滚珠直径自动分选机测控系统设计本科毕业设计

1、CHENGDU UNIVERSITY本科毕业设计题 目滚珠自动分选机测控系统设计成都学院学士学位论文（设计）毕业设计（论文）原创性声明和使用授权说明原创性声明本人郑重承诺：所呈交的毕业设计（论文），是我个人在指导教师的指 导下进行的研究工作及取得的成果。尽我所知，除文中特别加以标注和致 谢的地方外，不包含其他人或组织已经发表或公布过的研究成果，也不包 含我为获得及其它教育机构的学位或学历而使用过的材料。对本研究提供过帮助和做出过贡献的个人或集体，均已在文中作了明确的说 明并表示了谢意。作者签名： 日期：指导教师签名： 日期：使用授权说明本人完全了解大学关于收集、保存、使用毕业设计（论文）的规定

2、，即：按照学校要求提交毕业设计（论文）的印刷本和电子版本；学 校有权保存毕业设计（论文）的印刷本和电子版，并提供目录检索与阅览 服务；学校可以采用影印、缩印、数字化或其它复制手段保存论文；在不 以赢利为目的前提下，学校可以公布论文的部分或全部内容。滚珠自动分选机测控系统设计摘要：本设计是针对滚珠按直径自动分选的难题，提出一种采用CCD光电传感器来实现对滚珠直径进行测量的方法。通过对 CCD中被挡光部分的像元个数的计数，从而获得滚珠的实际直径，经过系 统中单片机的自动分析判断，启动分选装置，将符合条件的滚珠分选出来。该方案可较好的实现滚 珠的自动分选，是光电技术在滚珠分选行业的典型应用。关键字：

3、滚珠；分选机；CCD-TCD142传感器；89C52单片机；误差分析Ball Beari ng Automatic Sort ing Mach ine Con trol SystemDesig nSpecialty: Measureme nt and Con trol Tech no logy and In strume ntStudent Number: 200910114240Student: Chen KeyuSupervisor： Wu BinAbstract : This design is for the ball in the problem of automatic sorti

4、ng diameter,puts forward a method to realize the measurement of ball diameter by CCD photoelectric sensor.Through the count of CCD were coun ted in the pixel light-blocked, to obta in the actual diameter of ball, after the judgme nt of sin glechip in system,start sorting device,sorted out in line wi

5、th the conditions of the ball.This scheme can realize automatic sorting the ball better,is a typical applicatio n of photoelectric tech no logy in ball separati on in dustry.Key words : Ball bearing ; Separator; The CCD-TCD142®hotoelectric sensor; 89 c52; The error analysis成都学院学士学位论文（设计）1绪论11.1

6、滚珠分选机研究的现状 11.2研究内容12方案设计23分选机模块设计 33.1上料装置33.2送料装置43.3测量部分63.3.1 测量装置63.3.2激光发射端73.3.3 CCD光电传感器83.3.4 CCD-TCD142D 传感器103.4分选部分113.4.1 分选原理113.4.2 分选装置 124系统软件设计 134.1单片机134.1.1 AT89C52 简介134.1.2引脚介绍134.2 CCD-TCD142D 电路164.3 二值化电路处理 174.4输入模块184.5显示模块194.6 分选模块电路设计 204.7总体电路设计214.8系统程序设计 215测量误差分析及误

7、差消除方案 225.1误差分析的要素 225.2随机误差235.2.1滚珠热胀冷缩引起的随机误差 235.2.2被测滚珠尺寸产生的测量误差 235.2.3被测滚珠表面粗糙度引起的误差 245.3系统测量误差255.3.1测量环境中杂质引起的误差 255.3.2传感器定位引起的误差 255.4本章小结266结论27附录一 28附录二29附录三30参考文献31致谢32II成都学院学士学位论文（设计）1绪论1.1滚珠分选机研究的现状调查资料表明，国内外对轴承滚珠的分选装置的研究经历了很长的一段时间，它作 为轴承制造业中重要的专用设备，对提高轴承质量，提高生产效率，减轻工人的劳动强 度，具有十分重要的

8、意义。根据测量方式的发展过程将分选装置分为以下几个阶段第一阶段：采用千分表对滚珠进行测量，这种方式出现最早，也是应用时间最长的 一种测量方式，在我国大多数的轴承生产厂家依然沿用该分选方式，它虽然能够在一定 程度上满足生产的需要，但由于采用该方法必须投入大量的人力资源，严重的浪费了劳 动力，对于人口密集型的地区来讲尚可以适用，但对于劳动力稀缺的地方就存在着人力 资源浪费的现象。第二阶段：采用接触式的测量方式，根据不同的滚珠，设计不同类型的滚珠分选机, 设计的目的是为了能够实现自动上料、自动送料、自动测量以及依类别分选等过程。第三阶段：采用非接触式的测量方式，将计算机强大的数据处理能力和庞大的分析

