射线照相质量影响因素

1、 是非题 1. 影像颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。 （ ） 2. 像质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被查出。 （ ） 3. 使用较低能量射线可得到较高的主因对比度。 （ ） 4. 射线照相时，若千伏值提高，将会使胶片对比度降低。 （ ） 5. 一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较高能量射线透照，其目的是降低对比度，增大宽容度。 （ ） 6. 增大曝光量可提高主因对比度。 （ ） 7. 射线照相主因对比度与入射线的能量有关，与强度无关。 （ ） 8. 用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。 （ ） 9. 减小几何不清晰度的途径之

2、一，就是使胶片尽可能地靠近工件。 （ ） 10. 利用阳极侧射线照相所得到的底片的几何不清晰度比阴极侧好。 （ ） 11. 胶片的颗粒越粗，则引起的几何不清晰度就越大。 （ ） 12. 使用射线源可以消除几何不清晰度。 （ ） 13. 增加源到胶片的距离可以减小几何不清晰度，但同时会引起固有不清晰度增大。 （ ） 14. 胶片成像的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。 （ ） 15. 对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。 （ ） 16. 胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。 （ ） 17. 使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。 （

3、 ） 18. 胶片的粒度越大，固有不清晰度也就越大。 （ ） 19. 显影不足或过度，会影响底片对比度，但不会影响颗粒度。 （ ） 20. 可以采取增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一样。 （ ） 21. 散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。 （ ） 22. 底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。 （ ） 23. 射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度、颗粒度。 （ ） 24. 透照有余高的焊缝时，所选择的“最佳黑度”就是指能保证焊缝部位和母材部位得到相同像质计灵敏度显示的黑度值。 （ ） 25. 底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。 （ ） 26.

4、固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定的穿越行程而造成的。 （ ） 27. 底片能够记录的影像细节的最小尺寸取决于颗粒度。 （ ） 选择题 1. 从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（ D） A. 底片成像颗粒度 B. 底片上缺陷图像不清晰度 C. 底片上缺陷图像对比度 D. 以上都是 2. 射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做（B ） A. 主因反差 B. 底片反差 C. 清晰度 D. 胶片反差 3. 影响主因对比度的是（ D） A. 射线的波长 B. 散射线 C. 工件的厚度差 D. 以上都是 4. 射线底片上缺陷轮廓鲜明的程度叫做（C ） A. 主因对比度 B

5、. 颗粒度 C. 清晰度 D. 胶片对比度 5. 几何不清晰度也可以称为（D ） A. 固有不清晰度 B几何放大 C. 照相失真 D. 半影 6. 射线透照的几何不清晰度（C ） A. 与工件厚度成正比，与焦点尺寸成反比 B. 与工件厚度成反比，与焦点尺寸成反比 C. 与焦点尺寸成正比，与焦距成反比 D. 与焦点尺寸成反比，与焦距成正比 7. 决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是（ C） A对比度 B. 不清晰度 C. 颗粒度 D. 以上都是 8. 射线底片的颗粒性是由什么因素造成的（D ） A. 影像颗粒或颗粒团块的不均与分布 B. 底片单位面积上颗粒数的统计变化 C. 颗粒团块的重重叠叠

6、 D. 以上都是 9. 下列四种因素中，不能减小几何不清晰度的因素是（ C） A. 射源到胶片的距离 B. 胶片到工件的距离 C. 射源的强度 D. 射源的尺寸 10. 减小几何不清晰度的方法是（ C） A. 选用焦点较大的射源 B. 使用感光速度较快的胶片 C. 增大射源到胶片的距离 D. 增大工件到胶片的距离 11. 固有不清晰度与下列哪一因素有关（ D） A. 源尺寸 B. 胶片感光度 C. 胶片粒度 D. 射线能量 12. 为了提高透照底片的清晰度，选择焦距时，应该考虑的因素是（ D） A. 射源的尺寸，射源的强度，胶片类型 B. 工件厚度，胶片类型，射源类型 C. 射源强度，胶片类型

7、，增感屏类型 D. 射源尺寸，几何不清晰度，工件厚度 13. 下列四种因素中对底片的清晰度无任何影响的是（D ） A. 射源的焦点尺寸 B. 增感屏的类型 C. 射线的能量 D. 底片的黑度 14. 在射线照相中，使缺陷影象发生畸变最重要的原因是（ D） A. 射源尺寸 B. 射源到缺陷的距离 C. 缺陷到胶片的距离 D. 缺陷相对于射源和胶片的位置和方向 15. 下面关于几何修正系数的叙述，那一条是错误的（D ） A. 当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入对底片对比度进行修正 B. 值越小，几何条件对底片对比度的影响越大 C. 为提高而改变透照位置，常用的方法是增大焦距 D. 为提高底片对比

