品管七大手法讲解

1、.：.；品 管 七 大 手 法 講 解 一.七大手法簡介:A.特性要因圖:尋找因果關係.B.柏拉圖:找出“重要的少數.C.直方圖:了解數據分布與制程才干.D.層別法:按層分類,分別統計分析.E.查檢表:調查記錄數據用以分析.F.分布圖:找出兩者的關係.G.控制圖:了解制程變異.二.品管七大手法所體現的精神:1.用事實與數據說話.2.全面預防.3.全要素、全過程的控制.4.依據PDCA循環突破現狀予以改善.5.層層分解、重點管理.三.特性要因圖: 對於結果與缘由間或所期望之效果與對策間的關係,以箭頭連結,詳細分析缘由或對策的一種圖形稱為特性要因圖,工程魚骨圖或因果圖. 它為1952年日本品管權威

2、學者石川馨博士所發明,又稱“石川圖.作法:1.4M1E法:(人、機、料、法、環境)特性60小因子小小因子人機资料方法環境2.5W1H法:(What、Where、When、Who、Why、HOW) 3.創造性思索法:希望點例舉法、缺點列舉法、特性列案法.4.腦力激蕩法:“Brain Storming嚴禁批評、自在奔放.兩類特性要因圖:多次折彎累積偏向工程人員未切實驗證定位方式不合理折彎間隙變化影響大模修人員維修方式不當品管人員未作CSI驗證實配間隙小對變異要求苛刻產品產品產品 鎖扣不 回彈1.追求缘由型:方法人員模具定位不穩定模具設備老化模具改善不及時模具保養不當品管人員檢查不落實責任心不強模修

3、人員技艺不夠教育訓練不夠產線未做好自主檢查品質意識不夠教育訓練不夠規格不完善鋼材不良新機種承接不力治具不完善自主檢查未落實品管管理方法不當作業方法不當專案改善不力現場管理不嚴模具設計不合理設備維修不力其他為何SWR那麼高?2.追求對策型:加強生產作業稽核品質情報及時反饋推動品質活動提案8件改善系統 文件規格執行度94%一切產品導入SPC兩個產品導入CCD應用QA Network干部學習FMEA開始研讨衝件CSI改善品質記錄稽核100%執證上崗他山之石檢討觀摩兄弟單位5次教育訓練140hr/人/年IPQC與FQC交叉擔綱每日始業點檢推動模具稽核每日IPQC作業點檢點檢結果反饋隨時問題反饋模具問題

4、反饋規格問題反饋來料問題反饋每周品質狀況匯整QIT活動10次以上協助生產品質教育訓練品質檢討會推動成立QCC 18圈以上他山之石匯整完善相關品質系統開發導入品管新技術提升品管人員素質達成年度任务目標四.柏拉圖:1897年,意大利學者柏拉撬分析社會經濟結構,發現絕大多數財富掌握在極少數人手里,稱為“柏拉法則.美國質量專家朱蘭博士將其應用到品管上,創出了“Vital Few, Trivial Many(重要的少數,瑣細的多數)的名詞,稱為“柏拉圖原理.定義:根據所搜集之數據,按不良缘由、不良狀況、不良發生位置等不同區分標準,以尋求占最大比率之缘由,狀況或位置的一种圖形.ABCDE不良率100%累

5、計 影 響 度 項目作法:留意事項:1.橫軸按項目別,依大小順序由高而低陈列下來,“其他項排末位.2.次數少的項目太多時,可歸納成“其他項.3.前23項累計影響度應在70%以上.4.縱軸除不良率外,也可表示其他項目.柏拉圖的用途:1.作為降低不良的依據.2.決定改善的攻擊目標.3.確認改善效果.4.用於發掘現場的重要問題點.5.用於整理報告或記錄.6.可作不同條件的評價.柏拉圖應用範圍:1.時間管理.2.平安.3.士气.4.不良率.5.本钱.6.營業額.7.醫療.ABC法應用:A.時間管理.B.倉務管理.C.其他.柏拉圖實例:五.層別法:定義:為區別各種不同缘由對結果之影響,而以個別缘由為主體

