X线测厚和红外测厚的比较

1、线测厚和红外测厚的比较性能红外探头X线探头优势方放射性非放射性低能量放射性，宽免辐射安相同全同意管理薄膜温度薄膜自己温度及雾度变化影响无影响X线探头及雾度红外测量结果薄膜抖动不透明及有孔薄膜，红外线散射直线柱X线，无影响X线探头及抖动对测量有影响。增加剂吸守信号会变化，校正后即X线探头能对应测量值测量范围TFG710：235微米，32000微米X线探头FG710：105000微米测量精度0.05微米0.1%or0.03微米X线探头使用寿命灯泡，马达保证使用5年X线管平均使用10年以上X线探头响应时间1秒20毫秒X线探头发射窗10毫米直径8毫米直径X线探头一、简述：1、红外测厚：红外测厚探头是利

2、用特定红外线波段在特定的塑料薄膜中被强烈吸取的原理测量薄膜的厚度。该传感器对单一透明资料的检测牢固，不受周边环境变化的影响。但对增加剂及颜色的变化敏感，在同一条生产线上要生产不相同成分的产品及多种资料的产品不能够适应。2、X线测厚：线测厚探头是利用X线管通电产生X线作为信号源来检测塑料薄膜的厚度，只对总资料成分的变化产生反应。X线探头有诸多优点：非放射性物质；无需使用同意证；测量范围广；测量精度高；各种塑料都可测量。3、P+F（北京）机电科技有限公司开发了全自动模头螺栓对位系统软件（AutoMappingsoftware）。利用完好相同的前后二台测厚仪，测量正确，真切实现测厚仪剖面完好正确的自

3、动对应，不需要任何的人工干预，既即是在改变生产线速度或改变产品的宽度情况下，薄膜测厚仪能在每次扫描时依照所测薄膜宽度的变化，自动调整螺栓的对应地址关系。前后二台测厚仪完好相同，能够互换使用；二台测厚仪各自独立运行，互不搅乱；模头螺栓控制柜独立运行，从测厚仪中读取数据后直接控制螺栓。该自动对位系统实现了剖面和螺栓的正确对应，无论铸片剖面如何变化，薄膜测厚仪都能精确追踪。所以薄膜的平均性和膜卷的平展度获取最大的改进。该套系统已在国内多条双拉生产线上实质应用，收效很好。二、详尽原理简单介绍以下：1、铸片测厚仪依照铸片缩颈量的变化，自动确定铸片剖面上每个螺栓的地址；（模头的宽度已知，铸片的宽度被测量出

4、来，缩颈量模头宽铸片宽；只有模头二边的螺栓参加缩颈，由缩颈量，可计算出参加缩颈的螺栓数，最后确定出铸片上每个螺栓在铸片剖面上的地址。）2、铸片测厚仪依照剖面上螺栓的地址，计算出每个螺栓所占全部质量的百分比；（铸片测厚仪从一边扫描到另一边结束，测量出100的横向质量分布，每个螺栓的地址已知，所以即可得出每个螺栓所占质量的百分比。）3、薄膜测厚仪也是测量全部100质量的分布剖面，依照铸片测厚仪每个螺栓所占的百分比，就可以确定每个螺栓在薄膜剖面上所对应的地址，这样就确定了每个螺栓在薄膜剖面上的宽度，从而计算出相应的平均厚度，用该平均厚度和目标值进行比较，对相应的模头螺栓进行相应的调控。（薄膜测厚仪必

5、定是要在切边从前测量，这样就保证测量的也是一边到另一边全部剖面的100%的横向质量分布，由于生产线的输出是必然的，单位时间供应铸片测厚仪和薄膜测厚仪的量是相同的，所以在薄膜剖面上就可以依照铸片剖面上每个螺栓所占的百分比分布来确定出螺栓的宽度及位置。获取每个螺栓的平均厚度或克重量。）4、薄膜测厚仪上螺栓的地址不固定，完好依照铸片剖面的变化和薄膜剖面的变化自动追踪，自动调整。当挤出量或生产线速度的变化引起铸片宽度发生改变时；当拉伸比调整或变化引起薄膜宽度改变时；该系统软件能在每次扫描后就依照所测结果自动追踪调整每个螺栓在铸片和薄膜上对应的地址。前后测厚仪部署图双拉实质应用图P+F产品专业为双拉设备

6、配套，所以有很多特地给双拉的设计和应用：1、全自动螺栓对应软件Auto-mapping；2、前后测厚仪使用相同的探头；3、前后测厚仪都全幅扫描检测；4、专用膜边剖面显示画面；5、最正确螺栓功率存贮。内容总结（1）线测厚和红外测厚的比较一、简述：1、红外测厚：红外测厚探头是利用特定红外线波段在特定的塑料薄膜中被强烈吸取的原理测量薄膜的厚度（2）X线探头有诸多优点：非放射性物质（3）前后二台测厚仪完好相同，能够互换使用（4）二台测厚仪各自独立运行，互不搅乱（5）模头螺栓控制柜独立运行，从测厚仪中读取数据后直接控制螺栓（6）该套系统已在国内多条双拉生产线上实质应用，收效很好内容总结（1）线测厚和红外测厚的比较一、简述：1、红外测厚：红外测厚探头是利用特定红外线波段在特定的塑料薄膜中被强烈吸取的原理测量薄膜的厚度（2）X线探头有诸多优点：非放射性物质（