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文档简介

1、 全面品質管理:專注於六(個)標準差NSYSU_94 作業管理-第七章指導 教授 : 盧淵源 教授第七組成員 : 吳瑞春9222404002 潘呂美9421408007 楊志偉9421408040 許勢斌9421408029 陳源裕8922404021 鍾少櫻 9122404012 邱盟才9421408047 CASE STUDY 2B/L Waving Mura 遞減目錄1.QIT 成員介紹2.主題/目標3.現況分析4.原因分析5.真因驗證6.效果評估7.下期計劃1. QIT成員介紹For reference.3.現況分析3-1. B/L Waving Mura月推移3-2.Waving M

2、ura主要機種層別4-1. HSDs B/L Waving Mura發生原因 B/L Waving MuraFilm材或塑框尺寸超出規格導致相互干涉DBEF-M之特殊物性(變型量/熱膨脹係數)Cell與Film材間gap 太大Film與塑框間的距離太小導致干涉4.原因分析要因分析圖5-1.塑框(Frame)與Film材尺寸調查表(Aging 前)5.真因驗證結論: B/L原材的Frame與Film材尺寸量測皆在規格內.5-2. 發現Waving Mura不良站別LCM後工程LCM前工程AgingWaving Mura不良 (Yes) Waving Mura不良 (No) 5-2. DBEF-M

3、&D-BEF 之熱膨脹係數調查結論: DBEF-M與DBEF雖有相近的熱膨脹係數,但實際上觀察發現由於DBEF-M 可靠度不佳,在高溫高濕下容易產生Waving變型 (內應 力釋放).*各機種之規格表結論: 150SX84 & 150SXA1使用Film材皆為DBEF-M,150PX14使用Film材為一般DBEF. 5-3. A1光電結論: 1.對策品300pcs投入驗證無waving mura不良. 2.150SX84不良率(Q3) 0.79% 0.13% (10+11月). 150SXA1不良率(Q3) 0.59% 0.84% (10+11月).5-5. A3光電結論: 1. 對策(a)

4、&(b)有waving mura不良品,對策(c)投入300pcs驗證無waving mura不良. 2. 150SX84不良率(Q3) 0.25% 0.11% (10+ 11月). 150SXA1不良率(Q3) 0.65% 0.08% (10+ 11月).5-6. A4光電結論: 1. 對策品20pcs投入驗證無waving mura不良,預定2004/1再投300pcs. 2. 150PX14不良率(Q3) 2.01% 2.24% (10+ 11月).結論: 150SX84 1.43%(Q3) 0.26% (10+11月) 150SXA1 1.25%(Q3) 0.94% (10+11月) 150PX14 2.01%(Q3) 2.24% (

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