教材--SPC应用导入ppt课件

1、Teacher:Jacky langSPC. 1-1 SPC(Statistical Process Control)之根本假設只需穩定且在控制狀態的製程, 才干生產出符合品質要求的產品,所以SPC是在生產過程中檢查產品品質並辨認其构成不良品的原因. 1-2 SPC之目標控制製程, 區分變異, 並在不良品生產前, 將問題予以解決. 1-3 品質變異的机遇缘由與非机遇缘由机遇缘由: 又稱正常缘由. 是原料, 機械, 人員, 方法在標準範圍內的變化, 因係由微小缘由所引起,引起之變化因此相當微小. 是一種正常變化, 其變化是不可防止的. 非机遇缘由可防止之缘由人為缘由特殊缘由不正常缘由, 異常缘由

2、部分缘由等等1. 統計製程控制(SPC)理念與作法.1-4 控制界限之選擇1-4-1 假设机遇缘由之要素所呵斥的本钱高可考慮运用較寬之控制界限反之采取較窄之控制界限1-4-2 假设生產之不良產品其輸出后果之本钱很大則非机遇缘由較為重要故需考慮运用較窄之控制圖1-4-3 假设机遇與非机遇缘由均為重要則可采用較寬之控制界限惟減少非机遇缘由冒險應考慮抽樣較多的樣本1-4-4 如按以往經驗超出控制界限情形很多時則运用較窄之控制界限為佳反之則运用較寬之控制界限1.統計製程控制理念與作法.控制圖是根據統計的常態分配的三個標準差而來, 中間(Center line: CL)一條為平均值的中心實線. 上(Up

3、per control limit: UCL)下(Low control limit: LCL)二條是允許變異範圍的程度虛線.2.統計製程控制架構與步驟統計製程控制的步驟2.1. 定義製程: 所謂製程是產品從供應商開始不断到客戶接纳.2.2. 品質特性之選定:品質特性是一個產品品質符合要求的指標. 一張控制圖只能控制一個品質特性.2.3.製程作業標準化2.4. 決定測量品質特性之功能: 以不同的操作員反覆量測一些零件, 以探討量測儀器本身的變異量, 接著確定標準量測程序.2.5. 試作控制圖.2.統計製程控制架構與步驟2.6. 製程才干分析: 以CP = 1.33來要求短期的製程穩定, 另以C

4、PK = 1.33來要求長期的製程才干.2.7. 製程效率之研讨: 是在真正以控制圖來監督生產程序經過一皆段的研讨後所得的資料, 可真正用來從事任务的改善.2.8. 問題解決: 可依循問題分析, 提供對策, 驗證效果及標準化來進行.2.9.製程控制: 流程如下.決定產品特性繼續運作採取改善行動製程才干分析控制圖決定測量品質特性之才干定義製程非控制狀態控制狀態CPK1製程效率研讨CPK 1.3改善製程製程效率研讨改善技術或調查已改善的測量元件CPK/=9采用c或u特性一样嗎?或不可進行分組采用X(中)-RYYYYYYYYNNNNNNNN.X主要控制組間(不同組)的平均值變化. R 主要控制各組內

5、(同一組樣品)的范圍變化.控制界限的計算.X圖X=x1+x2+xn/nX= x1+x 2+x k/K 中心線CLX 上限UCL X+A2 R 下限(LCL)= X-A2 RX-R控制圖.X-R控制圖(三)X-R控制圖R圖R1:第一組內最大減最小 上限UCLD4R 下限LCLD3 RXR圖系數表如右.XR控制圖抽樣參考表.X-R控制圖控制製作法 步驟1搜集最近與今后制程类似的數據約100個2依測定時間或群体區分陈列3對數據加以分組把26個數據分為一組 組內的個別數據以n表示 分成几組的個別組數以K表示 剔除異常數據. (4記入數據表內入圖5計算每組平均值X6計算每組全距R7計算總平均值 X8計算

6、每組全距平均值 R9計算控制界限值.10)例子X-R控制圖.X-R控制圖 (10)划出控制界限 所定的方格最好能在上下限間隔約2030mm較适宜11打上點記號 點與點組与組间隔25mm較适宜在控制界限內的點以為記,在控制界限外以 為記. (12)記如入其它有關事項. (13)檢討制程才干. P控制圖不良率控制圖的做法1先搜集近期內的產品分組算出不良率Ppi/ni=不良個數總檢查數2平均不良率P Pn/N 總不良數/總檢查數(3)計算控制線 中心線CL=P上控制限UCL=P+3 P(1-P)/n下控制限LCL=P-3 P(1-P)/nP 控制圖(樣本數不同) . 9940 W/B生產不良統計.1

