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文档简介

1、原子力显微镜光学显微镜光学显微镜透射电子显微镜透射电子显微镜扫描隧道显微镜扫描隧道显微镜扫描电子显微镜扫描电子显微镜原子力显微镜原子力显微镜带电极的压电管（根据隧道电流的的大小随时调整针尖和样品的距离，以保持隧道电流的恒定）压电管控制电压隧道电流放大器距离控制和扫描单元隧道电压（用以产生隧道效应）数据处理及显示：原子的直径 r ： 原子之间的距离 AFM探针的针尖探针的针尖激光检测激光检测AFM基本原理图基本原理图检测激光光斑位置的光电二极管检测激光光斑位置的光电二极管 AFM便是结合以上三个部分来将样品的表面特性呈现出来的：在AFM的系统中，使用微小悬臂来感测针尖与样品之间的交互作用，这作用

2、力会使微悬梁摆动，再利用激光将光照射在微悬梁的末端，当摆动形成时，会使反射光的位置改变而造成偏移量，此时激光检测器会记录此偏移量，也会把此时的信号给反馈系统，以利于系统做适当的调整，最后再将样品的表面特性以影像的方式给呈现出来。 微悬臂探针紧压样品表面，检测时与样品保持接触，作用力（斥力）通过微悬臂的变形进行测量。 该模式下，针尖与样品表面相接触，分辨率高，但成像时针尖对样品的作用力较大，适合表面结构稳定的样品。用处于共振状态、上下振荡的微悬臂探针对样品表面进行扫描，样品表面起伏使微悬臂探针的振幅产生相应变化，从而得到样品的表面形貌。 该模式下，扫描成像时针尖对样品进行“敲击”，两者间只有瞬间接触，能有效克服接触模式下因针尖的作用力，尤其是横向力引起的样品损伤，适合于柔软或吸附样品的检测。作为轻敲模式的一项重要扩展技术，相移模式(相位移模式)通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差（即两者的相移）的变化来成像。 引起该相移的因素很多，如样品的组分、硬度、粘弹性质等。因此利用相移模式(相位移模式)，可以在纳米尺度上获得样品表面局域性质的丰富信息。迄今相移模式(相位移模式)已成为原子力显微镜的一种重要检测技术。原子力显微镜对金的观测原子力显微镜对金的观测烟草花叶病毒扫描图烟草花叶病毒扫描图沉积于云母片上的抗体分子的沉积于云母片上的抗体分子的

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