手机射频性能测试报告材料

1、实用标准文案技术文件技术文件名称：ZTEA300GS双频数字移动电话机射频性能测试报告技术文件编号:版本:共11 页（包括封面）拟 制 张惠德2002/11/12审核 会签标准化 批准深圳市中兴通讯股份有限公司目 录1 测试任务名称及内容 21.1 任务名称 21.2 测试任务版本情况 21.2.1 主板版本和测试状态 21.2.2 上次测试任务版本及遗留问题 21.3 测试目的 21.4 测试依据 21.5 测试内容和要求 32 测试环境与测试样机 42.1 测试环境 42.2 测试样机概况 42.3 测试样机版本验证 43 测试仪表和连接框图 44 测试结果及分析 54.1 测试结果 54

2、.1.1 常温射频测试结果 54.1.2 高温+电源拉高射频测试结果 64.1.3 高温+电源拉低射频测试结果 74.1.4 低温+电源拉高射频测试结果 错误！未定义书签。4.1.5 低温+电源拉低射频测试结果 错误！未定义书签。4.1.6 天线耦合测试结果 74.1.7 人体感应测试结果 错误！未定义书签。4.1.8 校准数据分布测试 错误！未定义书签。4.2 结果分析 84.2.1 测试问题汇总 84.2.2 与上次测试对比 85 测试结论 85.1 测试对象评价 85.2 测试结论 85.3 测试结论评审 9附录A 10文档1测试任务名称及内容1.1任务名称ZTEA300GS歐频数字移动

3、电话机射频性能测试。1.2测试任务版本情况1.2.1 主板版本和测试状态本次测试用主板属表 1中第 2项版本。表1版本号1234567主板状态主板I版主板n版主板川版研发样机预中试样机:中试样机批生产升级本次射频测试属表 2中第_2项测试。表2版本号测试状态1主板版本升级测试2 研发样机初测:3预中试样机测试4研发样机硬件定版测试5研发样机中试鉴定测试6批生产抽样测试7物料确认测试1.2.2 上次测试任务版本及遗留问题无。1.3测试目的本次测试的目的是：a）根据产品的研制规范和相关射频技术标准，对样机的射频性能进行测试，以验证样机的射频性能是否达到了预期的设计要求，是否满足GSM规范和相关标准

4、的要求。b）验证经改进的升级版样机（主板）存在的问题是否解决。c）验证样机在实验室条件下天线耦合性能。d）检查人体感应对样机射频性能的影响。1.4测试依据GB 4943-2001信息技术设备的安全GB/T 18287-2000 蜂窝电话用锂离子电池总规范YDN 055-1997 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网移动台设备技术规范（暂行规定）YD/T 884-1996 900MHz TDMA数字蜂窝移动通信网移动台设备技术指标及测试方法YD/T 998.1-1999移动通信手持机用锂离子电源及充电器第一部分：电源YD/T 998.2-1999移动通信手持机用锂离子电源及充电器第

5、二部分：充电器YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法第一部分：移动台及其辅助设备Q/SZX 026-2002 GSM数字移动电话机可靠性试验要求-总则Q/ZX D 23.001-2001GSM手机可靠性试验规范Q/ZX D 23.002-2001移动台电磁兼容性试验规范ZTEA30C研制规范ZTEA300系统测试方案ETSI EN 300 数字蜂窝通信系统（第 2+阶段）；移动台一致性规范；第1部分：一致性规范GS数字移动电话机进网检验实施细则（信息产业部）鉴于所有标准都可能被修订，在测试过程中必须尽可能使用以上标准的最新版本。1

6、.5 测试内容和要求根据测试任务不同，测试内容会有相应变动。本次测试内容包括表4中以下项目：a）常温常压射频指标测试；b）常温高压射频指标测试；c）常温低压射频指标测试；d）天线耦合测试；e）人体感应测试；f）长时间大功率通话温升测试；g）校准参数分布测试。测试内容和指标如表 3所示：编 号测试 项目编号详细测试项目指标要求对应测试任务（见1.1节）备注1射频指 标测试1.1发射功率用于主板版本升级测试、研发 样机初测、预中试样机测试、 研发样机硬件定版测试、研发 样机中试鉴定测试、批生产抽 样测试、物料确认测试包括常温测 试、高温+电源 拉偏测试、低 温+电源拉偏 测试1.2频率误差1.3多

7、径条件下的频率误差1.4峰值相位误差1.5均方相位误差1.6脉冲包络时间1.7调制谱1.8切换瞬态谱1.9坏帧指示性能1.10参考灵敏度1.11极限灵敏度1.12RSSI汇报值1.13接收机适用的输入电平1.14共信道抑制1.14邻信道抑制1.16互调抑制1.17阻塞与杂散响应1.18接收失真1.19杂散辐射1.20接收频率响应和强度等2天线耦 合测试P 2.1发射功率同上2.2频率误差2.3峰值相位误差P 2.4均方相位误差2.5脉冲包络时间2.6调制谱2.7切换瞬态谱2.8参考灵敏度2.9RSSI汇报值2.10接收机适用的输入电平2测试环境与测试样机2.1 测试环境射频指标需在屏蔽环境中进

8、行测试；样机测试前需通过校准和终测。测试过程基本情况如表 4所示。编号测试项目测试人员测试地点开始日期结束日期1常温测试张惠德实验室2002/10/282002/11/052高温+电源拉高测试同上P同上同上同上:3高温+电源拉低测试同上同上同上同上4低温+电源拉高测试同上同上同上同上5低温+电源拉低测试同上同上同上同上6天线耦合测试同上同上同上同上7人体感应测试同上同上同上同上2.2 测试样机概况测试样机（品）情况如表 5所示。提交日期2002/10/28样机数量10主板生产厂/主板生产批号/样机生产厂/测试属性样机测试样机编号28#、29#、30#、68#、78#硬件版本A300MB0209

