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文档简介

1、第三章 测试经济学和产品质量3.1 测试经济学3.2 良率3.3 测量品质的缺陷等级13.1 测试经济学总成本（TC） = 固定成本（FC） +可变成本（VC）平均成本（AC） = 总成本/产量2Total CostCost per ICVariable cost3Die Cost4Wafer Size5Yield63.1 测试经济学十倍法则： 如果一个芯片故障没有在芯片测试时发现，那么在PCB级别发现故障的成本就是芯片级别的10倍。 如果一个PCB故障没有在电路板测试时被发现，那么在系统级别发现错误的成本将是PCB级别的10倍。73.2 良率良率（yield） = 好的芯片数目/生产出来的总

2、的芯片数圆片良率：一个圆片上的好芯片的平均数83.2 良率93.3 测量品质的缺陷等级缺陷级别：在通过测试的芯片中，故障芯 片所占的比例。通常用每百万个芯片中的故障芯片数来表示（ppm）。10EX3.1There are some parameters of two different process of a chip. The expected sale of this chip between 100,000 and 500,000. can you figure out the cost of per chip with 65nm and 90nm process. Everyone can choose a different productio

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