6、,分別作統計分析的方法,稱為層別法.分類:1.時間的層別.2.作業員的層別.3.機械、設備層別.4.作業條件的層別.5.原资料的層別.6.地區的層別等.實例一:资料人員美國臺灣大陸周師傅98%95%94%李師傅95%96%93%劉師傅94%93%92%結果顯示,周師傅的方法配美國资料良品率最高,為98%. 實例二:法拉利笼动压成型质量情况日报表日期： 班别：白班 夜班 模号：第一套 第二套 第三套序号厂商消费数良品数制程不良数制程不良率来料不良率总不良率制 程 不 良 项 目小计拉裂其它1234512345眼睛裂嘴巴裂前角裂后尾裂变形缺料刮伤压伤1234實例三:某電子廠有批精细零件在下工程裝配

7、時發生困難,經直方圖分析,超出規格甚多,再將此100個數據,按A,B,C三種機種別加以層別,發現A機種的產品低於規格下限的很多,而C機種的產品超出規格上限的很多,B機種的產品完全在規格內.因此,只需針對A,C兩機種著手改善即可.規格規格1ABC規格規格規格規格3B六.查檢表: 為了便於搜集數據,运用簡單記錄填記並予統計整理,以作進一步分析或作為核對,檢查之用而設計的一種表格或圖表.作法:1.明確目的.2.決定查檢項目.3.決定檢查方式(抽檢、全檢).4.決定查驗基準、數量、時間、對象等.5.設計表格實施查驗. 查檢表的種類:1.記錄用查檢表: 主要功用在於根據搜集之數據以調查不良項目、不良主因

8、、工程分布、缺點位置等情形.必要時,對搜集的數據要予以層別. 作业者机 械不良种类日期ABNO.1NO.2NO.1NO.2合计尺寸疵点资料其他尺寸疵点资料其他尺寸疵点资料其他尺寸疵点资料其他月 日月 日2.點檢用查檢表: 要功用是為要確認作業實施、機械設備的實施情形,或為預防發生不良或事故,確保平安時运用.這種點檢表可以防止遺漏或忽略呵斥缺失的產生. 把非作不可、非檢查不可的任务或項目,按點檢順序列出,逐一點檢並記錄之.實例:设备每日检查表编号 日期工程1234567891011121314151各部位油量能否正常2操作按钮功能确认3气缸及操作手柄能否正常4电机、传动链条声音能否正常5自动上料

9、系统能否正常6光电感应系统能否正常7自动送料能否到位8手动送料能否正常9放松手柄功能确认10各部位之清洁含内辊轮OK划“0NG划“X不需点检工程划“未作业划“/点检点检人审核工务稽查搜集數據應留意的事項:1.搜集的數據必須真實,不可作假或修正.2.搜集的數據應能獲得層別的情報.3.查檢項目基準需一致.4.樣本數需有代表性.5.明確測定、檢查的方法.6.明確查驗樣本的搜集方法、記錄方式、符號代表意義.7.慎用他人提供的數據.七.分布圖: 為研讨兩個變量間的相關性,而搜集成對二組數據(如溫度與濕度或海拔高度與濕度等),在方格紙上以點來表示出二個特性值之間相關情形的圖形,稱之為“分布圖. 關係的分類

10、:A.要因與特性的關係.B.特性與特性的關係.C.特性的兩個要因間的關係.分布圖的判讀:1.強正相關:X X增大,Y也隨之增大,稱為強正相關. Y2.弱正相關: X增大,Y也隨之增大,但增大的幅度不顯著.YX3.強負相關: X增大時,Y反而減小,稱為強負相關.YX4.弱負相關: X增大時,Y反而減小,但幅度並不顯著.YX5.曲線相關: X開始增大時,Y也隨之增大,但達到某一值后,當X增大時,Y卻減小.XYYX6.無相關: X與Y之間毫無任何關係.分布圖判讀留意事項:1.留意有無異常點.2.看能否有層別必要.3.能否為假相關.4.勿依據技術、經驗作直覺的判斷.5.數據太少,易發生誤判.SPC -

