SPC技术实战--公开课ppt课件

1、SPC品保培训资料.一、统计制程管理概述二、 SPC根底统计根本知识三、统计过程管理、控制图原理、制造与分析、直方图和过程才干的分析与研讨、QC七大手法四、总结、现场质量控制流程与数据的采集.一、统计制程管理概述.质量检验SPCTQM 背景. 沃尔特安德鲁休哈特Walter Andrew Shewhart 1891年3月18日生于伊利诺伊州纽坎顿 1967年3月11卒于新泽西州特诺伊山 休哈特主要的职业生涯在贝尔实验室Bell Telephone Laboratories)现为朗讯科技Lucent Technologies渡过。 1924年，他初次运用统计方法与质量控制之中，他制造了世界第一张

2、控制图。1931年，他出版。1947年，美国质量控制协会ASQC才认识到休哈特的重要奉献。从1950年开场，他的同事及学生戴明博士Edwards Deming将休哈特的控制实际教授给日本人。过去二十年来，休哈特的控制实际和控制图已成为世界规范。.统计控制概述1、预防与检测 -Slide 2 2、过程控制系统 -Slide 33、变差：普通缘由及特殊缘由 -Slide 44、部分措施和对系统采取措施 -Slide 65、过程控制和过程才干 -Slide 76、过程改良循环及过程控制 -Slide 87、控制图：过程控制工具 -Slide 98、控制图的益处 -Slide 10.统计控制概述之一过

3、程控制的需求检测容忍浪费预防防止浪费 检测与预防.统计控制概述之二过程控制系统 我们任务的 方式/资源 的 交融 顾客产品或效力识别不断变化的需求和期望顾客的呼声人设备环境资料方法输入过程/系统输出过程的呼声统计方法过程控制系统.统计控制概述之三变差的普通及特殊缘由 11、每件产品的尺寸都与别的不同2、但它们构成一个模型，假设稳定，可以描画为一个分布范围范围范围范围范围范围范围范围范围范围3、分布可以经过以下特征加以区分：A. 位置B. 分布宽度C.外形.统计控制概述之三变差的普通及特殊缘由 2假设仅存在变差的普通缘由随着时间推移，过程输出形成一个稳定的分布并可预测范围范围预测时间时间假设仅存

4、在变差的特殊缘由，随着时间推移，过程输出不稳定.统计控制概述之四部分措施和系统措施部分措施和系统措施部分措施 通常用来消除变差的特殊缘由 通常由与过程直接相关的人员实施 通常可以纠正大约 15% 的过程问题系统措施 通常用来消除变差的普通缘由 几乎总是要求管理措施，以便纠正 大约可以纠正 85 % 的过程问题.统计控制概述之五过程控制和过程才干时间范围范围时间过程控制过程才干不受控存在特殊缘由 受控 消除了特 殊缘由受控，但没有才干符合规范普通缘由呵斥的变差太大受控，且有有才干符合规范普通缘由呵斥的变差减少规范上限规范下限.统计控制概述之六过程改良循环及过程控制ASPDDPSAPDSA1、分析

5、过程 本过程应做些什么？ 会出现什么错误？ 本过程正在做什么？ 到达统计控制形状？ 确定才干2、维护过程 监控过程性能 查找变差的特 殊缘由并采取 措施3、改良过程 改良过程从而 更好地了解普 通缘由变差 减少普通缘由 变差.统计控制概述之七控制图-过程控制的工具上控制限 UCL中线 UCL下控制限 LCL1、搜集 搜集数据并画在图上2、控制 根据过程数据计算实验控制界限 识别变差的特殊缘由并采取措施3、分析和改良 确定普通缘由变差的大小并采取减小它的措施反复这三个阶段从而不断改良过程.统计控制概述之八控制图的益处合理运用控制图能：供正在进展过程控制的操作者运用有助于过程在质量上和本钱上能继续

6、地，可预测地坚持下去使过程到达： -更高的质量 -更低的单件本钱 -更高的有效才干为讨论过程的才干提供共同的言语区分变差的特殊缘由和普通缘由，作为采取部分措施或系统措施的指南.一、统计制程管理概述二、SPC根底统计根本知识与常用统计量. 产质量量的统计观念一：产质量量具有变异性 影响产质量量的要素有6M： Man：人 Machine：机 Material：料 Method：法 Mother-nature： 环 Measurement：测 无论人类社会如何提高开展，产质量量不能够坚持绝对恒定，一定具有变异性。SPC根底.产质量量的统计观念二产质量量的变异具有统计规律性 确定性景象 确定性规律：在

