SPC管制图-acer

1、BTC版本版本: 01 2000年年11月月SPC 管制圖管制圖課課程目的程目的對對 SPC SPC 基本的基本的認識認識數據資數據資料的料的蒐蒐集及管制集及管制圖圖的的繪製繪製2SPC SPC 基本概念基本概念什麼是什麼是 SPC(Statistical Process Control,SPC(Statistical Process Control,統計製程管制統計製程管制) ) ? ? 在製程管理及改善中所用到的統計技巧在製程管理及改善中所用到的統計技巧 重點在於利用少量樣本及統計手法的特性重點在於利用少量樣本及統計手法的特性, , 進行不良進行不良原因的探討原因的探討品保、工程、生產、研

2、發品保、工程、生產、研發 各單位都應善用各單位都應善用 SPC SPC 方方法來管理並持續改善問題法來管理並持續改善問題3SPC vs. SPC vs. 傳統傳統模式模式4SPCSPC之架之架構構及目的及目的應用統計手法作為製程管理及改善是公司製造部門重要工作之一。但是統計品管的應用範圍相當廣泛，一般業界常將它分為三大部分。SPC-2：應用於以製程為主體之工作，其重點在於解決問題SPC-1：應用於以檢查為主體之工作，其重點在於發現問題SPC-3：應用於以研發為主體之工作，其重點在於預防問題5SPC SPC 的功能的功能數據蒐集S P CS P C異常分析生產採取對策找出原因保持製程穩定6相相關

3、關品品質質技技術術SPC-1檢查用：基本統計量、計數、計量管制圖、直方圖、Cp & Cpk、柏拉圖、抽樣計畫SPC-2改善用：ANOVA分析、線性相關分析、線性回歸、簡易實驗計畫法、問題解決程序、QC-7、NQC-7SPC-3預防用：FMEA(BOM要先建立)、實驗計畫法7常用常用統計統計量量平均數(Average)：平均數具有三個重要特性：簡化作用代表作用比較作用nxxxnxXni.218絕對絕對差差異異量量數數 全距(Range)：意義：表示一群體全部數據的變動範圍， 意義明顯、計算簡單。minmaxxxR9管制管制圖圖管制圖的分類，管制圖分兩種：計量值管制圖又分X-R平均值及全距

4、管制圖、中位值及全距管制圖、個別值及全距管制圖計數值管制圖又分P百分不良率管制圖、nP不良個數管制圖、C缺點數管制圖計量管制圖適用的狀況是：資料是可量測的，且數據形式是連續性的。計數管制圖則適用於資料大半只能判定為良或不良，數據不為連續量的狀況，一般常用於外觀檢查。10管制管制圖圖之之優優缺缺點點 優點 缺點 計量值管制圖 靈敏度高, 為優良的管制工具 需要經常抽樣、測定及計算, 較為費時 計數值管制圖 數據取得較為簡單容易 不能及時採取處置措施 11計計量值管制量值管制圖圖0.500.550.600.650.701234567890.000.050.100.150.200.250.30123

5、456789RUCLRLCLRXUCLXLCLX12異異常常現現象象圖圖ABC規格上限(USL)管制上限(UCL)（平均值(CL)CLLCL(-3sx)UCL(+3sx)13計數計數值管制值管制圖圖缺點種類備註時間 檢驗數不良數龜裂破片污點其他百分不良率10:30 5041228.011:00 5051211 10.011:30 5093521 18.012:00 50612.012:30 50510.013:00 50 1122.013:30 5048.014:00 50714.014:30 50816.015:00 5036.015:30 50714.016:00 50918.016:30

6、 50612.017:00 50 1020.017:30 50714.018:00 5048.018:30 50918.019:00 50714.019:30 50816.020:00 50510.0百分不良率051 01 52 02 53 0135791 11 31 51 71 91415計計量值管制量值管制圖圖計量值管制圖產品名稱：16MDRAM作業程序：蝕刻製程零件編號：3388338操作者： Tsai量具：SEM測量單位：M測量值：1.00E-06日期7/17/27/3時間08:0016:0024:0008:0016:0024:0008:0016:0024:00樣0.580.650.5

7、80.540.50.660.50.510.67本0.610.650.540.660.620.650.550.50.54量0.570.540.610.560.560.650.690.640.51測0.650.690.650.530.510.590.620.520.5值0.570.630.540.50.50.590.620.560.52合計2.983.162.922.792.693.142.982.732.74平均值0.600.630.580.560.540.630.600.550.55全距0.080.150.110.160.120.070.190.140均值全距16計計

8、量值管制量值管制圖圖Step 0Step 0：12345678910X1 14.815.214.814.214.915.615.715.614.913.7X2 16.914.813.414.414.313.715.313.615.215.2X3 14.215.514.315.214.715.614.513.915.815.2X4 16.013.914.515.315.616.014.215.415.514.315.2314.9314.6315.3514.602.31.52.00.91.5Specification 21517計計量值管制量值管制圖圖Step 1Step 1 計算總平均及平均全距