9、 能力有机地结合起来，以满足人们对于工业自动化程度不断提高的需要。采用非接触式 的测量方式不仅能够解决测量过程中由于磕碰产生的误差，而且测量精度也非常高0综上所述，滚珠分选机因轴承行业的兴起而发展， 随着工业发展的程度的不断递进, 研制自动化程度更高的分选设备对我国工业自动化水平的提高有强劲的推进作用。1.2研究内容(1) 研发一种能够取代传统检测方式的测量设备，其作用对象是轴承滚珠。(2) 寻求一种不同于当前分选机的测量方式，提出利用 CCD光电传感器实现非接触 式测量的方式来获得被测滚珠的直径的思路，并在结构中合理运用。(3) 测量后的滚珠要按照一定的尺寸进行分级存放，如何进行分类筛选是该

10、装置的 一个需要重要考虑的问题。(4) 对测量过程中由随机误差、系统测量误差引起的对测量结果可能产生误差的原 因进行分析，找出主要误差和次要误差，对可能产生的误差值进行量化，并提出避免和 减少误差产生的方案。2方案设计本次设计主要采用模块化设计，模块化设计主要是以功能化的产品结构为基础，分 解产品，在分解中考虑到各个要素的可行性，从而在早期就预测到设计中可能会出现的 矛盾，提高设计的可行性和可靠性，降低产品的成本 0系统主要功能模块包括的部分有：测量模块、控制模块、送料模块、上料模块、分 料模块以及落料模块；次要功能模块包括：支架模块、动力模块以及外形罩模块。本文 章将主要介绍设备中的上料装置

11、、送料装置、测量部分与分选装置，并对最后测量结果 进行误差分析。滚珠分选流程图如下：待测滚珠由 自动上料 装置送下， 经送料装 置送入测量 部分，测 量部分通过CCD-TCD142测出滚珠的直径数据，并将数据传给 AT89C52单片机，AT89C52单片机将 数据处理后继而控制分选装置，使滚珠经过不同的阀门进入到不同的料箱中储存，从而 完成对滚珠直径的自动测量与分选。软件部分，本设计拟采用矩阵键盘对系统进行参数 设置，测量部分采用半导体激光器作为发射光源，CCD-TCD142图像传感器作为测量元件。拟采用AT89C52单片机进行数据处理和控制分选，用 LCD12864-0402E进行数据显 示

12、 03分选机模块设计3.1上料装置上料装置它的作用是把盛在料斗里的工件送至待料位置，实现自动供料。作为自动上料装置的料斗有多种结构型式，常采用往复式推管式结构，其中常见的有如图3-1两种，前一种是气动式的，它实际上是一组复合气缸，中空的活塞杆即为料管，两气缸的运动时反向的，一般用在圆锥滚子和圆柱滚子等分选机上。后一种是机械式的，由电机 传动，也是由两支上下往复运动的推管组成，一般用在滚珠和钢球等分选机上。1、上套2、上料管组件3、托快4、螺钉5、软管组6、压软管块、托架8、侧向轴承 9、摆杆10、盖板11、油杯12、塞子图3-1料斗要保证高精度、高速度的自动分选，有一个高效率的自动上料机构是必

13、须的，两向往复推管式料斗能很好地保证这一点。即使对于不易下料的某些大规格滚珠，也能保证100个每分的供料速度，此时两推管的往复运动速度为60-100次每分，因此供料情况完 全满足要求。此外，在这种结构中，两推管对料斗中所盛滚珠的搅动较小，故虽然下料 速度甚快，但滚珠的搅动量不大，因而与其他一些结构形式的料斗相比较，这种料斗噪 音较小，滚珠表面搓伤也较小33.2送料装置送料装置不仅应满足送料对象的节拍要求， 而且要为CCD光电传感器的工作提供条 件。CCD光电传感器的响应时间较短，测量速度快，可以采用气缸推料的方式，由送料 杆将滚珠从待料位置送入测量位置，同时把前一个滚珠推入分选装置，从而实现送

