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1、干涉仪基本内容定义工程机械仪器仪表光谱学-干涉仪知识大全基本内容interferometer利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两 束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而 某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的 变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的 微小改变量，从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量 光程差的精度，干涉条纹每移动一个条纹间距，光程差就改变一个波 长（10-7米），所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的，其 测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。根据光的干涉原理制成的一种仪器。将

2、来自一个光源的两个光束 完全分并，各自经过不同的光程，然后再经过合并，可显出干涉条纹。 在光谱学中，应用精确的迈克尔逊干涉仪或法布里-珀罗干涉仪，可 以准确而详细地测定谱线的波长及其精细结构。干涉仪分双光束干涉仪和多光束干涉仪两大类，前者有瑞利干涉 仪、迈克耳孙干涉仪及其变型泰曼干涉仪、马赫秦特干涉仪等，后 者有法布里-珀罗干涉仪等。干涉仪的应用极为广泛，主要有如下几 方面：长度的精密测量。在双光束干涉仪中，若介质折射率均匀且保 持恒定，则干涉条纹的移动是由两相干光几何路程之差发生变化所造 成，根据条纹的移动数可进行长度的精确比较或绝对测量。迈克耳孙 干涉仪和法布里-珀罗干涉仪曾被用来以镉红谱

3、线的波长表示国际米。折射率的测定。两光束的几何路程保持不变，介质折射率变化 也可导致光程差的改变，从而引起条纹移动。瑞利干涉仪就是通过条 纹移动来对折射率进行相对测量的典型干涉仪。应用于风洞的马赫- 秦特干涉仪被用来对气流折射率的变化进行实时观察。波长的测量。任何一个以波长为单位测量标准米尺的方法也就 是以标准米尺为单位来测量波长的方法。以国际米为标准，利用干涉 仪可精确测定光波波长。法布里-珀罗干涉仪（标准具）曾被用来确 定波长的初级标准（镉红谱线波长）和几个次级波长标准，从而通过 比较法确定其他光谱线的波长。检验光学元件的质量。泰曼干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜 和透镜等光学元件的质量。在

4、泰曼干涉仪的一个光路中放置待检查的 平板或棱镜，平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反 映到干涉图样上。若在光路中放置透镜，可根据干涉图样了解由透镜 造成的波面畸变，从而评估透镜的波像差。用作高分辨率光谱仪。法布里-珀罗干涉仪等多光束干涉仪具 有很尖锐的干涉极大，因而有极高的光谱分辨率，常用作光谱的精细 结构和超精细结构分析。历史上的作用。19世纪的波动论者认为光波或电磁波必须在 弹性介质中才得以传播，这种假想的弹性介质称为以太。人们做了一 系列实验来验证以太的存在并探求其属性。以干涉原理为基础的实验 最为精确，其中最有名的是菲佐实验和迈克耳孙-莫雷实验。1851年，A.H.L .菲佐用特别设计的干涉仪做了关于运动介质中的光速的实验，以验明运动介质是否曳引以太。1887年，A.A.迈克

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