7、一定条件下，必然发生或不能够发生的事件。如一个大气压760mm汞柱下，H2O的变化规律。 温度 0 固体形状 温度 0 t =8 也就是说规范差就象是一把尺，用来评价流程结果的好坏。规范差之例 SPC根底.s 规格规范差读做Sigma SpecSPC根底.a制程规范差读做Sigma Actual注：样本数 n 25SPC根底.例题阐明X1 = 1 X2 = 2 X3 = 3SPC根底.3与6的比较 “品質特性中組合零件之數目 3品質水準的產品品質可靠度 6品質水準的產品品質可靠度 1 99.7300029% 99.999999800% 9 97.5861047% 99.999998200% 1

8、0 97.3325980% 99.999998000% 2000 0.4483975% 99.999600001% 50 87.3557666% 99.999990000% 75 81.6464617% 99.999985000% 100 76.3102995% 99.999980000% 250 50.8695500% 99.999950000% 500 25.8771111% 99.999900000% 1000 6.6962488% 99.999800000% 750 13.1635700% 99.999850000% SPC根底. 不同个数的相对严重程度之表示 以书刊错字校正为例 6

9、一间小型图书馆全部藏书中有一个错字 5 一部百科全书中有一个错字 4 一册书每30页中有一个错字 3 每页书中有1.5个错字 2 每页书中有25个错字 1 每页书中有170个错字6的诠释 SPC根底. 规格界 限宽度 静态动态CpPPMCpkPPM6 2.0021.503.451.67581.1723341.33640.83620031.0027000.506680020.67455000.1730870010.33317300-0.17697300不同个数与PPM质量水准的对比 SPC根底.平均值对正态曲线的影响：假设平均值增大，那么正态曲线往右挪动，见；假设平均值减小，那么正态曲线往左挪动

10、，见。 SPC根底.规范差对正态曲线的影响假设规范差越大，那么数据分布越分散，动摇范围大，见 =2.5；假设规范差越小，那么数据分布越集中，动摇范围小，见 =0.4。 xy =2.5 =0.4 =1.0SPC根底.正态分布平均值与规范差的关系平均值与规范差是相互独立的。无论平均值如何变化都不会改动正态分布的外形，即规范差 ；无论规范差如何变化，也不会影响数据的对称中心，即平均值。质量管理的开展史就是与 和 斗争的历史，就是优化值提高或降低和减少 值的历史。SPC根底. 3 原那么不论与 取值为何，只需上下限距中心值平均值的间隔各为3 ，那么产质量量特征值落在 范围内的为99.73%，这是数学计

11、算的准确值，应该牢牢记住。 下限 上限 0.% 0.% 99.73% -3 +3 产质量量特证值落在 之外的概率为0.27%，其中单侧的概率分别为0.%。休哈特正是据此发明了控制图。SPC根底.一、统计制程管理概述二、 SPC根底统计根本知识三、统计过程管理、直方图和过程才干的分析与研讨.直方图的定义、用途 将搜集的测定值或数据之全距分为几个相等区间作为横轴，并将各区间内之测定值所出现次数累积而成的面积以条状方式陈列起来所产生的图形，称之为直方图。 了解分配型态 研讨制程才干 工程解析与控制 分配型态的统计检定直方图.直方图的制造1.搜集数据2.计算组数3.计算全距：由全体数据中找出最大值与最

12、小值之差。4.决议组距：为便于计算平均数与规范差,组距常取 2、5、10 的倍数。 组距 = 全距 / 组数5.决议各组之上下组界： 先求出最小一组的下组界，再求出上组界依此类推，计算至最大 一组之组界。 最小一组下组界 = 最小值 - 测定值之最小位数/2 最小一组上组界 = 下组界 + 组距6.决议组中点7.制造次数分布表8.制造直方图直方图.直方图常见型态及阐明1.正常型：中间高，两边低有集中趋势；左右对称分配，显示属常态分配，制程正常运转。直方图.直方图常见型态及阐明2.缺齿型：高低不一，有缺齿情形。属不正常分配，次数分配不妥当或检查员有假造数据、丈量仪器不精细等皆会有此情形。直方图.