11、 Statistical Process Control. 統計制程控制. 由制程調查來改進制程才干,不斷降低產品品質變異性,而提升產品品質的一種方法. 七十年代風行於日本,以致於仍有不少日本人至今仍坚信其效果,而抵觸ISO9000的導入. 它的主要工具為控制圖.質量有兩大特性:11.規律性22.波動性: 正常波動、異常波動 控制圖的效果:aA. 及時掌握異常波動,抑制影響要素,維持制程穩定.bB. 了解制程才干.(Cpk、Ca、Cp)cC. 應客戶的要求,提供給客戶作為質量控制的依據.控制圖與直方圖的區別: 1. 控制圖控制時間段, 直方圖控制時間點.2 .控制圖反映的Cpk是動態的Cpk,

12、 直方圖反映的Cpk是靜態的Cpk.3.“直方圖是控制圖的基礎,控制圖是直方圖的升華.八.直方圖:直方圖是將所搜集的測定值或數據之全距分為幾個相等的區間作為橫軸,並將各區間內之測定值所出現次數累積而成的面積,用柱子排起來的圖形.製作步驟:1.製作次數分配表: A.由全體數據中找到最大值與最小值.如:200個數據中之170和124. B.求出全距(最大值與最小值之差).全距=170-124=46 C.決定組數,普通為10組左右,不宜太少或太多. 參照下表進行分組:数据数组数80-1006-10100-2507-12250以上10-20附表:1321621661451531481271551441

13、571501261321271471441551501331621471501571451561521501671521421471421481431521451341601421491671461571631601531471481401521501421531421521441581431481521471531641261591541561471411701511411501421521441581431481521471531641261591541561471411701511411501511471521441471421421501501271621601421401431261

14、52147149170最大值124最小值D.決定組距: 組距=全距/組數E.決定各組之上下組界. 1.最小一組的下組界=最小值-測定值之最小位數/2 2.最小一組的上組界=下組界+組距=123.5+4=127.5 依此類推.F.作次數分配表.(如附表)附表:200 合 計 2169.5167.5171.5 12 4165.5163.5167.5 11 10 161.5159.5163.5 10 13 157.5155.5159.5 9 23 153.5151.5155.5 8 32 149.5147.5151.5 7 37 145.5143.5147.5 6 34 141.5.5143.5 5

15、 17 .5.5.5 4 11 133.5131.5.5 3 7 129.5127.5131.5 2 10 125.5123.5127.5 1次 數 劃 記組中點 組 界組 號2.製作直方圖:畫出短形方塊及規格的上限及下限.(如附表)125.5133.5141.5149.5157.5165.5129.5.5145.5153.5161.5169.5次 數10203040n=200 x=145.5s=9.76制品名:工程名:期 間:作成月日:作成者:Su=190Sl=130直方圖常見的形態:1.正常型:(如附圖)2.鋸齒型:(如附圖)3.偏態型:(如附圖)4.絕壁型:(如附圖)5.雙峰型:(如附圖

16、)6.离島型:(如附圖)7.高原型:(如附圖)直方圖的應用:1.測知制程才干,作為制程改善依據. 標準差S愈小愈好,平均值越接近規格中限越好. 平均值X= 代表集中趨勢. X1+X2+XnN代表分散程度標準值S=規格下限規格上限正態分布:T2兩邊無限延伸,當3S= 時,其分布規格範圍占總數據分布範圍的99.7%.三個重要指標:100%12.5%50%025%A級B級C級D級規格中心(u)規格上下限A.準確度Ca(Capability of Accuracy). Ca = (%)= (%)實績中心值-規格中心值規格容許差X-UT/2B.精细度Cp(Capability of precision)

