PIN设计报告(1)_第1页
PIN设计报告(1)_第2页
PIN设计报告(1)_第3页
PIN设计报告(1)_第4页
PIN设计报告(1)_第5页
已阅读5页,还剩9页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、PIN二极管设计报告姓名:学号:班级:中国计量大学2016年3月8号一器件工作原理3二.器件设计42.1 工艺设计42.2 版图设计5三器件版图53.1 版图说明(图+数据+说明)53.2 制版说明8四器件工艺84.1 工艺流程图84.2 工艺计算104.3 工艺流程表13五.器件性能计算13六总结与体会14一器件工作原理一般的二极管是由N型杂质掺杂的半导体材料和P型杂质掺杂的半导体材料直接构成形成PN结。而PIN二极管是在P型半导体材料和N型半导体材料之间加一薄层低掺杂的本征(Intrinsic)半导体层。 PIN二极管的结构图如图1所示,因为本征半导体近似于介质,这就相当于增大了P-N结结

2、电容两个电极之间的距离,使结电容变得很小。其次,P型半导体和N型半导体中耗尽层的宽度是随反向电压增加而加宽的,随着反偏压的增大,结电容也要变得很小。由于I层的存在,而P区一般做得很薄,入射光子只能在I层内被吸收,而反向偏压主要集中在I区,形成高电场区,I区的光生载流子在强电场作用下加速运动,所以载流子渡越时间常量减小,从而改善了光电二极管的频率响应。同时I层的引入加大了耗尽区,展宽了光电转换的有效工作区域,从而使灵敏度得以提高二.器件设计2.1 工艺设计掺杂工艺:1.扩散。替位式扩散,间隙式扩散 2.离子注入:用能量为100keV量级的离子束入射到材料中去,离子束与材料中的原子或分子将发生一系

3、列物理的和化学的相互作用,入射离子逐渐损失能量,最后停留在材料中,并引起材料表面成分、结构和性能发生变化,从而优化材料表面性能,或获得某些新的优异性能。氧化工艺:制备二氧化硅层,热氧化制备2.2 版图设计 制作PIN二极管,先由N+衬底,在外延出N-区,后由光刻进行制作,利用正胶光刻,版图有色部分进行曝光。三器件版图3.1 版图说明(图+数据+说明)版图全貌版图尺寸11um*6.5umL1版为扩硼版版L2 版为金属接线孔版L3 版为金属接线孔反刻版以上3 块版各另需翻制一块,总计6块版L1版为扩硼版版图尺寸 11um*6.5um 内有7um*4um的方块有效面积:28平方微米L2 版为引线孔版

4、版图尺寸 11um*6.5um(由1个2um*1um的方块组成)有效面积2平方微米L3 版为接线孔反刻版版图尺寸 11um*6.5um(由版图一挖去3.5um*2um的方块组成)有效面积21平方微米3.2 制版说明版图总尺寸为11um*6.5um,接触点采用铜铝合金,节深2um,以N型硅为衬底,使用L1版进行扩硼,用L2.3.分别刻出接线孔和反刻接线板。 L1:L1-CXY-20160311:扩硼版。采用正胶,有色区域的玻璃板有光透过 L2:L2-CXY-20160311:金属接线孔版。采用正胶,有色的区域有光透过。L3:L3-CXY-20160311:引线孔版反刻板。用正胶,有色的区域有光透

5、过。制版日期:20*年*月*日四器件工艺4.1 工艺流程图1. 取一块重掺杂硅片,作为原始N+底2. 在其上外延一层N-型硅3、氧化得到二氧化硅层,光刻,运用版图1 的进行硼的扩散孔 . 4. 氧化得到二氧化硅层,运用相应版图,光刻,镀上铝铜合金;反刻得到金属电极4.2 工艺计算1. 设计静态额定击穿电压1200V,考虑安全系数后指标定为1466.67V氧板1um 场版4.5um 电压1200V 假设余量为10%,场终端效率90%,则V=1200*(1.1)/0.9=1466V1500V;电压266.67V1. 2.耐压层浓度为1×10×13cm-3= Wp=61um3.扩

6、散系数:,;=18.964.设定载流子寿命为1um。=43.54um =30.5um5.d/La=0.7005 V=0.93=0.05tanh(d/La)=0.6=0.157大注入电流密度随导通压降的公式为代入:= ,d= =30.5um,Va=0.93V,=0.157;得到 =354.46.导通压降Von=Vm+Va=0.93+0.05=0.98V7.设I=1A ,可以由S=I/Jt=2.806,氧板1um 场版4.5um.设长为长为7.015um,宽4um。8. =(354.4×1466.67×0.9)/(0.98×2.806)得到为1.701×10

7、84.3 工艺流程表1.取一块重掺杂硅片,作为原始N+底2.在温度1300,气流速率5cm/s条件下处理80min,生长浓度为1×1013cm的外延层3. 热氧化形成SiO2层、光刻、运用L1版图,采用1000 下进行20 分钟的硼扩散,氧版深为1m,4.氧化得到二氧化硅层,运用版图2和3,光刻,镀上铝铜合金;反刻得到金属电极5.利用光刻背面多层金属6.进行封装注意:全程都使用正胶光刻只是光照的范围不同五.器件性能计算击穿电压 1466.67V导通压降Von= 0.98V电流密度354.4发射极注入效率0.9面积7.015um*4um六总结与体会 这次设计的是PIN二极管,相对于上次的IC电阻,这次的设计难了很多,有大量的计算,很多公式都不清楚,完全是摸着石头过河,不懂,单页通过这个设计学到了很多的东西,不会的要自己学,问同学。二极管的击穿电压,电流,面积大小统统都需要自己

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论