13、直方图常见型态及阐明3.切边型：有一端被切断，能够缘由数据经过挑选或制程本身经过全检后所呵斥，假设剔除某一规格以上时那么切边即会构成。直方图.直方图常见型态及阐明4.双峰型：有二个顶峰出现，能够缘由有二种分配相混合，例如二种机台或二种不同原料，测定值因环境不同影响所呵斥。直方图.直方图常见型态及阐明5.离岛型：在左边或右边构成小岛，缘由测定有错误，一定有异常缘由存在，只需去除应可制出符合规格之制品。直方图.直方图常见型态及阐明6.高原型：外形似高原状，不同平均值分配混合所呵斥，应利用层别分别后在作直方图作比较。直方图.直方图实例演练直方图. 直方图的作法 1. 找出Data中之最大及最小值 M

14、ax=10.6 Min=9.22 2. 决议组数 - K 等于 n 的平方根 n = 100 k = 10 3. 决议组距h -将最大值减去最小值后，除以组数，再取最小丈量单位的整数倍即可 Max - Min / K =10.6-9.22/ 10 = 0. h = 0. 取最小量测单位之整数倍 4. 决议组界值 -由最小值减去最小测良单位的1/2，就是第一组的下限，再逐次加上各组距，直到可含盖最大值即完成 Ex: 9.22 - 0.001/2 = 9.2195 第一组下界 9.2195 + 0. = 9.3575 第一组上界、第二组下界 9.3575 + 0. = 9.4955 第二组上界、第

15、参组下界 .直方图.直方圖的作法 5. 求出各組的中心值 - 各組上界加下界除以二 9.3575 + 9.2195 / 2 =9.2885 第一組中心值 9.4955 + 9.3575 / 2 =9.4265 第二組中心值6. 計算落在各組內的 次數 第一組次數 1次 第二組次數 1次 第三組次數 7次 第四組次數 10次 第五組次數 13次 第六組次數 23次 第七組次數 25次 第八組次數 9次 第九組次數 9次 第十組次數 2次 7. 作成直方圖直方图.直方图.过程才干Process capability)：旧译“工序才干，根据ISO8402和GB3358，现一致改译为“过程才干。它指过

16、程的加工质量满足技术规范的才干，是衡量过程加工内在一致性的规范。“消费才干是指一定时间内加工数量方面的才干。过程才干指数Process capability index：指过程质量才干满足技术规范产品规格、公差或技术要求或客户要求的程度，普通记以 CP 、CPK、DPPM、 。前提条件：必需在稳态下计算才干有意义，没有稳定， 也就没有过程才干，ISO8258：1991 。过程才干. 过程才干指数类型： 值：反映过程平均值 CP 值：反响过程变异程度 CPK值：反映过程的平均值和变异程度 DPPM值：反响过程不合格品比值过程才干. 值： 一样，但质量水准大不一样。过程才干. 过程才干指数：双侧规

17、格 其中：T为技术规格的公差幅度 Tu为上规格限 TL为下规格限 为总体规范差 S为样本规范差过程才干. 值的含义： 分子： 反映产品的技术要求，或客户要求； 分母：双侧6 ，即单侧3 ，反响过程加工的质量或企业的控制才干，为什么取双侧6 或单侧3 ？ 由于双侧6 的质量代表99.73%的合格品，0.27%的不合格品，这在当时是相当称心的质量规范，故以它为分母作为基准值。 值：反映产品技术要求客户要求为过程实践控制才干的倍数，由于 越小，那么质量差别越小，质量越好，越稳定，所以， 值越大越好。过程才干. =1的含义：T值为常数，当 值确定，且6 =T时， =1即是说：当样本质量特征值均值与规格

18、中心线相等重合时，样本质量特征值偏向 的大小正好使其的6倍等于技术要求或客户要求的范围T，在这种情况下，过程的合格率为99.73%，不合格率为0.27%，或DPPM为 2700。过程才干. 的缺陷： 值相等，但质量水准大不一样。过程到达一定的 只能算具有潜在的过程才干。%合格品99.73%合格品 LSL USL LSL USL过程才干.单侧K方式与CP、DPPM的关系。TuTL2 3 4 5 6 由于T值是一定的，一旦计算出值后，我们便知道T值与值之间的关系，进而可以计算出CP值与DPPM的值。过程才干.单侧规格的过程才干指数假设只需上限要求，无下限要求，那么： 假设只需下限要求，无上限要求，

