MS7000常用语句

1、1 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing上海宏测半导体科技有限公司上海宏测半导体科技有限公司MacroTest Semiconductor, Inc.MacroTest Semiconductor, Inc.MS7000 MS7000 常用语句常用语句作者：王 骏2 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice

2、for Your Testingl 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I）l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV）l 测量频率（测量频率（FoscFosc）l AWGAWG的的使用使用l DCBLDCBL的的使用使用l 扫描扫描l 多级扫描多级扫描l 断电断电(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 测量漏电流测量漏电流3 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingvoid _stdcall

3、 FVMI_fun()double adresult10;/定义数组adresult10OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceV,1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/给“Bin”脚施加1V电压，电压档位为2V，电流档位为5mA，电流范围限制为-55mAOVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_I,10,10,FALSE);/在“Bin”脚采样，采样次数为10，采样间隔为10，不开启Digitizer功能delay(5);/延时5msOVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureI,adresult,OVI_2V,OVI_5mA);/在“Bin”脚测

4、量电流，结果存到adresult数组中，电压档位为2V，电流档位为5mAOVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);/关闭“Bin”脚OVI通道AddTestResult(SITE_1,FVMV,adresult0);/在工位1上将adresult0中的数值显示出来，显示名为FVMI加电压测电流（FVMI）4 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingl 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I）l 加电流测电压（加电流

5、测电压（FIMVFIMV）l 测量频率（测量频率（FoscFosc）l AWGAWG的的使用使用l DCBLDCBL的的使用使用l 扫描扫描l 多级扫描多级扫描l 断电断电(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 测量漏电流测量漏电流5 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingvoid _stdcall FIMV_fun()double adresult10;/定义数组adresult10OVI.OVISe

6、t(Bin,OVI_ForceI,1,OVI_30V,OVI_5mA,-50,50);/给“Bin”脚施加1mA电流，电压档位为30V，电流档位为5mA，电压范围限制为-5050VOVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_V,10,10,FALSE);/在“Bin”脚采样，采样次数为10，采样间隔为10，不开启Digitizer功能delay(5);/延时5msOVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureV,adresult,OVI_30V,OVI_5mA);/在“Bin”脚测量电压，结果存到adresult数组中，电压档位为30V，电流档位为5mAOVI.OVISe

7、t(Bin,OVI_ForceOff);/关闭“Bin”脚OVI通道AddTestResult(SITE_1,FIMV,adresult0);/在工位1上将adresult0中的数值显示出来，显示名为FIMV加电流测电压（FIMV）6 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingl 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I）l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV）l 测量频率（测量频率（FoscFosc）l AWGAWG的的使

8、用使用l DCBLDCBL的的使用使用l 扫描扫描l 多级扫描多级扫描l 断电断电(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 测量漏电流测量漏电流7 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingvoid _stdcall Fosc()TMU.TMU_SET(Bin,TMU_FREQAN,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);/设定TMU测量模式为测量频率、采样次数为10、timeout

9、时间为1ms、测量档位为100kHz、不用滤波TMU.TMU_START(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0);/在“Bin”脚测量波形，下降沿0.5V位置开始触发TMU.TMU_STOP(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0); /在“Bin”脚测量波形，下降沿0.5V位置结束触发TMU.TMU_ARM(Bin);/“Bin”脚启动测量delay(10);/延时10msTMU.TMU_MTA(Bin,TMU_FREQAN,1);/测量“Bin”脚测试频率数据，测量模式为1AddTestResult(SITE_1,Fosc,TMU.GetPinResult(Bin);/在工位

10、1上将“Bin”脚中的数值显示出来，显示名为Fosc“TMU.TMU_SET(“Bin”,TMU_OFF,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);/关闭“Bin”脚TMU通道测量频率（Fosc）8 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingl 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I）l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV）l 测量频率（测量频率（FoscFosc）l AWGAWG的的使用使用l D

11、CBLDCBL的的使用使用l 扫描扫描l 多级扫描多级扫描l 断电断电(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 测量漏电流测量漏电流9 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingvoid _stdcall UserInit()/在UserInit()中下载波表文件double mcode4096;/定义数组mcode4096double pi2=8*atan(double)1);AWG.ChnInit(AWG

12、);/在“AWG”脚初始化AWG通道for (int i=0;i=1;i=i-0.02)/从i=1.5开始递减，每次递减0.02，直到为i=1OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1脚输出i的电压 delay(5);/延时5ms DVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2脚测量result1=DVI.GetPinResult(Bin2);/将Bin2脚测量结果赋给result1if(result1=1;i1=i1-0.1)/从i1=1.5开始递减，每次

13、递减0.02，直到为i1=1OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1脚输出i1的电压delay(5);/延时5msDVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2脚测量result1=DVI.GetPinResult(Bin2);/将Bin2脚测量结果赋给result1if(result1=1;i2=i2-0.02)/从i2=result0+0.1开始递减，每次递减0.02，直到为i2=1OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i2,OVI_

14、2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1脚输出i2的电压 delay(5);/延时5msDVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2脚测量result3=DVI.GetPinResult(Bin2);/将Bin2脚测量结果赋给result1if(result3=10&result0=20&result0=30&result0=40)ICR.SetPassBin(0,3);/result0在30到40范围内分在软件BIN3/result0在超出范围不写，默认分在函数失效设置的软件BIN中23 /

15、95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingl 加电压测加电压测电流电流（FVMFVMI I）l 加电流测电压（加电流测电压（FIMVFIMV）l 测量频率（测量频率（FoscFosc）l AWGAWG的的使用使用l DCBLDCBL的的使用使用l 扫描扫描l 多级扫描多级扫描l 断电断电(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 测量漏电流测量漏电流24 / 95MacroTest Semiconductor，In

16、c.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing测量漏电流void Ileak_fun()FHVI.FHVISet(FHVI,FHVI_ForceV,800,FHVI_1000V,FHVI_3P2uA,-0.003,-0.003);/在FHVI脚输出800V的电压FHVI.FHVIAdcSet(FHVI,FHVI_Adc_I,100,10);/在FHVI脚采样设置delay(5);/延时5msFHVI.FHVIMeasure(FHVI,FHVI_MeasureI,adResult,FHVI_1000V,FHVI_3P2uA);/将FHVI脚测量结果赋给数组adResultFHVI.FHVI