MSA试题集答案结束

1、一.选择填空（每题5分）：1 .测量系统是用来对被测赋值的 （ABCDEF ）的集合。A.操作者B.量具 C.设备D,软件 E.操作程序F.环境2 .测量过程的分别有（ ABCDF ）五个输入要素，输出则为测量值。A.操作者B.量具 C.产品D.测量方法 E.操作程序F.环境3 .数据的类型分为（ AB ） 数据。A.计量型 B.计数型 C.破坏型4 . MS/W审的二个阶段分别为（ BC ）阶段。A.数据收集 B. 分析C.改进5 .调整轴的图纸尺寸为 25 土，测得的过程变差为，最合适的量具应选用 （ D ）量具A.分辨力的游标卡尺B.分辨力为的千分尺C.分辨力的游标卡尺D.分辨力为的千分

2、尺6 .测量系统的宽度误差包括 （ DE ）A.偏倚B.稳定性C.线性D.重复性E.再现性7 .测量系统的位置误差包括 （ABC ）A.偏倚B.稳定性C.线性D.重复性E.再现性8 .以下哪种原因可能导致测量结果的变差（ ABCD ）A.零件的变差B.测量人内部变差C.测量仪器的变差D.测量环境导致的变差9 .以下属于测量设备的计量特性的有（ ABC ）A.分辨力B.最大允许误差C.测量范围D.重量 E.长度10 .在测量系统分析中，评价一个人使用一件测量设备，对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差，称为（A ）A.重复性B.偏倚 C.稳定性D.线性E.再现性11 .以下描述错误的是（B

3、）A.零件的真值永远无法得到，只能无限与之接近B.数显卡尺的准确度是 0.02mm；D.过程控制理论关注的是过程变差是否稳定并可接受C.产品控制理论关注的是零件是否在指定的范围内12 .以下公式错误的是（A.测量系统的偏倚=测量值真值（或约定真值）B. ndc（区别分类数）= *（PV/GRR）（总变差）2=EV （测量设备的变差）2+PV（零件的变差）2（测量系统变差）2 = EV（测量设备的变差）2 + AV （评价人白变差）213 .重复性是由（A ）个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。14 .位置误差通常是通过分析 （A ）和线形来确定。A偏倚 B

4、 精密度 C 重复性 D 再现性15 .以下哪种分析方法不是用于基本计量型的测量系统（C ）。A极差法 B 均值和极差法 C 假设检验分析D ANOVA16 .测量仪器分辨力的第一准则应该至少是：（B ）。A 公差的1/5 B 公差的1/10 C过程变差的1/5 D过程变差的1/1017 . （ A）是指重复性随时间的变化程度；A、稳定性B 、一致性C 、均一性D 、线性18 .测量系统的稳定性分析不能通过（D ）控制图来实现的。A、平均值极差B、PC 、单值移动极差图D、U19 . a随机误差就是由于普通原因造成的误差；b系统误差是由于特殊原因造成的误差；a和b中（D ）。A、只有a正确 B

5、、只有b正确 C、a b 均正确 D、ab均不正确20 .测量系统的重复性和再现性相对于公差的百分比可以接受的标准是（A ）。A、必须小于10%B、必须小于 5%C、可以大于222totalprocessmeasuremen system30%D、必须小于30%21 .破坏性测量系统的分析可通过稳定过程的大量取样来进行，其原理其中若控制图出现失控，说明（B ）。A、过程不稳定；B、测量系统异常；C、过程和测量系统均异常；D、过程和测量系统均正常22 . （ C ）是指重复性随测量的预期量程的变化程度；A、稳定性B、一致性 C、均一性 D、线性23.进行测量系统的 GR曲析的前提是（ ABCD

6、）A.测量设备已经过校准；B.偏倚已经过评价，并可接受；C.线性已经过评价，并可接受；D.稳定性已经过评价，并可接受。二.判断题(每题5分)：1. (，)重复性：是指同一个操作人员用同一量具经多咨测量同二零性的%特性所获得的测量值的变差，又 一1应为相同测量仪器叫系统内的误差。2. ( X )再现性：是指不同的操作人员采用 不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差,又叫系统间的误差。3. ( V )基准值：是用更高等级的测量设备进行多次测量所取的一个平均值。4. ( X )张三对量具A进行了稳定性分析，控制图显示有2/3的点落于中间1/3的区域，其中连续 7点呈链状分布，且在中