19、那么： 过程才干.过程才干指数CP评价规范过程才干.xTLT/2TuM 偏移情况的过程才干指数Cpk一旦过程质量特性值的均值与公差中心M不重合，即有偏移时，显然不合格品率增大，也即CP值降低，故原CP值计算公式不能反映偏移的实践情况，需求加以修正。可以向上限偏移，也可以向下限偏移，那么：实践偏移值绝对值 偏移度 只占单侧规格的比例。修正的过程才干指数过程才干.性能指数Performance IndexPPK 上式的意思是：既然分布中心偏移了，它对上公差和下公差各有一个单侧过程才干指数CPU 和CPL ，那么二者的最小值反映了该过程的才干指数。USL-LSLUSLLSL过程才干.CP与CPK的结

20、合运用过程才干.CP与CPK的结合运用由于CPK=1- CP所以= 1- 例： CP=1.33，即4 方式，双侧T =8 , CPK=0.33那么： 4 1- 4 =3 阐明：已偏移到单侧的3 处，间隔两侧界限分别为1 和 7 ，查表知其不合格率为 P(1 )+P(7 )=0.1586552539 合格率为P=1-0.1586552539= 84.134%过程才干. 对全厂每道工序都要进展分析(可用因果图)，找出对最终产品 影响最大的变量，即关键变量(可用陈列图)。如美国LTV钢铁公司共确定了大约20000个关键变量。 找出关键变量后，列出过程控制网图。所谓过程控制网图即在图中按工艺流程顺序将

21、每道工序的关键变量列出。 对步骤2得到的每一个关键变量进展详细分析。 对每个关键变量建立过程控制规范，并填写过程控制规范表。 决议控制工程过程才干.所在车间控制点控制要素文件号制定日期控制內容过程规范控制理由丈量规定资料报告途径控制图纠正性措施有无建立控件图控制图类型制定者制定日期同意者同意日期操作程序审核程序制定者审核者审核日期程序控制规范表. 编制控制规范手册，在各部门落实。将具有立法性质的有关过程控制规范的文件编制成明确易懂、便于操作的手册，使各道工序运用。如美国LTV公司共编了600本上述手册。 实施规范化过程才干.制程才干解析质量的一致性谁的成果好呢?谁较有潜力呢?他会选谁中选手呢?

22、乙选手甲选手您的工厂/效力质量/供货商假设有问题,您希望是甲情况还是乙情况呢?.符合规格就真的OK了吗?过程才干.制程才干靶心图.形状分类统计稳类是否技术稳态是否1. 形状:统计稳态与技术稳态同时到达,这是最理想的形状。2. 形状: 统计稳态未到达,技术稳态到达。3. 形状:统计稳态到达,技术稳态未到达。4. 形状IV:统计稳态与技术稳态均未到达。这是最不理 想的形状。过程才干.根本统计量过程才干统计量正态分布及3 SIGMA 、6 SIGMA常用统计量.群体样本 ：群体平均值X bar：平均数(均值) ：群体规范差x：样本规范差N：母体数(批量数) n：样本数(抽样数) R：组距或全距Sta

23、tistical常用统计量根本统计量.規格 制程USLUCL SLCLLSLLCLs aCa Cp CpkProcess常用统计量过程才干统计量.Statistical Process Control規格 制程USLUCL SLCLLSLLCLs aCa Cp Cpk群體 樣本 X bar xN n R計量值：均值極差圖s規格標准差圖直方圖計數值：P不良率圖C缺點數圖柏拉圖. 在中心线或平均值两侧呈现对称之分布正态分布根本知识 常态曲线左右两尾与横轴渐渐接近但不相交 曲线下的面积总和为1正态分布及3 SIGMA 、6 SIGMA常用统计量.100个机螺丝直径直方图图中的直方高度与该组的频数成正

24、比 举例阐明： 机螺丝直径直方图 直方图趋近光常用统计量.将各组的频数用数据总和N=100除，就得到各组的频率，它表示机螺丝直径属于各组的能够性大小。显然，各组频率之和为1。假设以直方面积来表示该组的频率，那么一切直方面积总和也为1。 假设资料越多，分组越密，那么机螺丝直径直方图的直方图也越趋近一条光滑曲线，如直方图趋近光滑曲线图所示。在极限情况下得到的光滑曲线即为分布曲线，它反映了产质量量的统计规律，如分布曲线图所示 常用统计量.正态分布中，任一点出如今 内的概率为 P(-X +) = 68.27% 2内的概率为 P(-2X +2) = 95.45% 3内的概率为 P(-3X +3) = 9

