MSA分析实施报告

1、XXX公司计量型MSA分析报告XX/840-004B用上2021003日期：实施人：评价人：仪器名称:仪器编号:分析结论:2021年2月23日陈秋凤、雷丽花、欧阳丽敏X志超数显卡尺中间检验XXX合格不合格计量型MSA分析报告目录稳定性1偏倚4线性7重复性和9再现性备注：对于有条件接收的工程应阐述承受原因第一节稳定性分析1.1 稳定性概述在经过一段长时间下，用一样的测量系统对同一基准或零件的同一特性进展测量所获得的总变差，即稳定性是整个时间的偏倚变化。1.2 试验案2021年02月份，随机抽取一常见印制板样品,让中间检验员工每天的早上及晚上分别使用数显卡尺对样品外形尺寸测量5次/组，共测量25组

2、数据，并将每次测量的数据记录在表1。1.3 数据收集表1稳定性分析数据收集记录表操作者秋凤测量日期2021-02-04-2021-02-20测量时间测量结果/单位：_mm_第1次第2次第3次第4次第5次时段165.2365.2365.2365.2465.23时段265.2365.2365.2365.2365.23时段365.2465.2365.2365.2465.24时段465.2465.2465.2465.2365.24时段565.2365.2465.2365.2365.23时段665.2465.2465.2465.2465.24时段765.2465.2365.2465.2465.24时段8

3、65.2465.2365.2365.2465.23时段965.2365.2465.2365.2365.23时段1065.2365.2365.2365.2365.23操作者秋凤测量日期2021-02-04-2021-02-20测量时间测量结果/单位：_mm_第1次第2次第3次第4次第5次时段1165.2465.2365.2365.2465.24时段1265.2465.2465.2465.2465.23时段1365.2465.2365.2365.2465.23时段1465.2365.2365.2365.2365.23时段1565.2465.2465.2365.2365.24时段1665.2365.

4、2365.2465.2365.23时段1765.2365.2465.2365.2365.23时段1865.2465.2465.2465.2465.23时段1965.2465.2365.2365.2365.23时段2065.2465.2465.2465.2465.24时段2165.2365.2365.2465.2365.23时段2265.2465.2465.2365.2465.24时段2365.2365.2465.2465.2365.23时段2465.2365.2465.2465.2465.24时段2565.2365.2365.2365.2365.231.4 测量系统稳定性可承受判定标准1.4.

5、1 不允有超出控制限的点；1.4.2 连续7点位于中心线同一侧；1.4.3 连续6点上升或下降；1.4.4 连续14点交替上下变化；1.4.5 连续3点有2点距中心的距离大于两个标准差；1.4.6 连续5点中有4点距离中心线的距离大于一个标准差;1.4.7 连续15点排列在中心线的一个标准差围；1.4.8 连续8点距中心线的距离大于一个标准差。1.5 数据分析中间检验_数显卡尺（0-150mm）的Xbar-R控制图65.2400 -65.2375值土§65.2350 -本样65.232565.2300差极本样0.0200.0150.0100.005 -0.000+3SL=65.240

6、12+2SL=65.23824+1SL=65.23636X =65.23448-1SL=65.23260-2SL=65.23072-3SL=65.22884+3SL=0.02069+2SL=0.01705+1SL=0.01342R=0.00978-1SL=0.00615-2SL=0.00251-3SL=0图1中间检验数显卡尺Xbar-R控制图从图1Minitab生成Xbar-R控制图可知，没有控制点超出稳定性可承受判定标准,说明该测量系统稳定性可承受。1.6 测量系统稳定性分析结果判定对中间检验数显卡尺进展稳定性分析,分析结果说明该测量系统稳定性可承受。第二节偏倚分析2.1 偏倚分析概述对一样

7、零件上同一特性的观测值与真值参考值的差异。2.2 试样案2.2.1 选择一个被测样品，确定样品的外形尺寸基准值x,样品外形尺寸基准值通过铳边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值获得。2.2.2 让经常使用该量具的检验员测量样品15次,每次读数记为Xi（i为第i次测量）。2.3 数据收集表2偏倚分析数据收集记录表操作者秋凤测量时间2021-01-21单位mm测量次数测量结果测量次数测量结果197.02997.02297.021097.02397.011197.02497.021297.01597.021397.02697.021497.02797.011597.02897.02/

8、2.4 测量系统偏倚可承受判定标准假设0在偏倚95%可信度的置信区间围，可以在统计上判定测量系统的偏倚等于零，而这种判定犯错的可能性为5%,此时可判定测量系统偏倚可承受2.5 数据分析2.5.1 根据测量所得数据，将数据记录于表3,并计算测量2果的平均值xonxii1rx=n1.1.2 计算偏倚Bo1.1.3 计算重复性标准差最大值（xi）最小值（xi）*d21.1.4 计算均值x的标准差b1.1.5 偏倚95%可信度的置信区间上限及下限计算式。上限：BJbtv,1/2下限：BJbtv,1/2表3偏倚分析记录表评价人志超分析时间2021-01-21测量次数单位：mm测量次数单位：mm读数偏倚读

9、数偏倚197.020.002997.020.002297.020.0021097.020.002397.01-0.0081197.020.002497.020.0021297.01-0.008597.020.0021397.020.002697.020.0021497.020.002797.01-0.0081597.020.002897.020.002=T=：=：=：=?=E=E=：=：=：E=?=：=E=：E=E=7=E：=E基准值x.测量次数n平均值x偏彳9B复性标准差r均值x的标准差b97.0181597.0170.0010.00280.0007d2*d2自由度vtv,1/2偏倚95%的

