样或周边的试块，经过比较试验进行曲率补偿。3.4系统校准和复核一般要求校准应在标准试块进步行，校准中应使探头主声束垂直对准反射体的反射面，以获得牢固的和最大的反射信号。仪器校准每隔三个月最少对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定，测定方法按JB/T10061的规定进行。新购探头测定新购探头应有探头性能参数说明书，新探头使用前应进行前沿距离、K值、主声束偏离、矫捷度余量和分辨力等主要参数的测定。测定应按JB/T10062的相关规定进行，并满足其要求。检测前仪器和探头系统测定斜探头系统，检测前应测定前沿距离、K值和主声束偏离，调治或复核扫描量程和扫查矫捷度。使用仪器-直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、矫捷度余量和分辨力，调治或复核扫描量程和扫查矫捷度。检测过程中仪器和探头系统的复核遇有下述情况对付系统进行复核：校准后的探头、耦合剂和仪器调治旋钮发生改变时；检测人员思疑扫描量程或扫查矫捷度有变化时；连续工作4h以上时；工作结束时。检测结束前仪器和探头系统的复核每次检测结束前，对付扫描量程进行复核。若是任意一点在扫描线上的偏移高出扫描线读数的10%，则扫描量程应重新调整，并对前一次复核以来所有的检测部位进行复检。每次检测结束前，对付扫查矫捷度进行复核。一般对距离-波幅曲线的校核不应少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB，则对付前一次复核以来所有的检测部位进行复检；如幅度上升2dB，则对付所有的记录信号进行重新评定。校准、复核的相关注意事项校准、复核和对仪器进行线性检测时，任何影响仪器线性的控制器（如控制或滤波开关等）都应放在“关”的地址或处于最低水平上。钢板用标准试块：CBⅠ、CBⅡ；锻件用标准试块：CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ；焊接接头用标准试块：CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。钢板用标准试块：CBⅠ、CBⅡ；锻件用标准试块：CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ；承压设备对接焊接接头超声检测和质量分级焊接接头用标准试块：CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。超声检测技术等级超声检测技术等级选择超声检测技术等级分为A、B、C三个检测级别。超声检测技术等级选择应吻合制造、安装、在用等相关规范、标准及设计图样规定。不同样检测技术等级的要求5.1.2.2.1A级仅适用于母材厚度≥8mm～46mm的对接焊接接头。可用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面单侧进行检测。一般不要求进行横向弊端的检测。5.1.2.2.2B级检测：母材厚度≥8mm～46mm时，一般用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面两侧进行检测。母材厚度大于46mm～120mm时，一般用一种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面两侧进行检测，如受几何条件限制，也可在焊接接头的双面单侧或单面两侧采用两种K值探头进行检测。母材厚度大于120mm～400mm时，一般用两种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面两侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°。应进行横向弊端的检测。检测时，可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成10°～20°作两个方向的斜平行扫查，见图12。如焊接接头余高磨平，探头应在焊接接头及热影响区上作两个方向的平行扫查，见图13。5.1.2.2.3C级检测：采用C级检测时应将焊接接头的余高磨平，对焊接接头两侧斜探头扫查经过的母材地域要用直探头进行检测，检测方法见。母材厚度≥8mm～46mm时，一般用两种K值探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头的单面两侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°，其中一个折射角应为45°。母材厚度大于46mm～400mm时，一般用两种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面两侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°。对于单侧坡吵嘴度小于5°的窄缝隙焊缝，如有可能应增加对检测与坡口表面平行弊端有效的检测方法。应进行横向弊端的检测。检测时，将探头放在与焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查，见图13。图12斜平行扫查图13平行扫查标准规定A、B、C三个检测技术等级，是为了便于依照承压设备产品的重要程度进行采用，原则上按相关标准和相关技术文件的规定执行级检测适用于锅炉、压力容器及压力管道相关的支承件和结构件焊缝检测级检测适用于一般锅炉、压力容器及压力管道对接焊缝检测C级检测适用于重要锅炉、压力容器及压力管道对接焊缝检测主要差异有以下6个方面厚度范围，A级适用于母材厚度≥8-46mm，B级和C级适用于母材厚度≥8-400mm探头数量，A级用一种K值探头，B级用一种或两种K值探头，C级用两种K值探头检测面，A级为单面单侧，B级和C级为单面两侧或双面两侧对横向弊端的检测，A级一般不需要检测横向弊端，B级和C级应检测横向弊端对焊接接头余高的要求，A级、B级不要求将焊接接头的余高磨平，而C级要求将焊接接头的余高磨平对扫查区母材的检测，C级要求用直探头对斜探头扫查经过的母材地域进行检测。A级、B级则不需要CSK-ⅠA、CSK-ⅡA和CSK-ⅢA试块适用壁厚范围为6mm～120mm的焊接接头，CSK-ⅠA和CSK-ⅣA系列试块适用壁厚范围大于120mm～400mm的焊接接头。在满足矫捷度要求时，试块上的人工反射体依照检测需要可采用其他部署形式或增加，也可采用其他型式的等效试块。检测区的宽度应是焊缝自己，再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段地域，这个地域最小为5mm，最大为10mm，见图18。采用一次反射法检测时，探头搬动区大于或等于1.25P：P=2TK采用直射法检测时，探头搬动区应大于或等于0.75P。探头K值（角度）斜探头的K值（角度）采用可参照表18的规定。条件赞同时，应尽量采用较大K值探头。表18介绍采用的斜探头K值板厚T，mmK值6～253.0～2.0（72°～60°）>25～462.5～1.5（68°～56°）>46～1202.0～1.0（60°～45°）>120～4002.0～1.0（60°～45°）检测频率检测频率一般为2MHz～5MHz。对于C级检测，斜探头扫查声束经过的母材地域，应先用直探头检测，以便检测可否有影响斜探头检测结果的分层或其他种类弊端存在。表19距离-波幅曲线的矫捷度试块型式板厚，mm评定线定量线判废线6～4