7、心线上下呈周期分布，张三判定此量具的测量系统分析结果可接受。5. ( X )测量系统分析是在 特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。6. ( X )准确度就是指测量系统的观测平均值与基准值的差异；-L应为偏倚7.8.V )稳定性是偏移随时间的变化，也就是漂移;x )线性是测量系统的 随机误差分量;应为系统误差分量9. ( V )灵敏度是指测量系统对被测量特性改变的响应;10. ( x )测量系统性能就是 测量系统的能力；11. ( V )测量的不确定度分析包含了MSA12. ( V )测量系统分析的样品必须是选自于过程并且代表整个的生产的范围。13. ( X )GR&R分析可接受的

8、最小分级数为5;一最终可接受性不应该单纯由一组指数来决定14. ( X )ANOVA分析中的方差被分解成零件、评价人、量具、少及侬三量具的交互作用所造成的重复误差4部份。|应该为零件与评价人之间的交互作用和由于量具造成的重复误差15. ( X )测量系统分析要求 必须要用到图解法控制计划提及的测量系统16. ( V )MSA分析的样品必须是选自于过程并且代表整个生产的范围17. ( X )按照TS16949的要求，企业应对 所有的测量系统都要进行分析。18. ( V )进行测量系统分析时，评价人的选择应从日常操作该仪器的人中挑选。19. ( V )再现性指的是测量系统之间(如不同夹具)和测量条

9、件之间的均值变差。20. ( V )GRR变差等于系统内和系统间变差之和。21. ( V )测量系统分析和量具的检定校准要求一样要定期进行。22. ( X )进行重复性和再现性分析时 应给每个样品编号以便让评价人每次测量时知道是几号样品。23. ( V )测量得到的数据就是客观事实。分辨力足够即可，并不是越高越好24. ( V )进行测量系统分析时，若可能，读数时可读到分度的一半。25. ( X )对于一个产品生产过程来说，测量系统的分辨力越高越好。26. ( X )通常一个生产过程的过程能力越高，产品检验出错的几率就越小。F27. ( V )测量数据的类型可分为计量型和计数型数据。T 器需准

10、同星可能原，一28. ( X )造成过分偏倚的可能原因是 仪器需要校准。29. ( X )量具如果已做过测量系统分析就 不用再检定或校准了。30. ( V )物品的实际值是未知的和不可知的。31. ( V )测量系统首先应进行稳定性分析。T32. ( X )误判是指将不合格判为合格。F33. ( X )破坏性测量系统肯定无法做重复性分析。F34. ( V )适合重复性的最佳术语为系统内变差。T35. ( V )可以将测量过程看作一个制造过程，它的输出就是测量数据。T36. ( V )检验时将合格品判为不合格品，我们通常把这种错误称为一类错误。T37. ( V )测量系统的能力是短期时间的测量系

11、统(随机)误差，由线性、一致性、重复性和再现性误差合成定量的。38. ( V )测量系统的性能如同过程性能，是所有变差源随时间的影响三.填空题1 .测量系统的稳定性是表示测量系统随(时间)的偏倚值。2 .测量系统的线性是(标识在量具正常(使用范围)内的偏倚变化量)。3 .测量系统的(重复性 )通常被称为测量设备的变差。4 .测量系统的(再现性 )通常被称为评价人的变差。5 .测量系统应处于(统计受控)状态意味着在重复测量条件下，测量系统中的变差只能由(普通原因)造成，而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性，并且可以通过( 控制图)法最佳地进行评价。6 .测量系统是用来对被测特性

12、定量测量 或 定性评价 的仪器或量具、 标准、操作、方法 、夹具、软件、 人员、环境和假设的集合。7 .测量过程的分别有操作者、器具、 产品、测量方法、环境五个输入要素,输出则为 测量值 。8 .数据的类型分为计量型 数据和计数型 数据。评审的二个阶段分别为分析阶段和 改进 阶段。10 .常用的游标卡尺其分辨率为 ,百分表为,千分尺为11 .线性是测量系统预期操作范围内偏倚误差值的差别。12 .如果一个测量系统用于过程控制，其变异性通常与变差进行比较,如果用于产品检验，其变异性通常与 公差 进行比较。13 .测量数据的用途之一是用于分析生产过程，判断生产过程是否统计稳定 。14 .评价测量数据

13、的质量，即评价随机现象的结果，应以在 稳定 条件下运行的某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性来确定。15 .进行测量系统分析时应给样品标上测量位置，否则，会带入零件内变差（如锥度、圆度的影响）。16 .分辨力又称最小读数单位，它是量具设计的一个固有特性，并作为测量或分级的单位被报告。17 .偏倚是指测量的观测平均值（在可重复条件下的一组试验）和基准值 之间的差值。18 .如果测量系统变差过大，会导致 低 估算过程能力指数。19 .偏倚、 稳定性 和线性是用来衡量测量数据位置变差的,重复性和 再现性 是衡量宽度变差的。四.名词解释1 .盲测法：测量人不知道测量零件的编号，以便测量时不产生记忆

