spc讲义～电子版(共19页)

1、精选优质文档-倾情为你奉上 统计过程控制（SPC）的理解与实施天津久威质量技术咨询中心 2003年6月目录一、基本概念随机现象 统计技术 随机分布 变差二、统计过程控制过程控制糸统 变差的普通原因和特殊原因 过程控制和过程能力 控制图-过程控制的工具三、计量型控制图的使用准备阶段 制图阶段 分析及延长控制限阶段 计算过程能力指数阶段 其他几种控制图的介绍四、计数型控制图的使用准备阶段 制图阶段 分析及延长控制限阶段 计算过程能力指数阶段 其他几种控制图的介绍五、复习与归纳六、多品种小批量生产所使用的控制图统计过程控制（SPC）的理解与实施基本概念统计过程控制（SPC）的理解与实施 一、基本概念

2、随机现象在大量重复实验中，具有统计规律的不确定现象。其理论基础为概率学和数理统计。统计技术 研究随机现象数学规律的一门学科。包括统计推断和统计控制。应用统计技术应具备相应的条件。包括：有管理基础、5M标准化、培训、资源。3。随机分布质量特性数据分布所符合的某种规律。12正态分布的概念 1正态分布的数学表达式：f (x)=e 2正态分布曲线的特征分析：分布宽度及分布位置。正态分布曲线的特性分析: 标准差及偏移量。统计过程控制（SPC）的理解与实施基本概念4变差 一个数据组，对于目标值存在不同的差异。 亦可称为数据的不一致性和离散性。研究变差是SPC的重要任务。本节思考题 什么是统计技术？ 统计技

3、术的内容和应具备的条件是什么？ 什么是随机分布？ 正态分布曲线的特征是什么？ 正态分布曲线的特性是什么？ 什么是变差？为什么研究变差是SPC的重要任务？统计过程控制（SPC）的理解与实施统计过程控制二、统计过程控制1过程控制系统。识别过程特性的要求。明确过程特性（温度、时间、转速、进给等）明确过程特性目标值，使操作生产率最高。监测过程特性，并与目标值进行比较。偏离目标时，应采取措施改变操作：人员及材料改变基本因素：设备及交流改变过程设计：环境及方法， 要监测改进效果2变差的普通原因及特殊原因形成变差的普通原因。连续的、不可避免的影响产品特性不一致的因素。 其特点为：a. 该因素作用到每个零部件

4、上。b. 随时间推移，不会改变特性分布规律形成变差的特殊原因偶然的、断续的、可以避免的影响产品特性不一致的因素。统计过程控制（SPC）的理解与实施统计过程控制 其特点为：a因素不是作用到每个零部件上b随时间推移，将会改变特性分布规律综合分析当该过程仅存在普通变差时，为稳定状态，过程受控。当过程存在特殊变差时，输出不稳定，过程失控。消除/减少变差原因的措施。消除特殊原因变差：采用局部措施，由操作人员实施，可纠正15%的问题。 减少普通原因变差：采用系统措施，由管理人员实施，可纠正85%的问题 消除/减少变差原因的目的消除特殊原因：使过程受控，输出可预测。减小普通原因：缩小分布宽度使顾客满意，降低

5、成本。3过程控制和过程能力过程能力的4种类型过程受控，且完全满足规定的要求过程受控，不完全满足规定的要求过程不受控，且完全满足规定的要求过程不受控，不完全满足规定的要求统计过程控制（SPC）的理解与实施统计过程控制可接受的过程条件 必须受控 仅存变差的普通原因分布呈正态，且可预测分布宽度及位置能满足规定要求。 过程控制及改进循环分析过程：调整特性使过程受控维护过程：监测过程特性，查找变差特殊原因，并消除。改进过程：减少变差的普通原因，提高顾客满意度并降低成本以上步骤实施后，确定新的参数，开始新的循环。4控制图过程控制的工具。什么是控制图一种统计工具控制限的确定原则：兼顾成本前提下的错判率。控制

6、图与正态分布曲线的关系。控制图使用的两个阶段建立控制图、确定控制限应用控制图，对过程进行监控。控制图的作用预知不合格向生产者及顾客提供质量稳定的证据。统计过程控制（SPC）的理解与实施统计过程控制减少普通原因变差来改进过程，降低成本区分普通原因及特殊原因的变差为操作者之间提供沟通的语言计量型控制图计量型控制图的概念a）用于可量化质量特性的监视，b)可分别观察分布宽度及分布位置，c)该控制图总是成对出现的。典型的计量型控制图有：x（均值）R（极差）图x（均值）S（标准差）图x（中位数）R（极差）图 x （单值）MR（移动极差）图xx其中： 、 、x 用于观察位置，R，S，MR用于观察宽度。计数型