9、：取樣取樣9 9組（原則上以組（原則上以2020組較佳），每組組較佳），每組5 5個。計算出個。計算出全全 部數據的平均值及平均全距。部數據的平均值及平均全距。在本例分別為平均值在本例分別為平均值=0.58=0.58，平均全距為，平均全距為=0.13=0.13。13. 058. 0RX18計計量值管制量值管制圖圖計量值管制圖產品名稱：16MDRAM作業程序：蝕刻製程零件編號：3388338操作者： Tsai量具：SEM測量單位：M測量值：1.00E-06日期7/17/27/3時間08:0016:0024:0008:0016:0024:0008:0016:0024:00樣0.580.650.58

10、0.540.50.660.50.510.67本0.610.650.540.660.620.650.550.50.54量0.570.540.610.560.560.650.690.640.51測0.650.690.650.530.510.590.620.520.5值0.570.630.540.50.50.590.620.560.52合計2.983.162.922.792.693.142.982.732.74平均值0.600.630.580.560.540.630.600.550.55全距0.080.150.110.160.120.070.190.140均值全距13. 0

11、58. 0RX19計計量值管制量值管制圖圖Step 2 決定座標範圍及點繪資料：決定座標範圍及點繪資料：首先找出最大和最小的平均值，在找出最大和最小首先找出最大和最小的平均值，在找出最大和最小的的全距，以便確定座標的範圍及最小刻度，如此才可全距，以便確定座標的範圍及最小刻度，如此才可將將所有資料全部點繪在圖表中。所有資料全部點繪在圖表中。20計計量值管制量值管制圖圖Step 3 計算計算全距管制界限：全距管制界限：全距的管制上限為全距的管制上限為全距的管制下限為全距的管制下限為275. 013. 0114. 24RDUCLR000. 013. 0000. 03RDLCLR管制界限係數表nA2D

12、3D4d221.8800.0003.2681.12831.0230.0002.5741.69340.7290.0002.2822.05950.5570.0002.1142.32660.4830.0002.0042.53470.4190.0761.9242.70421計計量值管制量值管制圖圖275. 0RUCL000. 0RLCL0.000.050.100.150.200.250.30123456789R Chart13. 0RStep 4 全距是否都在管制界限內：全距是否都在管制界限內：22計計量值管制量值管制圖圖資料全距皆在管制界限內？No只有12個資料的全距在管制界線外？Yes全距皆在管制

13、中Yes剔除超出全距管制界限的樣本重新計算XR的全距管制界限其餘全距皆在管制界限內？YesNo有個以上的全距在界限外全距失控停止計算平均值界限進行非隨機性誤差的追求及改善重新收集資料計算新的管制界限計算平均值的管制界限23計計量值管制量值管制圖圖R CHART00.0050.010.0150.020.0250.030.0350.040.045123456789101112131415161718192021222324252627282930Mainboard No.Solder PasteThickness(mm)R BARR UCLLCLRUCLRLCLR24計計量值管制量值管制圖圖Ste

14、p 5 決定平均值管制界限決定平均值管制界限：確定全距在監控下，再求平均值管制界限。確定全距在監控下，再求平均值管制界限。平均值的管制上限為平均值的管制上限為平均值的管制下限為平均值的管制下限為0.6550.130.5570.582RAXUCLX0.5050.130.557-0.582RAXLCLX25計計量值管制量值管制圖圖0.500.550.600.650.70123456789X bar R Chart275. 0RUCL000. 0RLCL0.000.050.100.150.200.250.3012345678913. 0R0.65XUCL0.505XLCL58. 0X26Step 6

15、 平均值是否都在管制界限內平均值是否都在管制界限內：資料平均值皆在管制界限內？No只有12個資料的平均值在管制界線外？Yes平均值皆在管制中繼續使用此表作為製程管理用Yes剔除超出平均值管制界限的樣本重新計算X的平均值管制界限其餘平均值皆在管制界限內？YesNo有個以上的平均值在界限外平均值失控進行非隨機性誤差的追求及改善重新收集資料計算新的全距管制界限下接全距流程圖計計量值管制量值管制圖圖27計計量值管制量值管制圖圖111213141515.413.716.015.614.214.714.516.914.814.415.015.416.015.015.314.915.716.214.815.

16、015.014.816.315.114.70.72.00.90.81.128計數計數值管制值管制圖圖Step 1 計算總不良率計算總不良率：Step 2 計算管制上下限：ndPnPPPLCLnPPPUCLpp131329AIP/MSU SMT VISUAL INSPECTIONP- CHART Date Number Inspected n Number rejected Fraction Rejected p nPP 133s UCL P + 3s LCL P - 3s 16-Jan 2325 28 0.012 0.007 0.022 0.007 17-Jan 1433 21 0.015 0

17、.009 0.024 0.005 18-Jan 1876 35 0.019 0.008 0.023 0.007 19-Jan 2106 29 0.014 0.008 0.022 0.007 20-Jan 2061 32 0.016 0.008 0.023 0.007 21-Jan 1571 19 0.012 0.009 0.024 0.006 22-Jan 2148 35 0.016 0.008 0.022 0.007 23-Jan 1784 19 0.011 0.008 0.023 0.006 24-Jan 1699 25 0.015 0.009 0.023 0.006 25-Jan 570 7 0.012 0.015 0.030 0.000 26-Jan 2366 34 0.014 0.007 0.022 0.007 Totals 19939 284 0.155055 0.096423 0.258332 0.065486 Total number rejected P = - = 0.014243 Total number inspected 30計數計數值管制值管制圖圖Step 3 不良率值是否都在管制上限內不良率值是否都在管制上限內