25、9.73%常用统计量.不同的常态分配常用统计量.不同的常态分配常用统计量.不同的常态分配X1(b)，1)=1一P(延续35点,d1)=1 -0.9959=0.0041 这是与0=0.0027为同一个数量级的小概率。因此,假设过程处于稳态,那么延续35点,在控制界外的点子超越1个点(d1)的事件为小概率事件,它实践上不发生,假设发生那么判别过程失控2=0.0041就是准那么(2)的显著性程度。 控制图原理、制造与分析.判别稳态的准那么 类似地,对于准那么(3)也可以计算得 ：P(延续100点,d2)=0.0026 这与0=0.0027很接近3=0026就是准那么(3)的显著性程度。 对于准那么(

26、1)可计算得 ： P(延续25点,d=0)= =0.9346 P(延续25点,d0)=1-0.9346=0.0654 1=0.0654就是准那么(1)的显著性程度。可见1要比2、3的大几十倍,这是很不相称的。因此,有的学者以为应将整个判别稳态的准那么改成以下更符合逻辑的提法: 假设延续35个点中,在控制界限外的点超越2个,或延续100个点中,在控制界限外的点超越 3个,那么判别过程失控。 控制图原理、制造与分析. 稳态是消费过程追求的目的。那么如何用控制图判别过程能否处于稳态?为此,需求制定判别稳态的准那么。 在统计量为正态分布的情况下,由于第I类错误的概率=0.27%,获得很小,所以只需有一

27、个点子在界外就可以判别有异常。但既然很小,第类错误的概率就大,只根据一个点子在界内远不能判别消费过程处于稳态。假设延续有许多点子,如25个点子,全部都在控制界限内,情况就大不一样。这时,根据概率乘法定理,总的为总=,要比减小很多。假设延续在控制界内的点子更多,那么即使有个别点子出界,过程仍可看作是稳态的,这就是判稳准那么。 控制图原理、制造与分析. 国标GB4091常规控制图是针对休哈特控制图的。根据该国标常规休哈特控制图如表常规的休哈特控制图。表中计件值控制图与计点值控制图又统称计数值控制图。这些控制图各有各的用途, 应根据所控制质量目的的情况和数据性质分别加以选择。常规的休哈特控制图表中的

28、二项分布和泊松分布是离散数据场所的两种典型分布,它们超出3界限的第类错误的概率当然未必恰巧等于正态分布3界限的第I类错误的概率=0.0027,但无论如何总是个相当小的概率。因此,可以运用与正态分布情况类似的论证,从而建立p、pn、c、u等控制图。控制图原理、制造与分析. 数据分布控制图简记计量值 正态分布均值-极差 .控制图一R 控制图均值-标准差 .控制图X 一R 控制图中位数-极差. 控制图X一R 控制图单值-移动极差 .控制图X一Rs 控制图计件值二项分布不合格品率 .控制图P 控制图不合格品数 .控制图Pn 控制图计点值泊松分布单位缺陷数 .控制图U 控制图 缺陷数 .控制图C 控制图

29、常规的休哈特控制图.计量值控制图的分类: Xbar-R控制图 质量数据可以合理分组时，为分析或控制制程平均运用Xbar-控制图，对制程变异运用R-控制图 最常用的计量值控制图X-R控制图 X-控制图检出力较差，但计算较为简单Xbar-S控制图 S-控制图检出力较R控制图大，但计算费事 普通样本大小n10运用S控制图 X-Rm控制图 质量数据不能合理分组时，如液体浓度 可以合理分组时，为了提高检出力，尽量运用Xbar-R控制图控制图原理、制造与分析. 控制图中为什么运用平均数控制图原理、制造与分析. 一. 搜集数据 选择控制特性 能测定的产品或制程特性 与客户运用及消费关系艰苦的特性 对下工序影

30、响较大的特性 经常出问题以及关键制程的的特性决议样本大小n及抽样间隔 n约在25个之间，不宜太大 同一组的数据最好在同一消费条件及同一短时间内取样 初期解析的制程最好在较小的的间隔延续取样，控制形状下之制程可加长其间隔 每组样本可识别日期、时间等 不影响消费及可接受的本钱下决议样本组数 足够的样本组数以保证制程的主要变异有时机出现 25组以上的样本以检定制程的稳定及估计制程特性的平均数及规范差 计量值控制图的制造控制图原理、制造与分析.二. 计算每组的平均、每组的全距、总平均、全距平均三. 计算控制界限 UCLXbar= (Xbar)bar + A2Rbar CLXbar= (Xbar)bar