17、T規格容許差6r6倍標準偏向 Cp= =6r6r6r6rD級C級B級A級SLUSU規格下限規格中心規格上限Cp0.830.83Cp1.01.00CpCp 5產品有不良品產生,需作全數遷別,制程有妥善管理及改善之必要.缺乏 Sl Su 1.00Cp0.67 4使制程坚持於控制狀態,否則產品隨時有發生不良品的危險,需留意.警告 Sl Su 1.33Cp1.00 3理想狀態,繼續維持.合格 Sl Su 1.67Cp1.33 2制程才干太好,可酌情縮小規格,或考慮化管理與降低本钱.太佳 Sl Su Cp1.67 1 處 置制程才干判斷 分布與規格之關係 CpNO.sssss2.計算產品不良率:-6r-

18、5r-4r-3r-2r+6r+1r+2r+3r+4r+5r規格下限規格上限常態分配(規格中心不偏移)X-1r 317400 45500 2700 63 0.57 0.002 68.26 95.45 99.73 99.9937 99.999943 99.9999998 1r 2r 3r 4r 5r 6r 百萬分缺點數 百分比(%) Kr規格中心值往左、右移動1.5r常態分配規格下限規格上限-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5rX1.5r1.5r43 697700 308700 66810 6210 233 3.4 30.23 69.13 93.32 99.379

19、0 99.97670 99.999660 1r 2r 3r 4r 5r 6r 百萬分缺點數 百分比(%) Kr3.調查能否混入兩個以上不同群體: 兩個不同操作者,兩台不同機器,兩種不同资料,兩條不同生產線者.4.測知有無假數據:有無因測定誤差或檢查錯誤導致之假數據(絕壁型).5.測知分配型態,了解制程有無異常.6.藉以訂定規格界限:如為常態分布,普通來說,X+45為規格上限,X-45為規格下限.7.與規格或標準值比較: A.符合規格: 規 格制品範圍上限下限 a.理態型:(附圖)b.一側無余裕:(附圖)下限規 格制品範圍上限c.兩側無余裕:(附圖)規 格制品範圍上限下限d. 余裕太多:(附圖)

20、規 格 制品範圍上限下限B. 不符合規格:a.平均值偏左:(如附圖)SlSub.分散度過大:(如附圖)規 格制品範圍上限下限c.完全在規格外:(如附圖)制品範圍規格8.改善前后的比較:5月10日252015105077.278.279.280.281.282.283.284.2次 數規格下限規格上限xn=100 x=80.16(ms)S=1.01(ms)改善前動作時間(ms)77.278.28月10日動作時間(MS)次 數252015105079.280.281.282.283.284.2規格下限規格上限x改善后n=100 x=80.16(ms)S=1.01(ms)6r-PPM制程介紹:1.何

21、謂6r制程:(零缺陷的質量管理). 制程精细度 Cp=2.0、制程才干指數 Cpk1.5、即:規格範圍為數據分布範圍的2倍.2.以6r訂為品質缺點的基準理由: 在無制程變異情況下(Cp=Cpk=2.0),產生之缺點n率 為0.002PPM(10億分之2). 在制程無法消除變異情況下,Cp=2.0,Cpk=1.5產生之缺點n率為3.4PPM(百万分之3.4).-6r-5r-4r-3r-2r-1r+6r+1r+2r+3r+4r+5r68.26%95.44%99.73%99.9937%99.999943%99.9999998%附圖: 697,700 ppm 308,733 66,803 6,200

22、233 3.4 0.019 317,400 ppm 45,400 2,700 63 0.57 0.002 0.00003 1 2 3 4 5 6 7 中心偏移1.5r之缺陷數 中心不偏移時之缺陷數 r 數九.控制圖:“品質控制始於控制圖,終於控制圖. 控制圖,是一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明的制程才干的控制界限比較,而以時間順序用圖形表示者.直方圖控制圖旋轉90+3r-3ruUCLCLLCL控制圖與常態分配:U3r之範圍近似地可看作是一切數據分布範圍,近似程度為99.73%,因此通常以u3r作為控制上、下限,此即為肖華特博士所創的3r法. 0.27% 99.73% u3r 4.55

