探针工作原理

1、探针工作原理A：测针直径B：总长C：杆直径D：有效工作长度(EWL)总长：指的是从探针后固定面到测尖中心的长度有效工作长度(EWL)：指的是从测尖中心到与一般测量特征发生障碍的探针点的距离探针定义探针是坐标测量机的一部分，主要用来触测工件表面，使得测头的机械装 置移位，产生信号触发并采集一个测量数据。一般的探针都是由一个杆和红宝 石球组成。通过需要测量的特征，您可以判断应当使用探针的类型和尺寸。在测量过 程中，要求探针的刚性和测尖的形状都达到尽可能最佳的程度。选择探针的原则：为保证一定的测量精度，在对探针的使用上，您需要：-探针长度尽可能短：探针弯曲或偏斜越大，精度将越低。因此在测量时，尽可能

2、采用短探针。-连接点最少：每次将探针与加长杆连接在一起时，您就额外引入了新 的潜在弯曲和变形点。因此在应用过程中，尽可能减少连接的数目。-使测球尽可能大主要原因有两个：使得球/杆的空隙最大，这样减少了由于“晃动”而误触发的可能测球直径较大可削弱被测表面未抛光对精度造成的影响RENISHA怫针系歹介绍测尖的材料-红宝石：最常见的测球的材料是红宝石，因为红宝石是目前已知的最坚硬的材料 之一。红宝石球具有良好的表面光洁度，并具有优异的耐压强度和抗碰撞性。只有极少的情况不适宜采用红宝石球，如下两种情况下，推荐采用其他 材料制成的测尖：第一种是在高强度下对铝材料制成的工件进行扫描。主要原因在于材料 吸引

3、，基于一个称为“胶着磨损”的现象会在触测过程中发生。在这种情况下， 一个较好的选择是氮化硅。第二种情况是对铸铁材料工件进行高强度扫描，这时会在红宝石表面产 生“磨损”。在这种情况下，推荐使用氧化培球。氮化硅：氮化硅拥有许多与红宝石同样的特性。它是一种非常坚硬并可抗磨损的 瓷，并可加工成高精度的球，并进行高度表面抛光。氮化硅与铝材料不吸引， 因此不会产生红宝石球上出现的磨损。但是，氮化硅在扫描钢表面时呈现较多 的磨损，因此其应用最好定义为测量铝。氧化错：氧化皓球是一种特别坚韧的陶瓷材料，具硬度和耐磨性接近红宝石，基 于其表面属性，使其是扫描钢工件表面的理想选择。杆材料：钢探针的杆一般是由无磁性的

4、不锈钢制成，大多具有 2mm£更多的测球直径，杆长度可达到30mm在这种情况下，不锈钢杆具有良好的刚性质量比。碳化鸨50 mm碳化鸨杆是在测量采用1mmM球的细杆情况下，或者是超长达到 杆情况下具有最好的刚性。在这种情况下，重量会成为影响因素，因为弯曲会 造成刚性损失。陶瓷在测球直径大于3 mm勺情况下，或者是长度大于30 mm陶瓷杆相对钢 具有更好的硬度。较碳化鸨，重量更轻，同时由于在碰撞过程中易碎，而为测 头提供更好的保护。碳纤维(RENISHAW GF)有许多等级的碳纤维材料，RENISAHW GF备良好的硬度指标，在纵向 和扭矩方面，同时具有特别轻的重量。RENISHAVGF

5、M于长度在50mmz上的探针来说，具有最佳的刚性质量比。探针的形状直探针结构最简单的探针系统包括球度非常好的工业红宝石球，杆材料可以选择。红宝石是非常硬的材料，做成的探针的磨损量最小。它的密度也非常低， 这样针尖质量最小，从而可以避免由于机器运动或振动而造成的探针误触发。使用的杆可以有多种材料可供选择 -不锈钢，碳化鸨，陶瓷和各种特 殊的碳纤维材料" Renishaw GF'。-这些结构简单的红宝石探针更适合于多 种检测应用场合。探针的有效的工作长度（EWL是杆在触测被测元素之前红宝石球的变动范围。如何来选择球的尺寸和探针的 EWL由待检测的元素的尺寸决定的。尽 可能选择大的

6、红宝石探针球和尽可能短的杆，可以保证最大的球/杆距离，这样可提供更有效的EWL使用更大一些的红宝石球可以降低待测组件表面粗糙度的 影响。当使用长的探针和加长杆组合来测量时，不推荐使用标准的动态触测测头，由 于这种情况下使用时探针容易弯曲变形，刚性会降低，精度也会损失。这和使 用其他类型的测头如允许有弹性变形的测头，它们的触测力非常低，允许使用 长的探针和加长杆组合，而不会带来明显的精度损失。星型探针这些探针组合在一起允许你使用多探针测头来测量复杂的元素和孔。四个 或五个红宝石探针安装在刚性的不锈钢中心上。可提供标准尺寸探针，也可以 选择不同的探针，你可以使用五方向探针和任一个RENISHAW:

7、供的探针来组合星型测头。星型探针可用于检测多种不同的元素。使用多探针测头可以有效降低检 测时间。减少在测量诸如边缘或凹槽等内部特征时移动测头到极限点的需要。可以使用星型测头在 Z方向进行有效的检查，这是由于探针可以探测到探针体 的直径范围外侧。星型探针上的每个探针都要求校准，这和单探针校准方式一 样。圆盘探针这些探针用于测量钻孔的切口和凹槽，通常用星型测头是探测不到的。 可以将它们想象成球度非常好的球“截面”，有多种直径选择和厚度选项。所 有的旋转调整和增加中心探针的能力都是 RENISHA恻盘探针的触测范围，使其 具有柔性和易于使用。用简单圆盘的“球型边缘”来探测和使用相当的大探针球是同样有

8、效 的。然而，使用球型探争时，球表面的小区域接触工件，而薄的圆盘却要求精 细的角度校正，以便保证正确地触测待测工件。简单圆盘仅仅要求一个直径的验证数据（通常在环行量规中），但只限制在X和Y两个方向中。考虑探测深的钻孔底部会带来的额外的柔性变形，圆盘也允许有带螺纹 的中心以便可以固定中心测杆（接近圆盘也是有限的）。特殊应用的探针多种专用探针可以用来测量多类元素诸如：螺纹体，薄截面材料，工具 箱以及其他专业应用。圆柱探针用于探测薄壁材料的孔。止匕外，各种带螺纹的元素可以被探测，螺纹中 心被定位。球端圆柱探针允许多角度采集数据和在X, Y, Z三个方向探测，这样可以进行表面检测。尖探针和陶瓷中空球状探针设计尖状探针是为了检测螺纹体，特殊的点和划线。圆端尖探针允许更 精确的测量和特征元素的探测。可以用于更小的孔的检测