半导体集成电路射频发射器_接收器测试方法

1、国家标准半导体集成电路射频发射器 /接收器测试方法（征求意见稿）编制说明一、工作简况国家标准半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法编制项目工作的 下达计划任务主管部门为国标委、归口为全国半导体器件标准化技术委员会集成 电路分技术委员会（SAC/TC/748/SC2、项目计划发布文件号：XXXXXX-X-XXX 本项目的计划代号：20182269-T-339、主要起草单位：重庆西南集成电路设计有 限责任公司、中国电子科技集团第二十四研究所。工作过程，归纳总结行业内半 导体集成电路射频发射器 /接收器测试的测试方法，并借鉴国外ADI、TI、SKYWORKQORVO公司系列产品技术手册为参考，主要

2、针对射频发射器/接收器 通道的幅频特性参数、相位参数和时间参数为基础进行编制， 编制测试项经过实 际测试验证。主要起草人苏良勇、王露、刘丹、许娟负责标准的编制，阳润、唐 景磊、戚园负责测试项的测试验证及技术实现。二、标准编制原则和确定主要内容的论据及解决的主要问题目前针对射频发射器件和接收器件的测试，没有现行的国家标准可以参照。 在各科研和企业机构的测试人员对于射频发射器件和接收器件的测试方法的掌 握主要是通过测试测量设备厂商的培训或传帮带的方式进行继承来逐渐学习各 个参数指标的测试方法。经过长时间测试方法的积累，形成了业内不成文的统一 的测试方法。但缺乏整理和归纳，没有形成正式的国家标准，各

3、方对于各种测试 方法的理解以及测试结果可能存在差异。本标准依据最新的仪器研究成果及相关 理论，采用行业内均认可的测试方法，通过收集和整理，形成一套关于射频发射 器件及接收器件电参数测试的国家标准。随着集成电路工艺和设计技术的进步，与上世纪90年代相比，射频发射器件、 接收器件的性能指标发生了翻天覆地的变化， 主要体现在频率范围的拓展、带宽 的提高、基底噪声的降低等方面，测试理论和测试方法均有较大的发展， 传统的 测试方法不能覆盖新的指标参数，测试仪器以及测试方法也有了较大的进步。比如内置参考源和接收机可检测相位一致性测试；X 参数功能可表征和测试放大器的非线性指标；冷源法排除了失配的影响，提高

4、了噪声系数的测试精度等，这都 是最近几年才发展起来的。根据目前技术的发展和以往积累的测试技术经验， 现编制了半导体集成电 路射频发射器/接收器测试方法，此方法是基于最常用、最新的测试方法和测 试设备，并紧跟最新的测试技术发展，对常用参数的基本概念进行了解释， 参数 覆盖典型接收器件和发射器件最常用的指标参数，如增益、噪声系数、P1dB±缩点、三阶交调等二十几种参数，为工程设计和测试人员提供测试参考。射频收发机测试参数通常包含常规模拟指标参数、调制解调参数两大类，由 于调制解调参数多，测试方法较为复杂，并且还在不断地高速发展，各个测试仪 器厂家测试方法不尽相同，因此此标准未包含调制解调

5、类参数。 另外，涉及频率 源及频率合成器的参数相对具有独立性，也未包含在内。以上内容留待以后继续 进行研究，逐步推出新的测试标准来完善。三、主要试验或验证情况分析半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法中包含了增益、抗烧毁功率、噪声系数、带内波动、输出三阶交调、通道建立时间、通道隔离度、群时延、 通道相位一致性等二十几种参数。为了验证测试方法的可重复性和准确性，我司 与国内用户及仪器厂商进行了充分的沟通，按照半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法规定的方法对自己公司生产的电路，以及国外ADI、TI、SKYWORKgORV公司的电路涉及的参数进行逐一测试验证，测试结果与各生产 厂家对应产品的说明书的技术指标参数相吻合。四、知识产权情况说明测试项的试验方法、操作步骤未检索到涉及相关技术领域专利。五、采用国际标准和国外先进标准情况由于国际上对射频发射器/接收器的测试没有独立的国家标准借鉴，因此借鉴了国外ADI、TI、SKYWORKS、QORVO等公司系列产品技术手册和射频测 试仪器资料为参考，归纳总结国内外半导体行业内，现行的通用的测试方法编制 而成，本标准的测试原理、方法、线路与国外先进的测试方法保持一致。六、与现行相关法律、法规、规章及相关标准的协调性本标准符合现行法律、法规和规章的要求。七、重大分歧意见的处理经过和依据暂无。八、标准性质的建议建议本标准为推荐性标准。九、贯彻