14、料。 如图3-2所示，送料装置有三个功能件组成，分别是 5°斜面、气缸、V型定位块。三个 功能件安装在设备中的测量工作台上，组成送料结构。5°斜面安装在工作台的右侧，其出口端与V型定位块相连，斜面上的滚珠在重力和后排滚珠的推力作用下顺利滚落到V型定位块中。在V型定位块的一侧由装有推杆的气缸连接，气缸的往复运动推动滚珠在 V型块上的移动。V型块是滚珠移动的载体，不仅与 5°斜面、气缸相连，还有一部分位 于传感器之间，便于滚珠的测量。图3-2滚珠送料装置示意图具体设计思路如下：5 °斜面的设计：如图3-3所示，滚珠为球面体，其与工作台之间的接触方式为点接 触

15、,斜面对滚珠产生的摩擦力小，存在一定斜度的平面上的滚珠会自动滚落，便于滚珠的 自动送料。同时,过大的倾斜角度会导致滚珠不能按顺序排列在斜面和V型定位块上，经计算采用斜度为5°的斜面为适合角度。此外，设计中为了方便滚珠能够顺利的从斜面上 滚落到V型定位块上，在5°斜面的出口端相对于V型定位块高出2mm这样既会使滚珠可 以正常滚动到V型块上,又可以避免滚珠卡在5°斜面和V型定位块二者间。4成都学院学士学位论文(设计)待测滾珠丁斜面丫型定位块图3-3 5 0斜面结构示意图气缸的设计：气缸选用的是标准件，其行程的选择是根据滚珠的直径决定，对于测 量不同直径的滚珠时，气缸的

16、行程是需要调节的，因此实际测量中应根据不同直径在气 缸端头处装上不同长度的推杆，以满足送料时的需求。此外，推杆不仅起到送料的作用， 在推杆伸出的同时还将阻挡下一个滚珠下落，保证50斜面上的滚珠能够逐个有序地移动，从而起到阻料的作用。V 型定位块设计：V型定位块是连接5°斜面与传感器之间的纽带，同时滚珠测量的 过程也是在其上进行的，所以，该定位元件不仅需要为滚珠的移动提供支承，而且还要 保证滚珠在移动的过程中不被磨损。该元件的材料应采用尼龙制成，尼龙具有很高的机 械强度、耐热、摩擦系数低、耐磨损，并且还有具有吸震性，对于测量设备的定位元件 是一种很好的材料5。同时，如图3-4所示，在V

17、型定位块的一侧铣出宽度为5mm勺条 形槽，光电传感器的发射端发射的激光将从此处贯穿，滚珠在V型定位块上移动经过时可以通过CCD接收端暗区的长度而计算出待测滚珠的直径。缺口/ H/图3-4 V型块结构示意图该方案有如下优点：(I) 该送料装置仅采用三个构件来实现，结构紧凑，能够满足对送料设计的要求,简单而实用(2) 采用5°斜面放置滚珠，与气缸伸出的推料杆之间联动使其可以在重力的作用向 下自由移动的同时也达到了逐个放行的目的，省去阻料器的设计。(3) 采用尼龙V型定位块使定位准确，滚子在移动过程中减少其摩擦，避免在测量 时表面粗糙度受到破坏。3.3测量部分分选机的两个重要的模块是测量与

18、分选，测量是滚珠分选的第一个环节，也是决定 整机测量精度、测量速率的主要环节。测量工具的选择是该部分设计的首要任务之一， 下面结合现有的测量仪器进行比较，选择满足测量需求的产品。现阶段用于滚珠直径测 量的仪器共有两种，分别是接触式传感器、非接触式传感器，接触式传感器：主要以压电传感器为主，仪器结构简单，价格较高，但测量精度高, 测量准确。多出现在20实际90年代中后期研制的滚珠分选机中，测量效率相对较高， 可减少劳动力投入，降低工人的劳动强度。缺点是现有市面上出售的传感器价格居高不 下，导致分选机的价格难以被中小生产厂家所接受，不利于自动化设备的大范围推广。非接触式传感器：现阶段出现的非接触式

19、测量分选机中，光电传感器是唯一被应用 的传感器。光电传感器结构简单、体积小、测量精度高、测量结果准确可靠、价格较高, 但由于其在测量过程中对被测零件没有磨损，且被测零件定位简单，响应时间短、速度 快，可以满足现代工业快速滚珠测量的目的。利用光电传感器进行测量是滚珠测量行业 的最佳方案之一。本设计采用光电传感器进行测量，光电传感器用于测量系统时，具有不接触、精度 高、速度快、灵敏度好及不受电磁干扰等优点，对于生产线或设备维修都具有极大的应 用潜力。3.3.1测量装置如图3-5(a)所示,左侧为激光发射端,右侧为CCDS收端，发射端产生一个截面状 的平行光束向前传递，CCD8收端能够检测到所发射的