31、 LCLXbar= (Xbar)bar - A2Rbar UCLR= D4Rbar CLR=Rbar UCLR= D3Rbar计量值控制图的制造控制图原理、制造与分析.四. 绘制控制界限及描点五. 解析制程六. 制程才干研讨延伸控制界限开场控制“查找异因、采取措施、保证消除、纳入规范计量值控制图的制造控制图原理、制造与分析.控制图原理、制造与分析.计数值控制图的分类:P-控制图 分析或控制制程不良率，样本大小n可以不同NP-控制图 分析或控制制程不良数，样本大小n要一样C-控制图 分析或控制制程不良数，样本大小n要一样U-控制图 分析或控制制程单位缺陷数，不良率，样本大小n可以不同控制图原理、

32、制造与分析.导入前的预备事项 计量值控制图牵涉到比较多的工程技术问题，而计数值控制图那么与管理系统较有关系，因此导入前的预备事项牵涉到较多的管理制度。如：制程不良率如何定义，才干与绩效奖金配合等。计数值控制图的制造控制图原理、制造与分析.一. 搜集数据决议样本大小n及抽样间隔 n约在50200个之间，不宜太小(np5) 不同组的样本大小不一定一样 每组样本可识别日期、时间等决议样本组数 足够的样本组数以保证制程的主要变异有时机出现 25组以上的样本以检定制程的稳定及估计制程的不良率计数值控制图的制造控制图原理、制造与分析.二. 计算各组的不良率、总平均不良率三. 计算控制界限 UCLp= Pb

33、ar +3 CLpr= Pbar LCLp= Pbar - 3四. 绘制控制界限及描点五. 解析制程六. 制程才干研讨Pbar七. 延伸控制界限开场控制计数值控制图的制造控制图原理、制造与分析p (1 - p)np (1 - p)n.控制图原理、制造与分析.计数型数据的控制图预备任务：建立一个好的行动环境定义过程确定要管理的特性应思索：-顾客的需求-当前及潜在的问题领域-特性之间的关系定义丈量系统，使之具有可操作性使不用要的变差最小控制图原理、制造与分析.不合格品率的 p 图A、数据搜集A1、选择子组的容量、频率和数量 -子组容量 (n = 50-200) -分组频率 -子组的数量 (25)A

34、2、计算每个子组的不合格率p) 记录每个子组的以下值： 被检工程的数量-n 发现的不合格工程-np 计算不合格率 p=np/nA3、选择控制图的坐标刻度 (1.5-2 倍A4、将不合格品率描画在控制图上控制图原理、制造与分析.不合格品率的 p 图-A、数据搜集步骤A1步骤A2步骤A3步骤A4最终功能实验.B1、计算过程平均不合格率 CLpr= PbarB2、计算上、下控制界限UCL、LCLUCLp= Pbar +3LCLp= Pbar -3 式中：n 为恒定的样本容量B3、画线并标注 过程平均-程度实线 控制线路UCL，LCL-程度虚线B、计算控制界限不合格品率的 p 图p (1 - p)np

35、 (1 - p)n控制图原理、制造与分析.不合格品率的 p 图-B、计算控制界限最终功能实验步骤B1 = 405/12500 = 0.0324 p步骤B2 UCL=.0324+30.324 X.9676/500=0.0561LCL=.0324 -30.324 X.9676/500=0.0087步骤B3.目的: 找出过程不再以同一程度运转的证据即过程失控并采取相应的措施。数据点中存在超出控制限的点，或者存在超出随机情况下能够出现的明显趋势或图形，这就阐明存在变差的特殊缘由。C1 分析数据点，找出不稳定的证据 a. 超出任一控制限就证明在那点不稳定。 b. 链在一个受控的， np中等较大的 过程中

36、，落在 均值两侧的点的数量几乎相等。 c. 明显的非随机图形C2 寻觅并纠正特殊缘由C3 重新计算控制限C、 过程控制用控制图解释不合格品率的 p 图控制图原理、制造与分析.不合格品率的 p 图-超出控制界限的点过程受控过程失控 (有超出控制界限的点) 对特殊缘由采取措施 任何超出控制限的点 延续 7 点全在中心线之或之下 延续 7 点上升或下降 任何其它明显非随机的 图形步骤C1 a. :有一点超出控制限.不合格品率的 p 图-链 对特殊缘由采取措施 任何超出控制限的点 延续 7 点全在中心线之或之下 延续 7 点上升或下降 任何其它明显非随机的 图形步骤C1 b. :无长链过程失控 (存在

37、延续下降的长链，或上升的)过程失控 (存在高于均值的长链；也能够低于均值).不合格品率的 p 图-非随机图形 对特殊缘由采取措施 任何超出控制限的点 延续 7 点全在中心线之或之下 延续 7 点上升或下降 任何其它明显非随机的 图形过程失控 (点离控制界限太近)过程失控 (点离均值太近)步骤C1 b. :大约2/3的点位于控制界限中部三分之一的区域内(17/25 的点在0.0245 和 0.0403 之间).不合格品率的 p 图-重新计算控制限最终功能实验步骤C3 =374/12000 = 0.0312 p步骤C3 UCL=.0312+30.312 X.9688/500=0.0546LCL=.