9、01软件版本A300V1.00.00说明a）测试中每个样品只有一个代号，表格中带#代号即样品代号；b）样机测试前需通过校准；c）测试属性是指表2内容。2.3测试样机版本验证样机版本验证情况如表 6所示。序号样机号样机概况实际硬件版本实际软件版本128#50部样机A300MB020901A300V1.00.00229#同上同上同上330#同上同上同上468#同上同上同上578#同上同上同上3测试仪表和连接框图测试需要的仪器和设备如表 7所示：表7仪器设备名称型号数量综测仪CMU20C或 CMD551数字电源HP66322或 Agilient1PC机1GPIB 卡1RS232数据线1平板天线1频谱

10、仪1信号发生器1耦合器1高低温箱1数字表1假电池1射频指标的测试连接框图如图 1所示。4测试结果及分析4.1测试结果常温射频测试结果测试结果如表8所示。测试样机编号：59、# 78#线损设置：0.5dB,0.7dB 电压：4.0V测试项目测试结果测试结论备注28#29#30#68#78#1.1发射功率OKOKOKOKOKP1.2频率误差OKOKOKOKOKP1.3多径条件下的频 率误差/不具备测 试条件1.4峰值相位误差OKOKOKOKOKP1.5均方相位误差OKOKOKOKOKP1.6脉冲包络时间OKOKOKOKOKP1.7调制谱OKOKOKOKOKP1.8切换瞬态谱OKOKOKOKOKP1

11、.9坏帧指示性能/不具备测 试条件1.10参考灵敏度OKOKOKOKOKP1.11极限灵敏度OKOKOKOKOKP1.12RSSI汇报值OKOKOKOKOKP1.13接收机适用的 输入电平OKOKOKOKOKP1.14共信道抑制/不具备测 试条件1.14邻信道抑制/同上1.16互调抑制/同上1.17阻塞与杂散响 应/同上1.18接收失真/同上1.19杂散辐射/同上1.20接收频率响应 和强度等/同上说明结论：常温下的射频指标符合要求。4.1.2 常温高压射频测试结果测试结果如表9所示。测试样机编号：59、# 78#线损设置：0.5dB,0.7dB 电压：4.2V测试项目测试结果测试结论备注59

12、#78#1.1发射功率OKOK/P1.2频率误差OKOK/P1.3多径条件下的频 率误差/不具备测 试条件1.4峰值相位误差OKOK/P1.5均方相位误差OKOK/P1.6脉冲包络时间OKOK/P1.7调制谱OKOK/P1.8切换瞬态谱OKOK/P1.9坏帧指示性能/不具备测 试条件1.10参考灵敏度OKOK/P1.11极限灵敏度OKOK/P1.12RSSI汇报值OKOK/P1.13接收机适用的 输入电平OKOK/P1.14共信道抑制/不具备测 试条件1.14邻信道抑制/同上1.16互调抑制/同上1.17阻塞与杂散响 应/同上1.18接收失真/同上1.19杂散辐射/同上1.20接收频率响应 和

13、强度等/同上说明a）结论：常温高压下的射频指标符合要求。4.1.3 常温低压低射频测试结果 测试结果如表10所示。测试样机编号：59 #、78#线损设置：0.5dB , 0.7dB 电源电压：3.4 V表10测试项目测试结果测试结论备注#/1.1发射功率OKOK/P1.2频率误差OKOK/P1.3多径条件下的频 率误差/不具备测 试条件1.4峰值相位误差OKOK/P1.5均方相位误差OKOK/P1.6脉冲包络时间OKOK/P1.7调制谱OKOK/P1.8切换瞬态谱OKOK/1.9坏帧指示性能/不具备测 试条件1.10参考灵敏度OKOK/P1.11极限灵敏度OKOK/P1.12RSSI汇报值OK

14、OK/P1.13接收机适用的 输入电平OKOK/P1.14共信道抑制/不具备测 试条件1.14邻信道抑制/同上1.16互调抑制/同上1.17阻塞与杂散响 应/同上1.18接收失真/同上1.19杂散辐射/同上1.20接收频率响应 和强度等/同上说明结论：常温低压下的射频指标符合要求4.1.4 天线耦合测试结果 测试结果如表11所示。 测试样机编号：30# 线损设置：5dB, 15dB表11测试项目测试结果测试结论备注30#2.1发射功率GSM功 率正常，DCS:功率较低F2.2频率误差OKP2.3峰值相位误差OKP2.4均方相位误差OKP2.5脉冲包络时间OKP2.6调制谱OKP2.7切换瞬态谱

15、超差F2.8参考灵敏度GSM:-98 dBm DCS:-10 3dBmF说明结论：a) GSM频段的参考灵敏度只有 98dBmb) DCS频段的发射功率偏低c) GSM和DCS频段的开关谱超差以上主要原因是由于 LCD由于屏蔽不好，对射频造成干扰造成。4.2结果分析测试问题汇总表3序号测试项目问题描述严重性评价原因分析解决方案建议1天线耦合 测试耦合测试中，接收灵敏度、开关谱、 功率超差严重LCD的屏蔽性 能不好，对射 频由干扰FPC曾加上屏蔽 层4.2.2 与上次测试对比序号测试内容本次情况上次情况评价备注5测试结论5.1测试对象评价从测试结果看，A300在常温下和高低温下的射频指标基本正常，但通过天线耦合后, 灵敏度有严重下降，影响接收和通话效果。另外开关谱比较临界，容易超差。5.2 测试结论射频性能没有通