8、度，应尽量采用1的透射布置 16. 透照有余高的焊缝时，为使像质计金属丝在焊缝和母材部位得到相同显示，应（A ） A. 根据焊缝的余高X选择合适的射线能量 B. 尽量选择较高能量射线 C. 尽量选择较低能量射线 D. 以上都不对 17. 以下哪一个参数不被认为是影响裂纹检出的关键参数（ A） A. 长度L B. 开口宽度W C. 自身高度d D. 裂纹与射线角度 18. 透照板厚一定且有余高的焊缝，散射比随有效能量的提高而（B ） A. 增大 B. 减小 C. 不变 D. 不一定 19. 用单壁外透法透照同一筒体时，如不考虑焦点投影尺寸的变化，焊缝Ug与环缝Ug的区别是：在一张底片的不同部位（

9、 A）A. 纵缝Ug值各处都一样，而环缝Ug值随部位而变化B. 环缝Ug值各处都一样，而纵缝Ug值随部位而变化C. 无论纵缝、环缝，Ug值在任何部位都相同，不发生变化D. 以上都不是。 20. 用置于透照区中心附近的铂钨双丝透度计可以从射线底片上测出一定管电压下的（ C） A. 吸收系数 B. 散射因子 C. 固有不清晰度 D. 形状修正系数 21. 下列哪一因素的变化不会改变射线照相的主因对比度（D ） A. 试件的材质 B. 射线的能谱 C. 散射线的分布 D. 毫安分或居里分 22. 下列哪一因素对照相底片颗粒性无明显影响？（ B） A. 显影程度 B. 使用铅增感屏 C. 射线穿透力

10、D. 使用荧光增感屏 23. 工件中靠近射源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清晰度最差？（ C） A. 焦距增大 B. 焦点尺寸减小 C. 工件厚度增大 D.胶片与工件距离减小 24. 下列哪一参数不是影响小缺陷射线照相清晰度和对比度的共同因素？（ B） A. 焦点或射源尺寸 B. 黑度 C. 焦距 D. 射线线质 25. 决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因素是（A ） A. 对比度 B. 不清晰度 C. 颗粒度 D. 以上都不是 26. 胶片与增感屏贴合不紧，会明显影响射线照相的（B ） A. 对比度 B. 不清晰度 C. 颗粒度 D. 以上都不是 问答题： 1、什么是射线照相灵敏

11、度？绝对灵敏度和相对灵敏度的概念又是什么？ 2、简述像质计灵敏度和自然缺陷灵敏度的区别和联系？ 3、什么是影响射线照相影像质量的三要素？ 4、什么叫主因对比度？什么叫胶片对比度？它们与射线照相对比度的关系如何？5、就像质计金属丝的底片对比度公式讨论提高对比度的主要途径，并说明通过这些途径提高对比度可能会带来什么缺点？6、何谓固有不清晰度？7、固有不清晰度大小与哪些因素有关？8、何谓几何不清晰度？其主要影响因素有哪些？ 9、实际照相中，底片上各点的值是否变化？有何规律？ 10、试述和关系以及对照相质量的影响。 11、试述底片影响颗粒度及影响因素。 12、采用源在外的透照方式比源在内透照方式更有利

12、于内壁表面裂纹的检出，这一说法是否正确，为什么？ 13、在底片黑度，像质计灵敏度符合要求的情况下，哪些缺陷仍会漏检？ 参考答案： 1、 答：射线照相灵敏度是评价射线照相质量的最重要的指标，从定量方面来说，是指在射线底片上可以观察到的最小缺陷尺寸或最小细节尺寸；从定性方面来说，是指发现和识别细小影像的难易程度。 绝对灵敏度是指在射线照相底片上所能发现的沿射线穿透方向上的最小缺陷尺寸。 相对灵敏度是指该最小缺陷尺寸与射线透照厚度的百分比。 2、 答：为便于定量评价射线照相灵敏度，常用与被检工件或焊缝的厚度有一定百分比关系的人工结构，如金属丝、孔、槽等组合所谓透度计，又称为像质计，作为底片影像质量的

13、监测工具，由此得到的灵敏度称为像质计灵敏度。 自然缺陷灵敏度是指在射线照相底片上所能发现的工件中的最小缺陷尺寸。 像质计灵敏度不等于自然缺陷灵敏度，因为自然缺陷灵敏度是缺陷的形状系数、吸收系数和三维位置的函数；但像质计灵敏度的提高，表示底片像质水平也相应提高，因而也能间接地反映出射线照相相对最小自然缺陷检出能力的提高。3、答：影响射线照相影像质量的三个要素是：对比度、清晰度、颗粒度。射线照相对比度定义为射线照相底片上某一小区域和相邻区域的黑度差。 射线照相清晰度定义为射线照相底片上的黑度变化过渡区域的宽度。用来定量描述清晰度的是“不清晰度”。 射线照相颗粒度是根据测微光密度计测出的数据，按一定