38、0312 -30.312 X.9688/500=0.0078步骤C3.D1 计算过程才干从实例可得：P = 0.0312目前的过程才干是：功能检验的失效为3.12%96.88%合格D2 评价过程才干假设进展100%的功能检验并已选出不合格的产品，顾客上得到免受不合格产品的维护。但是3%的平均失效率要求返工或报废是很浪费的，应研讨提高长期性能程度的措施。D3 改良过程才干 为了提高过程的长期性能，应集中精神处理影响一切时期的普通缘由，这通常要求采取管理措施D4 绘制并分析修正后的过程控制图 画出修正后的过程的控制图并分析利用控制图延续监视，确保系统改动的有效性D. 过程才干解释不合格品率的 p

39、图控制图原理、制造与分析.不合格品数 np 图 np 图 用来度量一个检验中的不合格不符合或所谓的缺陷品的数量。与 P 图不同， np 图表示不合格品的实践数量而不是与样本的比率。 p 图和 np 图适用的根本情况一样，当满足以下情况时可选用np 图： (a)不合格品的实践数量比不合格品率更有意义 或更容易报告， (b)各阶段子组的样本容量一样。 np 图的详细 阐明与p 图很类似，不同之处如下：A. 搜集数据B. 计算控制限计算过程不合格品数的均值 np 计算上、下控制限UCL，LCLC. 过程控制解释D. 过程才干解释控制图原理、制造与分析.不合格数 c 图 c 图 c 图用来丈量一个检验

40、批内的不合格或缺陷的数量与描在np 图上的不合格品的数量不同)， c 图要求样本的容量恒定或受检资料的数量恒定，它主要运用于以下两类检验：不合格分布在延续的产品流上例如每匹维尼龙上的瑕疵，玻璃上的气泡或电线上绝缘层薄的点，以及可以用不合格的平均比率表示的地方如每100m维尼龙上的瑕疵；在单个的产品检验中能够发现许多不同潜在缘由呵斥的不合格例如：在一修缮部记录，每辆车或元件能够存在一个或多个不同的不合格。以下是绘制和运用c图的步骤，与前面所引见的p图的根本绘制方法有一样之处，不同之处引见如下： A. 搜集数据B. 计算控制限计算过程不合格数均值 c :计算控制限UCL和LCLC. 过程控制解释D

41、. 过程才干解释控制图原理、制造与分析.单位产品不合格数 u 图 u 图 u 图用来丈量具有容量不同的样本受检资料的量不同的子组内每检验单位产品之内的不合格数量。除了不合格数是按每单位产品为根本量表示以外，它是与c图类似的。u 图c图适用于一样的数据情况，但假设样本含有多于一个“单位产品的量，为使报告值更有意义时，可以运用u图，并且在不同时期内样本容量不同时必需运用u图。 u图的绘制与p图类似，不同之处如下：A. 搜集数据各子组样本的容量彼此不用都一样，虽然使它的容量坚持在其平均值的正负25%以内可以简化控制限的计算；记录并描画每个子组内的单位产品不合格数u： u = c / n式中：c为发现

42、的不合格数量，n为子组中样本的容量检验报告单位的数量，c和n都应记录在数据表中。B. 计算控制限计算每单位产品过程不合格数的平均值：计算控制限UCL，LCLC. 过程控制解释D. 过程才干解释控制图原理、制造与分析.一、统计制程管理概述二、 SPC根底统计根本知识三、统计过程管理、控制图原理、制造与分析、直方图和过程才干的分析与研讨、品管七大手法、现场质量控制流程与数据的采集. 1 资料与查检表2 柏拉图3 特性要因图4 分布图5 控制图6 直方图7 层别法品管七大手法. 何为数据所谓数据,就是根据量测所得到的数值和资料等现实数据=现实搜集正确的数据防止客观的判别要把握现实真相资料与查检表品管

