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文档简介

1、SPC统计过程控制(SPC统计量引见与断定规范)1常用统计量Mean:(平均值)Max:(最大值)Min:(最小值)Range:(Max Min最大跨距)StdDev规范差Cp:(过程才干指数)Cr:(过程才干比值 )k:(偏移系数 )Cpu:(上限过程才干指数 )Cpl:(下限过程才干指数 )Cpk:(过程才干指数 )Cpm:(目的才干指数)Zu(Cap) :(规格上限SIGMA程度)Zl(Cap) :(规格下限SIGMA程度)Fpu(Cap): (超出规格上限机率)2常用统计量Fpl(Cap):(超出规格下限机率)Fp(Cap):(超出规格限的机率)Pp:(过程性能指数 )Pr:(过程性能

2、比值 )Ppu:(上限过程性能指数 )Ppl:(下限过程性能指数 )Ppk:(过程性能指数 )Ppm:(目的过程性能指数)Zu(Perf):(规格上限SIGMA程度)Zl(Perf):(规格上限SIGMA程度)Fpu(Perf):(超出规格上限机率)Fpl(Perf):(超出规格下限机率)Fp(Perf): (超出规格界限的机率)Skewness:(偏度)Kurtosis:(峰度)3计算公式2、Max最大值3、Min最小值4、Range最大跨距1、Mean均值例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Mean=(2+4+6+4)/4=4例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Max(

3、2,4,6,4)=6例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Min(2,4,6,4)=2例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Range(2,4,6,4)=6-2=44计算公式6、Cp:(过程才干指数)7、Cr:(过程才干比值 )5、StdDev规范差例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求例:产品规格为(400.5),产品规范差为0.4,试计算CPCP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42例:产品规格为(400.5),产品规范差为0.4,试计算CrCr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.45计算公式8、k:(偏移系数 )例:产品规格为(4

4、00.5),产品均值为40.2,试计算KK=(40.2-40)/(40.5-39.5)/2)=0.4评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量目的!规格中心M产品均值规格宽度TK越大阐明产品均值偏离中心值越远;6计算公式规格下限LSL产品均值规格上限USL一切检验数据构成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中9、Cpu:(上限过程才干指数 )例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品规范差为0.4试计算Cpu;Cpu =(40.5-40.2)/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就是说产品超出上限的

5、不合格品数量就越少;7计算公式10、Cpl:(下限过程才干指数 )例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品规范差为0.4试计算Cpl;Cpl =(40.2-39.5)/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58规格下限LSL产品均值规格上限USL一切检验数据构成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中Cpl越大,产品检验数据超出下限的概率就越小,也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少;8计算公式12、Cpm:(目的才干指数)11、Cpk:(修正的过程才干指数 )Cpk=MinCpl,Cpu=Cp(1-k) 例:产品规格为(400.5),产品均值为

6、40.2,产品规范差为0.4试计算Cpk;Cpk =Min(0.25,0.58)=0.25或Cpk =0.42*(1-0.4)=0.25例:产品规格为(400.5),目的值为40.2,产品均值为40.2,产品规范差为0.4试计算Cpm;Cpm=1/2.4=0.429计算公式产品均值规格上限USL13、Zu(Cap) :(规格上限SIGMA程度) Zu(Cap)表示产品均值离规格上限有多少倍规范差?也表示为几个SIGMA10计算公式产品均值规格上限USLZl(Cap)表示产品均值离规格下限有多少倍规范差?也表示为几个SIGMA14、Zl(Cap) :(规格下限SIGMA程度)11计算公式Fpu(

7、Cap)表示产品检验结果超出规格上限的概率15、Fpu(Cap): (超出规格上限概率)规格上限USL12计算公式Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率规格上限USL16、Fpl(Cap):(超出规格下限机率)13计算公式Fpl(Cap)表示产品检验结果超出规格下限的概率规格上限USL规格上限LSL17、 Fp(Cap):(超出产品规格上下限的概率)14计算公式18、 Pp:(过程性能指数 )19、 Pr:(过程性能比值 )15计算公式20、Ppu:(上限过程性能指数 )21、Ppl:(下限过程性能指数 )22、Ppk:(修正的过程性能指数 )Ppk=MinPpl,Ppu=Pp(1

8、-k)16计算公式25、Zl(Perf):(规格上限SIGMA程度)23、Ppm:(目的过程性能指数)24、Zu(Perf):(规格上限SIGMA程度)17计算公式28、Fp(Perf): (超出规格上下限的概率)26、Fpu(Perf):(超出规格上限概率)27、Fpl(Perf):(超出规格下限概率)18计算公式30、Kurtosis:(峰度)29、Skewness:(偏度)19SPC 断定规范点出界就判异。界内点陈列不随机判异。数据分层不够呵斥的异常。判异准那么三种类型20SPC 断定规范21SPC 断定规范1:1个点落在A区以外 One point beyond zone A.22SP

9、C 断定规范2:延续9点落在中心线同一侧Nine points in a row in zone C or beyond on one side of central line.23SPC 断定规范3:延续6点递增或递减 Six points in a row steadily increasing or decreasing24SPC 断定规范4:延续14点中相邻点交替上下Fourteen points in a row alternating up and down25SPC 断定规范5:延续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外 Two our of three points in a row in zone A or beyond26SPC 断定规范6:延续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外 Four out of five points in a row in zone B or beyond27SPC 断定规范7:延续15点落在中心线两侧的C区内 Fifteen points in a row in zone C above and below central line28SPC 断定规范8:延续8点落在中心线两侧且无一在C区内 Eight points in a ro

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