SPC知识-控制图2ppt课件

1、SPC根底知识-控制图日期：2021年7月31日密级：无杭州华三通讯技术质量管理部：沈明政1. SPC 的慨念. 2. 控制图的制造. 3. 控制图的判读.目录SPC的定义SPC ( Statistical Process Control 统计制程控制 )是由制程调查来改良制程才干,不断降低产品质量的变异性,而到达提升产品质量的一种方法,其主要工具为控制图.SPC的开展历史1910年由费雪爵士(Sir Ronald Fisher)所开展出来的统计实际.1924年美国贝尔实验室休华特博士 Dr.W.A.Shewhart)为处理公差规范化制定问题,研讨产品质量次数分配时发明了控制图.1940年二次

2、大战期间,由于宏大军事需求,SPC正式引进制造业.统计性思索案例统计性思索案例统计性思索案例统计性思索案例何谓统计先看以下几个例子:第一组数据: 10.15 10.25 10.35第二组数据: 10.10 10.25 10.40第三组数据: 10.20 10.25 10.30第四组数据: 10.05 10.25 10.45问题一:它们的平均值相等吗?问题二:假设SPEC定在10.250.15,它们合格吗?问题三:哪一组数据比较好?统计学的定义统计是数学的一个分支,是用来讨论如何进展数据的搜集、分析、解析以及大量数字数据的系统化表示.推行统计学的意义统计的意义是从本质上了解制程或样本,避开外表景

3、象, 更准确、有效、更迅速地进展改善或调整.为何产生变异(Variation)制造流程Step 1Step 2Step 3Process OutputOutput of Process StepEquipmentMaterialsEnvironmentPeopleMethodsInformation当我们从一过程中搜集数据,会发现数据不会永远一样,由于变异(Variation)在过程中随时存在质量变异缘由的种类1.机遇缘由(Chance cause)不可防止的缘由、非人为的缘由、共同缘由、偶尔缘由、普通缘由,是属于非控制形状的变异.2.非机遇缘由(Assignable cause)可防止的缘由

4、、人为缘由、特殊缘由、异常缘由、部分缘由等.此种缘由,应采取行动,使制程恢复正常,进入控制形状.控制图的意义控制图是一种以实践产品质量特性与根据过去阅历所判明制程才干的控制界限比较,而以时间经过用图形表示者.控制图的种类(用途分类)1.控制用控制图 先有控制界限,后有数据.2.解析用控制图 先有数据,后才有控制界限.SPC的根本实际是常态分配如图:0.%常态分配:0.%-3-2-1+1+2+395.45%68.27%99.73%控制图原理旋转90将直方图旋转90,即成控制图.+3规格下限规格上限控制上限直方图控制图控制图的种类(性质分类)一.计量值控制图(Control Charts For

5、Variables):a.平均值与全距控制图( X-R Chart )(运用范围:计量值数据控制)b.中位值与全距控制图( X-R Chart )(运用范围:同上,但检出力差)c.单值控制图( X Chart )(运用范围:同上,但检验时间应短于加工时间)d.单值-挪动极差控制图(X-Rm Chart )(运用范围:同上,但用于一定时间内只能获取1个数据的控制)控制图的种类(性质分类)二.计数值控制图(Control Charts For Attributes)a.不良率控制图 ( P Chart )(运用范围:关键全检场所)b.不良数控制图 ( Pn Chart or d Chart )(运

6、用范围: 半废品或零部件在一定样本容量n的场所)c.缺陷数控制图 ( C Chart )(运用范围: 要求每次检验样本容量为n的场所)d.单位缺陷数控制图 ( U Chart )(运用范围:全数检验单位缺陷数场所数据类型范例计数数据- 类别- 是/否- 经过/不经过- 合格/不合格- 好的/有缺陷的- 金额计量数据- 分量- 时间- 长- 宽- 厚度一.平均值与全距控制图(X-R Chart)X-R控制图的定义在计量值控制图中,X-R控制图系最常用的一种,所谓平均值与全距控制图,系平均值控制图(X Chart)与全距控制图(R Chart)二者合并运用.平均值控制系控制平均值的变化,即分配的集

7、中趋势变化;全距控制图那么控制变异的程度,即分配的离散趋势的情况.X-R控制图的意义控制图是一种质量的图解记录.在图上有中心线(规格值)及二条控制界限.中心线是一种规格值,二条控制界限是允许产品的质量特性在其间变动的范围.在制造过程中用抽查的方式,将样本的统计量,点绘于图上,用以判别质量的变异能否显著.规格上限控制上限规格值(中心值)控制下限规格下限控制图界限的計算X-R Chart绘制步驟1.选定控件目2.搜集数据100个以上,并予适当分组后记入数据记录表. 样本大小(n)=25 (解析用) 组数(k)=20253.计算各组平均值( X ) X= 4.计算各组全距( R ) R=Xmax-X