14、方法求出的所谓底片黑度涨落的客观量值。 4、 答：由于不同区域射线强度存在差异所产生的对比度称为主因对比度，其数学表达式为： I/I=(T)/(1+n) 式中：I：透过试件到达胶片的射线强度；I：局部区域射线强度增量； ：射线的吸收系数；T：局部区域透射厚度差；n：散射比。 由上式可以看出，主因对比度取决于透照厚度差、射线的质以及散射比。 胶片对比度就是胶片梯度，用胶片平均反差系数定量表示，数学式为：G =D/lgE 式中：G：胶片平均反差系数；D：底片黑度差；lgE：曝光量对数值的增量。 影响胶片对比度的因素有：胶片类型、底片黑度、显影条件。 射线照相底片对比度是主因对比度和胶片对比度的综合

15、结果，主因对比度是构成底片对比度的根本因素，胶片对比度可以看作是主因对比度的放大系数。5、答：像质计金属丝底片对比度公式： D=0.434Gd(1+n)提高对比度主要途径和由此带来的缺点:1、增大v值。在保证穿透力的前提下，尽量采用能量较低的射线，但这样会使曝光时间增加。2、增大G值。可选用G值更高的微粒胶片；由于非增感型胶片G值和黑度成正比，也可通过提高底片黑度增大G值。但高G值的微粒胶片感光速度往往较慢，需要增大曝光时间，提高黑度也需要增加曝光时间，此外，黑度的提高会增大最小可见对比度D，对灵敏度产生不利影响。3、提高F值。可选择焦点尺寸大小的射源，或增大焦距，这样做也会使曝光时间延长。4

16、、减小N值。要减小散射线，就要使用铅窗口与铅屏蔽，这些也将降低工作效率，使曝光时间延长。 6、 答：当射线穿过胶片时，会在乳剂层中激发出电子，这些电子具有一定动能，会向各个方向飞散，并能使途经的卤化银晶体感光，其结果使得试件轮廓或缺陷在底片上的影像产生一个黑度过渡区，造成影像模糊，这个过渡区称为固有不清晰度Ui。 7、 答：固有不清晰度Ui值受以下因素影响： （1）射线的质。透照射线的光子能量越高，激发的电子在乳剂层中的行程就越长，固有不清晰度也就越大。 （2）增感屏。据文献报道：在中低能量射线照相中，使用铅增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用铅增感屏的底片；增感屏厚度增加也会引起固有不清晰度

17、增大；在射线和高能量X射线照相中，使用铜屏、钽屏、钨屏、钢屏的固有不清晰度均小于铅屏。 （3）屏片贴紧程度。透照时，如暗盒内增感屏和胶片贴合不紧，留有间隙，会使固有不清晰度增大。 固有不清晰度与胶片的类型和粒度无关，与暗室处理条件无关。8、 答：由于射线源具有一定尺寸，所以照相时工件表面轮廓或工件中的缺陷在底片上的影像边缘会产生一定的宽度的半影；此半影宽度就是几何不清晰度Ug， Ug的最大值Ug发生在远离胶片的工件表面。 Ug的计算式: : Ug=df b/ /(F-b)；Ug=df L2/ /L1 式中：df：射源尺寸；F：焦距；b：缺陷至胶片距离； L1：焦点至工件表面距离；L2：工件表面

18、至胶片距离。 由以上公式可知，Ug值与射源尺寸和缺陷位置或工件表面至胶片距离成正比，与射源至工件表面距离成反比。 9、 答：实际照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但为了简化计算，便于应用，有关技术标准仅以透照中心部位的最大Ug值作为控制指标。对不同部位Ug值的变化忽略不计。底片上不同部位的Ug值变化规律如下： （1）焦点尺寸变化引起Ug值变化：由于X射线管的结构原因，沿射线管轴向不同位置焦点投影尺寸是变化的。阳极侧焦点小，阴极侧焦点大。因此底片上偏向阳极一侧的Ug值小，偏向阴极一侧的Ug值大、 （2）L2/ /L1变化引起Ug值变化：透照纵缝时，被检区域各部位L2/ /L1不变，Ug