23、% 95.45% u2r 31.74% 68.26% u1r在外之或然率在內之或然率 ukr68.26%95.45%99.73%-3r-2r-1r+1r+2r+3r規格上限規格下限控制上限 規格值(中心值)控制下限X1X2X3X4X2X1X3X4X1X2X-R Chart原理表示圖:控制圖種類: 1.計量值控制圖:控制圖所依據的數據均屬於由量具實際量測而得. A.平均值與全距控制圖(X-R Chart). B.平均值與標準差控制圖(X-r Chart). C.中位值與全距控制圖(X-R Chart). D.單個數據控制圖(X Chart). E.最大值與最小值控制圖(L-S Chart). 2

24、.計數據控制圖: 控制圖所依據的數據均屬於以單位計數者.(如缺點數、不良數等). A.不良率控制圖(P Chart). B.不良數控制圖(Pn Chart). C.缺點數控制圖(C Chart). D.單位缺點數控制圖(U Chart).控制圖依用途分: 1.控制用控制圖:用於控制制程之品質,如有點子跑出界限時,立刻采取如下措施. A.清查不正常缘由. B.迅速消除此缘由. C.研讨采取防止此項缘由重復發生的措施.2.解析用控制圖: A.決定方針用. B.制程解析用. C.制程才干研讨用. D.制程控制之準備用. 1.控制用控制圖 先有控制界限,后有數據.(Process control ch

25、art)2.解析用控制圖 先有數據,后才有控制界限.(Set-up chart) X-R控制圖的定義 在計量值控制圖中,X-R控制圖系最常用的一種,所謂平均值與全距控制圖,系平均值控制圖(X Chart)與全距控制圖(R Chart)二者合並运用. 平均值控制系控制平均值的變化,即分配的集中趨勢變化;全距控制圖則控制變異的程度,即分配的離散程度的狀況.R X X4 X3X2X1SAMPLE TIME4/244/214/204/184/174/144/134/12 4/114/10 4/7 4/6 DATESAMPLING FREQUENCY: LCLS/S:DIE#:INSPECTOR: CL

26、SPEC:REV:M/C#: UCLPRODUCT UNIT:P/N:PERIOD:R CHARTX CHARTQUALITY CHARACTERISTIC:DESCRIPTION:TYPE: SET UP CHART PROCESS CONTROL CHART CHART23.9523.9323.91 RCHART0.050.020.00.x-R Control Chart 繪制步驟:11. Set up chart (解析用控制圖). a.選定控制項目 (工標作出規格)._ b.搜集數據(x1、x2、x3、x4).X1+X2+X3+X44 c.計算各組平均值: x = _ d.計算極差:

27、R = Xmax-Xmin_X1+X2+X3131 e.計算總平均值: x = R1+R2+R3131 f.計算极差平均值: R= g. 計算控制界限及繪出 x 控制圖: _ _ 中線 CLx = x_ 上線 UCLx = x + A2 R_ 下線 LCLx = x - A2 R R 控制圖 中線 CLR = R 上線 UCLR = D4 R 下線 LCLR = D3 R A2、D4、D3 由系統表查得. h. 點圖: 將數據點繪控制圖上,相鄰兩點用直線連接. i. 控制界限確定. j. 將計算出之控制界限確定為 “process control chart (控制用控制圖)之控制界限. 2.

28、Process Control Chart: a. 繪入 Set up chart之控制界限. b. 其他作法與 Set up chart 一样. c. 控制狀態判讀. d. 有異常狀態時,采取措施. f. 采取措施后,控制界限重新計算. 控制圖界限的計算X-R控制图群体及未知与知时之公式类别群体之及未知时群体之及知时X控制图CL X =XUCLX =X+A2RLCL X =X-A2RCL X =UCLX =+ALCL X =-AR控制图CL R =RUCLR =D4RLCL R =D3RCL R =d2UCLR =D2LCL R =D1三個原則: 1. “Set up chart階段: 如繪制控制界限后,發現有點子超界,則視為正常,無須改善.2.“Process Control Chart階段: 如Cpk不断在1.5以上,有必要提出建議制工更改控制規格,取消原控制,因Cpk=1.5時,不良率為3.4DPPM