8、min (各组最大值-最小值)X1+X2+X3+XKn 建立解析用控制图X-R Chart绘制步骤5.计算总平均值 ( X )X=6.计算全距之平均值( R )R=7.计算控制界限及绘出X控制图中心线 CLx = X上 限 UCLx = X+A2R下 限 LCLx = X-A2Rx1+x2+x3+xkkR1+R2+R3+RKk R控制图 中心线 CLR =R 上 线 UCLR=D4R 下 线 LCLR=D3R A2, D4, D3由系数表查得8.点图 将数据点绘控制图上,相邻两点用直线衔接.9.控制界限检讨10.记入其它本卷须知控制图系数表例题:用X-R控制图来控制AGP GAP,尺寸单位为m

9、m,请利用以下数据数据,计算其控制界限并绘图.制品称号:AGP 机器号码:RK006质量特性:GAP 操 作 者:55230测定单位:mm 测 定 者:58664制造场所:A线 抽样期间:03/10/9903/12/991.搜集数据並記入数据记录表2.计算各組X3.计算各組R值4.计算总平均( X ) X= = (0.63+0.64+0.68+0.66+0.68+0.68+0.68+0.66+0.66 +0.65+0.62+0.62+0.63+0.64+0.67+0.67+0.63+0.69 +0.67+0.62)20 = 0.66x1+x2+x3+xkk5.计算全距之平均值( R ) R=

10、=(0.08+0.07+0.06+0.09+0.10+0.08+0.07+0.11+0.07 +0.08+0.08+0.08+0.08+0.07+0.11+0.11+0.10+0.07 +0.03+0.03)20 = 0.086.计算控制界限及绘出 X控制图 中心线 ( CLx ) = X = 0.66 控制上限 ( UCLx ) = X+A2R = 0.66+0.577 0.08 = 0.70 控制下限 ( LCLx ) = X-A2R = 0.66-0.577 0.08 = 0.61R1+R2+R3+RKkR控制图 中心线 CLR = R = 0.08 控制上限 UCLR = D4R =

11、2.115 0.08 = 0.17 控制下限 LCLR = D3R = 0 0.08 = 07.将所求出之各X值及R值点入控制图上並将相邻两点用 直线衔接8.制程形状检讨9.记入其它本卷须知二.不良率控制图( P Chart )P Chart常用的符號ni: 样本数即样本所含的件数和个数d: 样本中的不良品数p样本的不良品率 p = d/niP样本不良率的平均值 p = d/ niP Chart - 不良率控制图P Chart - 不良率控制图P Chart控制线的计算中心线CLP=P = d/ ni控制界限UCL=P+3LCL =P-3P(1-p)/ni p(1-p)/niP Chart -

12、 不良率控制图实例P Chart 控制线的計算P Chart控制线的計算中心线CLP=P = 298/(240*30)=0.041=4.1%控制界限UCL=P+3 =0.041+3 =0.41+3*0.0128=0.0794=7.94%LCL =P-3 =0.41-3 =0.0026=0.26% p(1-p)/ni 0.041(1-0.041)/240 p(1-p)/n 0.041(1-0.041)/240iP Chart - 不良率控制图P Chart - 不良率控制图P Chart制造过程搜集数据在5M1E充分固定并规范化的前提下从消费过程中搜集数据计算样本中的不合格率求过程平均不合格率计

13、算控制线制造控制图描点分析消费过程能否处于统计控制形状建立控制用控制图1.记入必要事项 如制品称号、控件目、测定单位、规格等.2.作控制界限 将经解析后之控制图决议之控制界限绘入.3.点图 由制程抽取样本,测定其特性值,记录数据,按时由顺序 点入.4.安定形状之断定5.采取措施6.控制界限之重新计算控制图的判讀制程能否在控制形状可用以下原那么判别:1.控制图上的点都出如今控制界限内侧,并没有特别排法 时,原那么上以为制程是正常.这种形状谓之控制形状.2.控制图上有点超出控制界限外时,就判别制程有了异常 变化,这种形状谓之非控制形状.3.控制图上的点虽未超出控制界限,但点的出现有以下法 时,就判别有异常缘由发生. (a)点在中心线的单侧延续出现7点以上时(b)出现的点延续11点中有10点,14点中有12点,17点中 14点,2