14、2 .重复性：由一位评价人多次使用一种测量仪器，测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。3 .再现性：由不同的评价人使用同一个量具，测量一个零件的一个特性时产生的测量平均值的变差。4 . %GRR量具系统重复性和再现性合成评估。五.简答题1、什么是测量系统答：用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合；用来获得测量结果的整个过程。2、测量数据分为哪两类答：计数型，又称离散数据或属性数据，如通过，未通过，百分比，次数等；计量型，又称连续数据或可变数据，如长度，电压，电流等3、MSAF册对量具的分辨力有什么要求答：测量仪器分辨率至少是被测范围

15、是1/10,（即其最小刻度应能读到1/10过程变差或规格公差较小者；如：过程中所需量具读数的精确度是0.01m/m,则测量应选择精确度为0.001m/m）4、测量系统变差的类型有哪些答：一、位置变差（准确度），包括：偏倚、稳定性、线性二、宽度变差（精密度），包括：再现性、重复性5、计量型测量系统分析方法与计数型测量系统分析方法分别有哪些答：一、计量型：1、偏倚分析方法；2、线性分析方法；3、稳定性分析方法；4、重复性和再现性分析方法二、计数型1、风险分析法（假设检验法、信号分析法）2、数据解析法六.问答题1.测量系统分析的三三十法则，主要应用在哪个统计特性的测量系统分析中，请做一下具体介绍答：

16、三三十法则主要应用在重复性和再现性分析中，具体指：三个测量人员十个零件每个测量人员测量同一零件的同一特性，测量三次的重复性或再现性结果判定准则是什么答：%R&R10%通常认为测量系统可接受10%c %R&R30%基于应用的重要性、测量装置的成本、维修的成本等方面的考虑，测量系统可能是可接受的%R&R>30%测量系统不可接受，须予以改进。进行各种努力发现问题并改正，必要时更换量具或对量具重新进行调整，并对以前所测量的库存品再抽查检验，如发现库存品已超出规格应立即追踪出货通知客户，协调处理对策ndc>5, ndc为过程能被测量系统区分开的分级数3 .偏倚相对较大

17、的可能原因有哪几种（五种以上）标准或基准值误差，检验校准程序。仪器磨损，主要表现在稳定性分析上，应制定维护或重新修理的计划。制造的仪器尺寸不对。仪器测量了错误的特性。仪器校准不正确，复查校准方法。评价人员操作仪器不当，复查检验方法4 .计数型数据的 MS*当怎样进行答：计数型数据的 MS/W以用假设检验分析和信号探测理论方法进行评价。假设检验分析法具体操作如下：确定一套标准零件作为标准样本；三名评价人，每位评价人对每个零件评价三次，“1”接受，“0”不可接受；并记录测量数据；根据测量数据计算 Kappa值，有效性、漏发警报的比例、误发警报的比例。根据计算结果进行判定：合格接受；不合格则进行系统

18、分析制定改善对策。5 . MSA勺计算结果（R&R如何确定采用和放弃答：%R&FRC 10%勺误差测量系统可接受 .10%<%R&R30%勺误差测量系统可接受或不接受，决定于该测量系统之重要性，量具成本、修理所需之 费用等因素，可能是可接受的.%R&R>30%J误差测量系统不能接受，须予以改进.进行各种势力发现问题并改正，必要时更换量具或 对量具重新进行调整，并对以前所测量的库存品再抽查检验，如发现库存品已超出规格应立即追踪出货通知客户，协调处理对策。七.问答题1 .针对某一测量系统， ABC三个评价人测量10个零件，得到数据，通过计算，得到EV （测量设备的变差）是，AV（评价人的变差）是，零件的变差是，请通过以上数据，计算GR时总变差的百分比，并通过对 GRRS行对比分析，制定三条主要的改进措施。答：GRR=SQRT（AveV）=SQRT*+*=TV（总变差）=SQRT（GR2+PV2）=GRR%=GRR/TV/100*100=此测量系统的 GRR、于30%,大于10%,需要进行改进。因为AV的变差大于EV的变差，所以需要措施：评价人需要更好的培训如何使用量具仪器和读数量具刻度盘上的刻度不清楚需要某种夹具帮助提高评价人提高使用量具的一致性可能需要某些夹具协助操作员，使其更具一致性的使用量具.评价人对量具的操作方