19、值不变，而透照环缝时，被检区域各部位的L/ /L值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也会增大。 10、 答：可简要归纳为以下几点： （1）射线照相中，通常主要考虑的事几何不清晰度Ug值和固有不清晰度Ui，两者共同作用形成总的不清晰度U，比较广泛的表达U、Ug、Ui的关系式是： U2= Ug2+ Ui 2 （2）由于U是Ug和Ui的综合结果，提高清晰度效果显著的方法是设法减小Ug和Ui中较大的一个，而不是较小的一个。例如，当Ui值远小于Ug值时，再进一步减小Ui值，以期望减小U，其效果是不显著的。 （3）在X射线照相中，Ui值很小，影响照相清晰度的决定因素是Ug值。 （4）在Co60，Cs137

20、及Ir192射线照相中，Ui值较大，对照相清晰度有显著影响，为提高清晰度，宜尽量减小Ug，使之不超过Ui值。考虑提高对细小裂纹的检出率宜选择Ug=Ui的条件，必要时可取Ug=Ui/2的透照几何条件。 11、答：底片影像是由许多形状大小不一的颗粒组成的，人们观察影像时在感觉上产生的不均一或不均匀的印象称为颗粒性，用仪器测定由各影像不均匀引起的透射光强 变化，其测定结果称为颗粒度。由于颗粒大小事随机分布的，目前较通过的方法是用直径24微米的扫描孔测定颗粒度。 肉眼所观察到的颗粒团实际上是许多颗粒交互重跌生成的影像。影像颗粒与胶片卤化银颗粒是不同的概念 影像颗粒度大小取决于以下因素：胶片卤化银粒度、

21、曝光光子能量和显影条件。 12、 答：采用源在外的透照方式比源在内的透照方式更有利于内壁表面裂纹的检出，这一说法是正确的，在试验和实际工作中均已得到验证，从理论上分析也是有道理的。 当源在内透照时，胶片贴在工件表面，由几何不清晰度公式Ug=b/ /(F-b)可知，裂纹影像存在一定的几何不清晰度，此外，由于裂纹的开口尺寸W大大小于焦点尺寸，几何修正系数大大小于1，照相几何条件（焦距F、缺陷到胶片距离b）会对裂纹影像对比度产生影响，使对比度下降，从而使缺陷检出率降低。 而当源在外透照时，胶片贴在工件内表面，此时胶片与内表面裂纹的距离b值最小裂纹影像的几何不清晰度最小，对比度也最高，所以缺陷检出率高

22、。 13、 答：（1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像对比度小于最小可见对比度，便不能识别。因此对一定的透照条件，存在着一个可检出缺陷临界尺寸，小于临界尺寸的缺陷便不能检出；例如：小气孔、夹杂、微裂纹、白点等。 （2）与照射方向不平行的平面型缺陷。平面型缺陷具有方向性，当缺陷平面与射线之间夹角过大，会使对比度减低，甚至在底片上不产生影像，从而造成漏检。例如：坡口及层间未融合、钢板分层的漏检以及透照工艺不当，角过大造成横向裂纹漏检属此类情况。 （3）闭合紧密的缺陷。对某些紧闭缺陷即使透照角度在允许范围内，仍不能产生足够的透照厚度差，从而造成漏检。例如：紧闭的裂纹、未融合、锻件中

23、的折迭等。 四、计算题 1. 用33mmIr92源内透中心法透照内径1200mm，壁厚38mm的容器对接双面焊环焊缝，求U g。 2. 用44mmIr92源内透照50mm厚的双面焊对接焊缝，欲使U g 0.2mm，求射源至胶片最小距离？ 3. 透照板厚为40mm的双面焊对接焊缝，焦距600mmX射线机焦点尺寸22mm，照相几何不清晰度U g为多少？如透照管电压为300KV，又已知固有不清晰度与管电压千伏值V的关系式为ui=0.0013,试计算固有不清晰度值，并计算出总的不清晰度U值为多少？ 4. 采用双壁双影透照763的管子对接焊缝，已知射源尺寸为3mm，焦距600mm,求胶片侧和射源侧焊缝的

24、几何不清晰度 ug1和ug2。 5. 透照板厚34mm的双面焊对接焊缝，射源尺寸为22mm，焦距600mm,透照管电压280KV，试计算:透度计放射源侧时的影象几何不清晰度和总的不清晰度。透度计放胶片侧时的影象几何不清度和总的不清晰度（设固有不清晰度Ui与管电压千伏值V的关系为Ui=0.0013；透度计放胶片侧时，设透度计至胶片距离L2=1mm） 参考答案： 1.解：已知df=3mm，L1=600mm，壁厚T=38mm 焊缝余高取4 mm（双面） 根据公式：Ug=dfL2/L1=342/600=126/600=0.21 mm 答：几何不清晰度Ug=0.21 mm 2、解：已知df=4mm，壁厚T=50mm 焊缝余高取4 mm（双面）Ug=0.20 mm 根据公式：Ug=dfL2/L1=0.2 mm=454/ L1 L1=454/ 0.2=1080