7、搜集10月的產品算出平均不良率 平均不良率P 0.2%(3)計算控制線 中心線CL=P=0.2%上控制限UCL=P+3 P(1-P)/n=0.42%下控制限LCL=P-3 P(1-P)/n=0% 計算P控制圖控制界限:. 控制圖. 控制圖控制狀態判斷(制程處于穩定狀態)(1)多數點集中在中心線附近(2)少數點落在控制界限附近(3)點之分布与變動呈隨机狀態,無規則可循.(4)無點超出控制界限.檢定判讀原則: (1)應視每一個點為一個分配,非單純之點.(2)點之動向代表制程之變化;雖無异常之缘由, 各點在界限內仍會有差别存在. . 异常之檢定原則:檢定規則1:(2/3A)3點中有兩點在A區或A區以

8、外者.檢定規則2:(4/5B)5點中有4點在B區或B區以外者.异常之檢定原則檢定規則3:(6或7連串)連續6(7)點持續上升或下降者.檢定規則4:(8缺C)有8點在中心線之兩側,但C區并無點子. 异常之檢定原則檢定規則5:(9單側)連續9點在C區或C區以外者.檢定規則6:(14升降)連結14點交互著一升一降. 檢定規則7:(15C)連結15在中心線上下兩側之C區者檢定規則8:(1界外)有1點在A區以外者异常之檢定原則.計數值控制圖(P chart)不良率控制圖, P Chart, 公式(樣本數一样):P = -di為不良數, ni為樣本數, k為樣本組數控制界限:CL = PUCL = P +

9、 3 LCL = P - 3i=1Ki=1KdiniP(1-P)nP(1-P)n.例題 for P chart計數值控制圖(P chart).P Chart 公式(樣本數不一样):1. 變動控制界限: 計算各樣本組之控制界限CL = PUCL = P + 3 LCL = P - 3P(1-P)niP(1-P)ni計數值控制圖(P chart).例題: P chart by 變動控制界限計數值控制圖(P chart).P Chart 公式(樣本數不一样):2. 运用平均樣本: a. 各樣本組大小變化量須 20%b. n n 點易落在控制線之外c. n n點易落在控制線之內CL = PUCL =

10、P + 3 LCL = P - 3P(1-P)nP(1-P)n計數值控制圖(P chart).P Chart 公式(樣本數不一样):3.不良率標準化:CL = 0UCL = + 3 LCL = - 3P(1-P)niPi-PZi = 計數值控制圖(P chart).例題: P chart by 不良率標準化計數值控制圖(P chart).計數值控制圖(nP chart)不良數控制圖, nP chart適用於樣本大小一样時且不良率P相當小時. 與P chart之差異是nP樣本數是固定的.公式:控制界限:CL = nPUCL = nP + 3 nP(1-P) LCL = nP - 3 nP(1-P

11、).例題: nP chart計數值控制圖(nP chart).計數值控制圖(c chart)缺點數控制圖, c chartP & nP charts 皆處理不良品. 所謂不良品是有一個或以上不合格缺點.固一個有10個缺點產品與一個只需1個缺點產品是相等的, 都是不良品.i=1KC ic =Kci = 第i個樣本缺點數 CL = cUCL = c + 3 cLCL = c + 3 c.例題: c chart計數值控制圖(c chart).計數值控制圖( chart)單位缺點數控制圖, chartc控制圖適用於單位產品構成一個樣本組, 但樣本或樣本組其實可由n個單位產品所組成, 而每個樣本組大小亦可變動. 故須建立另一種統計方式. Chart 公式:CL = UCL = + 3 LCL = - 3 nn = i=1KKnCiCi為第I樣本組有n個單位產品之缺點總數.同P Chart 於樣本數不一样, 有三重計算方式:1. 變動控制界限2. 运用平均樣本3.不良率標準化.計量值控制圖計量值控制圖可區分:1-1平均值與全距控制圖X-R Chart1-2平均值與標准差控制圖X-S Chart1-3個別數據與移動全距控制圖X-Rm Chart1-1-1 平均數控制圖 (X chart)X 為樣本(X)大小n的樣本平均數i=1nXin