7、控制图 计数型控制图的概念a)、用于非量化质量特性的监测，b) 不能独立的观察分布位置及宽度。c) 单个出现统计过程控制（SPC）的理解与实施统计过程控制典型的计数型控制图有：a) P（不合格率）图，b) np、u、c（不合格品数）图本节思考题 识别过程特性的步骤是什么？ 当过程特性偏离时应采取什么措施？ 什么是形成变差的普通原因？有哪些？ 什么是形成变差的特殊原因？有哪些？ 当过程存在变差的普通原因时，过程是否受控？为什么？ 当过程存在变差的特殊原因时，过程是否失控？为什么？ 为什么要消除/减少变差产生原因？有哪些措施？ 过程能力有哪几种类型？ 可接受的过程条件是什么？ 过程控制及改进循环的

8、步骤是什么？ 什么是控制图？它与正态分布曲线是什么关糸？ 确定控制限的原则是什么？ 控制图有什么作用？ 计量型控制图及计数型控制图的概念是什么？统计过程控制（SPC）的理解与实施计量型控制图三、计量型控制图（均值极差图）1准备阶段建立适合的环境确定作图的特性：重点工序的重点特性，特别是特殊特性。确定测量系统，并进行MSA减少不必要的变差监测过程中，要记录重要的过程事件。2制图阶段（8个步骤）确定子组大小、频率及子组数子组大小（子组容量）：每次抽样时连续抽取的产品数（相同条件下）频率：隔多长时间抽一个子组（考虑生产节拍）子组数：在一张控制图上要描述多少个子组（一般为25个）建立控制图，并记录原始

9、数据（均值图在上，极差图在下）x计算每个子组的平均值 和极差R x1x2xnX= ,n 为样本容量，R=XmaxXmin n并将结果写入数据表中。选择控制图的刻度。x 图：刻度范围至少为全部均值中的（XmaxXmin）×2 R图：刻度从0最大，至少为前4个极差中，Rmax×2.统计过程控制（SPC）的理解与实施计量型控制图x 将 值及R值描于图上，并连线，可见图行趋势。Rx1x2xnX= KX 计算平均极差 及过程平均值 ，确定控制图中位线。R1R2RKR= ， K K为样本数量（即子组数量）计算控制限UCL及LCL，XRLCL= A2注意：控制限不是公差范围，超过控制限的

10、点，并不意味着不合格。R，Xx 图 ：UCL= +A2 ， RR R 图 ：UCL=D4× , LCL=D3× 其中；A2、D4、D3均为常数，查SPC手册将中位线及两图的上下控制限描于图上。控制图完成。 3、分析及延长控制限阶段 异常情况分析出现超限的点a) 说明：存在偶然的孤立的特殊原因变差。b) 分析：人员情绪，设备故障，原料疵点。能源供应失常等。出现非随机图形a) 说明：存在彼此相关且连续的特殊原因变差。b) 分析：刀具、模具、材料的不一致性、能源供应不稳定。操作方法随意性等。出现链a) 说明：存在有规律的特殊原因变差。统计过程控制（SPC）的理解与实施计量型控制图

11、b) 分析：设备故障早期发生、刀具、模具的逐步磨损等。采取措施（局部措施），消除产生的原因。延长控制限。失控原因已被识别并消除后，应剔除该点数据，重新计算中位线和控制限以便长期观察使用。注意：xa) R图失控， 图失控，各自剔除失控点数据。xxb) R图失控， 图未失控，剔除R图及 图相应点数据。xxc). 图失控，R图未失控，仅剔除 图失控点数据d.) 剔除数据后，样本数量不得小于20个，否则需重新作图。长期观察中，出现下列情况应重新作图确定控制限技术要求更改工艺方法更改设备精度更改工作环境更改4、计算过程能力指数阶段过程能力指数：运用统计学的原理，描述该过程不合格发生的概率情况。几种典型的

12、过程能力指数：XCP：过程均值 与规范中值一致时的过程能力指数。CPK：过程均值与规范中值不一致时的过程能力指数统计过程控制（SPC）的理解与实施计量型控制图PP：过程均值与规范中值一致时的过程性能指数PPK：过程均值与规范中值不一致时的过程性能指数。过程的标准差。固有标准差（用来计算CP CPK）RR R/d= 极差均值， d2* 常数 d2* , 总标准差（用来计算PP，PPK） xi各个单值X（xi- ）2ni=11n-1s = XX 图的过程均值，n单值个数计算过程能力指数。，等边公差：公差带2 公差带66R/dR/dCP= ， CPK= 公差带2公差带ss6s66sPP= PPK=