43、七大手法.数据种类：定量数据与定性数据。定量数据:长度,时间,分量等丈量所得数据,亦称计量值。计量值：延续分配以缺陷数,不良品数来作为计算规范的数值称为计数值。计数值：延续分配 定性数据:以人的感观判别出来的数据,例如:水果的甜度或衣服的美感。 资料与查检表品管七大手法. 定义： 查检表是以简单的数据用容易了解的方式做成图形或表格，只需记上检查记号，并加以统计整理，作进一步分析或核对检查用。 种类： 记录用查检表(不良工程 ) 点检用查检表两种(汽车保养点检表 ) 资料与查检表品管七大手法.决议所要搜集的数据及希望把握的工程 过去的阅历，专业知识，脑力激荡决议查检表的格式 决议记录方式 符号：

44、检查调整改换 决议搜集数据的方法 何人搜集.期间多久,检查方法 制造步骤资料与查检表品管七大手法.月日月 日月日月日月日A1尺寸缺陷资料其它2尺寸缺陷资料其它B作业 机台 不良种类 日期人员品管七大手法.10000KM时定期保养顾客名： 日期：车牌号码：费用：车种：行驶公里：作业者： 注检查调整改换 电瓶液量空气滤清器水箱机油胎压分电盘盖火星塞化油器风扇皮带品管七大手法.柏拉图原那么：所谓柏拉图(Pareto)原那么就是利用少数控制多数的原那么柏拉图背景 1897年，意大利之V.Pereto分析意大利经济情况，发现少数人具有大部份的财富，要控制该国的财富只需控制这些少数财主即可!品管七大手法柏

45、拉图. 制造步骤 决议分类工程 决议数据搜集期间，并且按照分类工程搜集数据 数据搜集期间以一天.一周.一个月.一季或一年为期间,从中选择恰当的期间来搜集数据 记入图纸并且依数据大小陈列书出柱形 点上累积值并用线衔接 计算累积比率公式: 累积比率=各项累积数/总数*100 记入柏拉图的主题及相关资料 柏拉图品管七大手法. 二八原那么与柏拉图 柏拉图品管七大手法.柏拉图品管七大手法.定义：一个问题的特性遭到一些要因的影响时,我们将这些要因加 以整理,成为有相互关系而且有条理的图形,这个图形称为特性要因图。又叫做鱼骨图 特性要因图品管七大手法.大要因大要因大要因大要因特性为什么延迟交货 特性中要因小

46、要因中要因中要因中要因小要因小要因中要因品管七大手法.定义： 把相互有关系的对应数据，在方格纸上以纵轴表示结果，以横轴表示缘由；然后用点表示出分布形状，根据分布的形状来判别对应数据之间的相互关系 品管七大手法分布图.搜集相对应数据，至少三十组以上，并且整理写到数据表上 勾选出数据之中的最大值和最小值 画出纵轴与横轴刻度，计算组距 将各组对应数据都标示在坐标上 记入必要事项 制造步骤品管七大手法.正相关(强)正相关(弱) 品管七大手法.负相关(强)负相关(弱 )品管七大手法.无相关曲线相关品管七大手法.计数型控制图P-控制图NP-控制图C-控制图U-控制图计量型控制图X bar-R 均值极差图X

47、 bar-均值规范差图X- R m 个别挪动值图Median-R 中位数全距图品管七大手法控制图.用来丈量在一批检验工程中不合格品(不符合或所谓的缺陷)工程的百分数。这可以是评价一个特性值(能否安装了一个特殊的零件)或是许多特性值(在电气系统检查台中能否发现某些不正常之处)。把被检查的每一个组件，零件或工程记录成合格或不合格(即使一个工程有几处不合格，也仅记录为一个不合格项)；把这些检验的结果按一个有意义的根底条件分组，并且把不合格的工程用占子组大小的非常之几来表示。不合格品率的P图品管七大手法.第一步：搜集资料 选择子组的容量，频率及数量 普通要求较大的子组容量(例如50到200或更多，np5 ) 根据产品的周期确定分组的频率 搜集资料的时间应足够长，以便查找变差源 计算每个子组内的不合格品率 被检工程的数量n 发现的不合格工程的数量np 经过这些资料计算不合格品率： p = np / n 选择控制图的坐标刻度 最大的不合格率值的1.5到2倍的值 将不合格品率描画在控制图上 不合格品率的P图制造方法品管七大手法.第二步：计算控制限计算过程平均不合格品率 n1p1+n2p2+n3p3+nkpkPbar = (n1 + n2 + n3 +nk)品管七大手法.第三步： 画