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文档简介

1、 扫 描 探 针 显 微 镜 的 应 用 &呈现原子或分子的表面特性 aSTM image of the short-range ordering of head-to-tail coupled poly(3dodecylthiophene on highly oriented pyrolytic graphite (20 20nm; bcalculated model of poly(3-dodecylthiophene corresponding to the area enclosed in the white square in (a; c three-dimensional imag

2、e of 3 showing submolecular resolved chains and folds (9.39.3nm26 | | | a.高取向热解石墨上聚乙烯3-十二烷噻吩头尾相接，短程有序 的STM图像 b.a图中白框区域内聚乙烯3-十二烷噻吩计算得到的模型 c.亚分子链接和褶皱的三维立体图像 扫 描 探 针 显 微 镜 的 应 用 &用于研究物质的动力学过程 (a-c Time-sequenced constant-current(height mode STM images showing the nucleation and growth of benzenethiol (

3、BT molecules at Pt( potentiostated at 0.15V in 0.1M HClO47. | 0.15V恒压下，在0.1MHClO4溶液中，苯硫醇分子 的晶核形成和生长过程的STM图像 扫 描 探 针 显 微 镜 的 应 用 &用于研究物质的动力学过程 Continuous AFM height images of melt-crystallized poly(R-3hydroxybutyric acid (PH3B thin film before (A and during (B-F enzymatic degradation by PHB depolymer

4、ase from Ralstonia pickettii T1 at 20 8 | | 该图A是聚乙烯3羟基丁酸薄片晶体的溶解AEM图像 图BF是皮氏罗尔斯顿菌 在phb解聚酶作用下降解的过程 AFM图像 相较于其它显微镜技术的各项性能指标比较 扫 描 探 针 与显 应微 用镜 的 特 点 分辨率 扫描 探针 显微 镜 工作环境 样品环境 实环境、 大气、溶 液、真空 温度 对样品 破坏程 度 无 检测深度 原子级 (0.1nm 室温或 低温 100 m量 级 接近SEM, 但实际上 为样品厚 度所限， 一般小于 100nm. 10mm (10 倍时 1 m (10000倍时 原子厚度 透射 电镜 点分辨 (0.30.5nm 晶格分辨 (

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