SPC统计制程控制程序

1、规章、制度系统文件文件类别程序文件文件名称统计制程控制程序版 次2. 0核准审核制作持有单位发行章2文件修订履历表制定、修订记录发布日期发行 版次发行 页次修订 版次修订 页次修 订内 容 重 点表单编号00040 0 r2011、H的统计制程控制程序定有关统计过程控制及过程能力分析的方法。2、使用范围本规定适用于设备能力、初始过程能力和长期过程能力的研究。3、 术语3.1 变差：也称波动，指同一过程输出个体间的差异。3.2 2初始过程能力：是过程总变差的总范围（6cs）。3.3 3过程能力：某一稳定过程固有变差的总范围（6 c R/d2）。3.4 初始过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为

2、容差宽度除以过程能力，用以评价生产过程 准备情况。3.5 过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价某一稳定过程 的输出同规范要求（顾客要求）的关系、3.6 Cmk （设备能力指数）：衡量所使用的设备是否满足零件加工精度的要求的定量化指标。3.7 7统计过程控制：适用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出，以便采取适当的措施来达到 并保持统计控制状态，从而提高过程能力。3.8 控制图：用来表示一个过程特性的图像，图上标有根据那个特性收集到的一些统计数据，一条 中心线，一条或两条控制限。它能减少I类或U类错误的净经济损失。它有 两个基本的用 途：一是用来判定一个过程是

3、否一直受统计控制；二是用来监控过程保 持受控状态。控制图可分为计量型和计数型两大类。计量型的过程表现为得到的质量特性为可度量的数值 （如直径、长度等），计数型表现为只有两个数值（如合格/不合格，成功/失败），但他们 可以被计数从而用来记录和分析。4、职责4.1新产品试制阶段，由产品质量先期策划小组依据产品/过程特殊特性，制定设备能力、初始过 程能力研究计划，并组织实施。4. 2批量生产阶段，由技术部技术人员负责制定计划（或依特殊情况），收集数据及计算，并正确 评价。3若统计制程控制程序计过程不受控，相关职能部门应制定过程纠正预防措施并实施。4. 4技术部监督并验证过程纠正预防措施的实施。4.5

4、正常生产过程中，确保每半年对关键、重要特性(可收集计量型数据的)进行一次 Cpk值研究。当顾客有特殊要求时，执行顾客要求。5、工作内容及控制方法51设备能力的测算5.1.1 确定所研究的对象分析和加工零件的待测特性及规范公差，测量方法和测量工具。5.1.2样 本数：最小样本为50件。5.1.3 研究时机：新零件、新设备/模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、长期停 产等。5.1.4 采集样本的时机在做完测量系统分析并合格后，按规定的样本数连续采集数据并记录。5. 1. 5计算公式S二乞(Xi-x ) 2 (n-1)Cm-(USL-LSL)/6S(：底二11150；5匚乂)/35, (

5、X-LSL) /3S s过程变差的平方根n采集的样本数Xi 样本的测量值X样本的平均值USL公差的上限LSL公差的下限5.1.6设备能力的评价CmQ L 67,设备有满足质量指标的加工能力，可使用于指定生产；CmQ 1.67,设备能力不足，应对该设备加工的所有零件进行100%佥验，并对设备进行检修，检修后重新进行Cmk研究。5. 1. 7保存设备能力测算表由生产部负责保存，期限长期。5. 2过程性能及过程能力研究一5.1.1 制定“ Ppk、Cpk计戈5.1.2 绘制分析用控制图（X-R图为例）5.2.2.1收集数据并记录在控制图上，同时与控制图下面记录过程相关事件。5. 2. 2. 2计算每

6、一子组的均值和极差，并记录在控制图上。X=EXi/n , R=Xmax-Xminn：子组中样品数量Xi ：子组中每一样品测量值Xmax子组中最大样品测量值Xmi n：子组中最小样品测量值5. 2.3选定控制图的刻度5. 2. 4按平均值和极差值在控制图上描出对应点。6. 2. 5计算极差均值和过程均值X,并按均值在控制图上画出中心线。VX = Xi /KR =i Vri/kN式中：k:子组数Ri :每一个子组的极差Xi :每一个子组的均值7. 2.6计算控制限UO D4RLCL-DrR 一UCL=X* A RLCb二 X -A2 R式中Ac, D3, D4根据子组容量表查得出5. 2. 7按计

7、算结果在均值图和极差图中画出控制限。5.2. 8分析控制图是否随即分布：a.点：出现超出控制线的点;b.链：产生连续七点上升/下降/在平均值的一侧的点;C.明显的非随机图形：显著多于（或少于）2/3的点落在离均值很近之处。若有上述非随机分布现象，贝去除非随机点，重新计算控制界限，再次分析控制图；如需采取纠正措施，改进过程，则应在纠正措施实施有效后重新收集数据，制作控制 图并重新进行分析。529计算初始过程能力指数：(试生产阶段进行或过程改变)Pp二(USL-LSL) /6(Ts式中：USL规范的公差上限LSL:规范的公差下限CS :总体样本标准差在过程有偏移的情况下Ppk=min(USL-X)

8、/3 tS s , (X-LSL)/3 tS s (T s=n刀 Xi- X)2/( n -1 )Ppk> 1.67 :满足要求，可以进入批量生产阶段。Ppkv 1.67 :初始能力需改进减少特殊原因引起的变差，将过程均值调整到接近目标值。减少特殊原因引起的变差，减少单个过程特性值的变差。改变规范使之与过程能力一致。5. 2. 11生产现场品检人员制作控制用控制图：5. 2.11.1将初始过程满足质量要求所到的控制中心线与上、下控制限画在控制图上。5. 2.11.2按初始过程能力研究确定的子组大小收集样本，记录过程事件。5.2.11.3计算每组样本的均制和极差，并在控制图上描点。5. 2

9、.11.4分析控制图上的点是否随机分布(方法同5.1.8 )5. 2. 12计算过程能力指数Cp-(USL-LSL) / 6cR/d2 Cpk=min(USL-X)/ 3cR/d2, (X-LSL) / 3cR/d2)其中(T R/d2= R/d2,式中 d2 根据子组 容量查表得出Cpk过程等级评价处理原则> 1.67特级理想1 .可以考虑放宽对特性波动的控制2 .收缩标准范围，提高质量要求1. 33 v Cpkw 1. 67一级正常1 .关键特性不变，非关键特性可降低对 波动的限制；2 .简化检验，换全检为抽检或减少抽检频次。1. 00 v Cpkw 1. 33二级略显不足1 .当为L33时，处于正常状态；2 .当接近1时，应加强管理；3 . 一般不能简化检验。0. 67 v Cpkw 1. 00三级不足1 .分析产生不足的原因，米取措施加以改进；2 .加强检验，实行全数检验或考虑放宽标准范围。Cpkv 0. 67四级严重不L停止加_L,立即追查原因；2.采取措施，实行