13、X=| 规范中值|不等边公差（以CPK为例） LSL（公差下限）XXUSL（公差上限）R/d33666R/dCPK1= CPK2=比较结果，取较小值为本序过程能力指数单边公差：为非正态分布，采用PPM值计算。统计过程控制（SPC）的理解与实施计量型控制图分析过程能力是否满足要求对系统采取措施，提高过程能力指数。5其他几种计量型控制图的介绍均值-标准差图适用于样本容量较大的场合标准差计算麻烦，现场需设计算机控制限及标准差计算不同于均值极差图。中位数图易于使用，不要求很多计算仅取中位数，过程变差描述较粗。控制限计算不同于均值极差图。 单值-移动极差图适用于输出特性变化缓慢、生产节拍低、测量费用高的

14、场合计算简单变化不敏感，不适用于要求较高的场合。本节思考题 应用计量型控制图需做哪些准备工作？ 简述均值极差图的制图步骤。 控制图的异常情况有哪几种？如何分析？ 有几种典型的过程能力指数？如何计算？ 固有标准差及总标准差分别用来计算什么？ 其他几种计量型控制图的特点是什么？统计过程控制（SPC）的理解与实施计数型控制图四、计数型控制图（不合格率-P图） 1准备阶段建立适合的环境。确定作图的特性，重点工序的重点特性，特别是特殊特性。确定测量系统，并进行MSA减少不必要的变差检测过程中，要记录重要的过程事件。2制图阶段（6个步骤）选择子组（样本）容量、频率。样本数量。子组容量：一次抽样连续检验的产

15、品数。要足够大，50以上。频率：隔多大时间抽一个子组。周期较大，取决于生产节拍。样本数量：在一张控制图上描述的子组数。一般取25个建立控制图，记录原始数据，计算每个子组内不合格品率P=np/n , p不合格品率， np子组内不合格品数，n子组容量选择坐标刻度刻度范围由0最大，至少为Pmax的1.52倍。将p点描于图上，并记录重要过程事件。计算平均不合格品率，确定中位线，计算上下控制限P1+P2+···········+P25 25P= (1- ) ,PPPUCL= +3 / n 统计过

16、程控制（SPC）的理解与实施计数型控制图PP (1- ) n ,PLCL= 3n子组容量将中位线、UCL、LCL描于图上，控制图完成3分析及延长控制限阶段 出现超限的点 分析：人员、设备、原料及能源。 超上限为异常，超下限为正常。 出现非随机图型。 分析：刀具、模具、材料的不一致性，能源供应不稳定，操作方法等 出现链 分析：设备故障，刀具、模具磨损等。 连续7点上升/位于中位上侧为异常，连续7点下降/位于中位线下侧为正常。采取措施并消除原因，应剔除该点数据，重新计算中位线和控制限，以便长期观察使用。（但子组数量不小于20个）4计算过程能力指数阶段 计数型过程的过程能力指数：不合格品率即为。 取

17、平均不合格品率时，必须剔除失控点数据，即消除特殊原因变差。提高过程能力指数要减少普通原因变差，采取管理措施。5其他几种计数型控制图的介绍。不合格品数，np图用于不合格品数比不合格品率更有意义的场合（如制管）统计过程控制（SPC）的理解与实施计数型控制图操作方便，免于计算。 不合格品数，C图用来描述一个检验批内的不合格品数，适用于流程性材料及单位产品上的不同不合格（如汽车） 不合格品数，u图适用于子组容量不同时的检验单位，过程能力为每报告单元的不合格数的平均值本节思考题 应用计数型控制图需做哪些准备工作？ 简述不合格品率图的制图步骤。 控制图的异常情况有哪几种？如何分析？ 计数型过程能力指数如何计算？ 其他几种计数型控制图的特点是什么？统计过程控制（SPC）的理解与实施复习及归纳五、复习及归纳。 1基本概念。变差的概念 正态分布的概念 可接受的过程条件 控制图的基本概念 过程能力指数的概念2.基本技能会制作控制图，会分析控制图，会寻找消除特殊变差原因的措施，会寻找减少普通变差原因的措施，会计算过程能力指数统计过程控制（SPC）的理解与实施多品种小批量生产所使用的控制图六、多品种小批量生产所使用的控制图、均值极差图的