10、置信区间下限上限3.471913.553310.82.206-0.00060.0026*汪：d2、d2、v、tv,i/2可查表获得，具体参考？ZW4DD-034B0MSA测量系统分析管理方法？。1.1.6 从表3数据分析，数显卡尺测量偏倚为0.001mm,偏倚值95%的置信区间为-0.0006,0.0026因为0在上述偏倚值的95%置信区间围，所以该测量系统偏倚可承受。2.6 测量系统偏倚分析结果判定对中间检验数显卡尺进展偏倚分析，分析结果说明该测量系统偏倚可及工第三节线性分析3.1 线性分析概述在测量设备预期的工作测量量程，偏倚值的差异，线性可被视为偏倚对于量程大小不同所发生的变化。3.2

11、试验案3.2.1 选才?5个样品，且这5个样品外形尺寸涵盖量具的整个工作量程。3.2.2 确定每个样品的外形尺寸K,各样品外形尺寸通过铳边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值获得。3.2.3 让经常使用该测量工具的检验员分别对每个样品测量12次，并将对应测量结果Xj记录在表4中，其中i为样品编号，j为测量次数。3.3 数据收集表4线性分析数据收集记录表操作者秋凤测量时间2021-01-22单位mm号i测量次数12345117.8939.9766.78105.02146.62217.8939.9766.78105.02146.61317.8939.9766.78105.01146

12、.62417.8939.9766.78105.02146.62517.9039.9766.78105.02146.62617.8939.9866.78105.02146.62717.8939.9766.78105.01146.61817.9039.9766.78105.02146.62917.8939.9766.78105.02146.621017.8939.9766.78105.02146.621117.8939.9766.78105.02146.621217.8939.9766.78105.02146.62基准值17.89039.96766.790104.971146.6443.4 测量系

13、统线性可承受判定标准“偏倚=0的整条直线都在置信区间围，那么判定测量系统的线性可承受，否那么需要分析原因改善。3.5 数据分析测试数据的量具线性和偏倚研究量具名称：数显卡尺（中间检验）报表人：张志超公差：± 0.15mm其他：ZEA-2014-H070自变量系数系数标准误P常量0.0074990.0061410.227斜率-0.000054020.000069620.441S 0.0248145R-Sq 1.0%量具线性参考偏倚P平均0.00343330.00017.890.00166670.08539.9670.00383330.00266.79-0.0100000*104.971

14、0.04733330.000146.644-0.02566670.000量具偏倚研究日期：2017-02-22图2中间检验数显卡尺线性分析图从图2Minitab生成的线性图分析，“偏倚=0的整条直线仓置信区间，说明该测量系统线性可承受。3.6 测量系统线性分析结果判定对中间检验数显卡尺进展线性分析,分析结果说明该测量系统线性可地工第四节重复性、再现性分析4.1 重复性、再现性概述重复性：由一个被评价人使用同一测量仪器，屡次测量同一零件同一特性值时获得的测量变差再现性：由不同的评价人采用一样的测量仪器，测得同一零件同一特性的测量平均值之问的变差。4.2 试验案挑出10个样品，样品外形尺寸涵盖整个

15、过程变差一般为样品尺寸公差，然后找3个人分别在不同的时间段测量这10块样品的外形尺寸,测试前，测试人员不知道样品的测试顺序，每个人分别在3个时间段分别测量每块样品的外形尺寸1次,并将每次的测量结果记录在表4。4.3 数据收集表4重复性、再现性分析数据记录表操作者测量时间测量数据/单位：mm12345678910秋凤时段170.5170.4470.3470.5970.4970.5670.3770.3270.2970.41时段270.5270.4470.3370.5970.4770.5570.3770.3170.2870.40时段370.5170.4470.3370.6070.4870.5570.

16、3770.3270.2870.40雷丽花时段170.5170.4370.3170.5870.4770.5470.3670.3170.2970.41时段270.5070.4370.3270.5870.4770.5470.3570.3170.2870.40时段370.5170.4370.3270.5970.4770.5470.3570.3170.2870.40欧阳丽敏时段170.5270.4470.3370.5970.4870.5670.3770.3270.2970.41时段270.5370.4670.3470.6170.4970.5670.3870.3270.3070.42时段370.5270.

17、4470.3370.5970.4870.5670.3770.3270.2970.414.4 测量系统重复性、再现性分析可承受判定标准4.4.1 量具重复性和再现性R&R的可承受性准那么4.4.1.1 重复性、再现性、GR&R低于10%的误差测量系统良好，可以承受；4.4.1.2 重复性、再现性、GR&R在10至30%之间根据应用的重要性，量具本钱，维修的费用等，可以是可承受的。当判定是可以承受时应在分析报告中阐述承受理由，比方通过比照法、枚举法等法进展分析，明确是从重要性、量具本钱、维修费用等因素的哪些因素说明该测量系统可以承受；4.4.1.3 重复性、再现性、GR&a

18、mp;R大于30%的误差测量系统不可承受。需分析各种问题加以改进，或更换新的量具。4.4.2 有效分辨率ndc4.4.2.1 数据分级数为1时，对过程参数及指数估计不可承受；4.4.2.2 数据分级为2至4时，一般来讲对过程参数及指数的估计不可承受，只提供粗劣估计；4.4.2.3 数据分级数5或更大时，可用于过程控制或过程分析。4.5 数据分析报表人：张志超公差：±0.15mm其他：ZEA-2014-H070值均本样1 %贡献口 %研究变异测试数据X操作者UCL=0.02145R=0.00833LCL=02 10 o o O6 6s 差极本样70.6570.5070.35陈秋凤雷丽花欧阳丽敏操作者70.5570.4570.35 _CL=70.4361X =70.4276LCL=70.4190操作者乘部件号交互作用12345678910部件号测试数据的量具R&R（方差分析）量具名称：数显卡尺（中间检验0-150mm研究日期：201