20、平行光束范围，这样就在两者之 间形成了一面测量区域。从图3-5 (b)中可见，V形定位块在激光通过的部分铣出缺口 以便光线能够完全无阻碍通过，当待测滚珠从中穿过时，被测滚珠会阻挡住一部分平行光束，在CCD光敏面上形成暗区，而其余部分形成亮区，此时只要测得暗区的长度就可 计算出被测滚珠的直径值0(a)CCDis平行激光束(b)图3-5测量装置示意图3.3.2激光发射端测量装置的激光发射端采用半导体激光器作为发射光源，半导体激光器是指以半导体材料为工作物质的一类激光器，亦被称为半导体激光二极管。半导体激光器具有超小 型、咼效率、结构简单、成本低、易于调制等优点 。其原理如下：通过金属接触给PN结加

21、上正向偏置，在作用区内，电子和空穴复合产生光子。当注入电流较小时，注入结区的电子和空穴也较小，辐射小于吸收，此时激光器只能产生自发辐射，出现普通的荧光；电流逐渐加大，注入结区的电子和空穴增多，这时将发射 很亮的荧光。当注入电流增大到增益足以补偿损耗时，才能产生谱线尖锐、模式明确的 振荡，此时才是真正的激光。其特性如下：功率-电流特性是半导体激光器重要的特性，是系统设计的重要依据，当激光器注 入电流较小时，自发辐射占据主导地位，输出的光为荧光；随着注入电流的逐渐增大， 开始产生受激辐射，输出光功率也逐渐增加，当注入电流增大到某一值时，输出光功率 急剧增加，这个电流就是阈值电流，当注入电流大于阈值

22、时，激光器发出激光。如图3-6所示，为激光发射端的光学系统，半导体激光器发射的激光经光栅变成平 行光束后射向被测滚珠以及CCD接收端，从而完成对滚珠的测量。半导体激光器光栅 滚珠CCD接收端图3-6激光发射端光学系统示意图3.3.3 CCD光电传感器CCD(Charge Coup Led Device)即电荷耦合器件，是一种新型的固体成像器件，它 是在大规模硅集成电路工艺基础上研制而成的模拟集成电子芯片，既具有光电转换的功能，又具有电信号电荷的储存、转移和读出的功能。CCD专感器在结构上可分为面阵和线阵。面阵CC吐要用于图像的记录、储存等方面，线阵 CC吐要用于物体外部尺寸的 非接触检测及机器

23、人视觉中的精确定位等。较之传统的机械式、光学式、电磁式测量方 法，线阵CCD专感器实现了尺寸检测的智能化、自动化。线阵CCD3其驱动简单，信号处理相对容易，而在工业检测领域得到了广泛的应用 。而本次设计正是以线阵 CCD专 感器为基础来测量滚珠直径，从而实现滚珠的自动分选。(1) CCD光电传感器的工作原理CCD电荷藕合器采集图像信号，可分为三个过程，首先将光信号转换成电荷，然后暂 时存放在存储器中，最后用时钟脉冲顺序读出信号。8成都学院学士学位论文（设计）1. 采光积累电荷当人射光照射到光敏元件上时，由于光量子的激发，使光敏材料上的导电粒子（电子 空穴对）增加，在金属电极下的P型硅衬底上表面

24、形成电荷积累。人射光越强，在光敏材 料中激发的导电粒子越多，形成的电荷积累也越多。2. 电荷的转移及电荷信息的读取为取出存储区中积累的电荷信息，在金属铝电极和P型硅衬底加上控制电压，使存储 区中电荷向下一存储电荷区中转移，送至电荷信息读取电路，在时钟脉冲控制下顺序读 出。CCD电荷祸合器像串行移位寄存器一样，以行为单位，一位一位地输出信息，实施电荷的转移输出。电荷转移和电路信息读取电路是一个构造较复杂的半导体电路，需在P型硅衬底上制作电荷转移存储器，输出电极（N刃，还需要有三组不同电源相配合方能 输出电荷信息。CCD电荷耦合器输出的是与入射光强度成比例的模拟信号，此信号送往A/D转换，转换成一

25、个与入射光强度成比例的二进制数（该二进制即对应一个像素的数据），并送往下一级电路处理。（2）CCD光电传感器的特点及应用CCD图像传感器可直接将光学信号转换为模拟电流信号，电流信号经过放大和模数 转换，实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。其特点如下：1. 体积小重量轻；2. 功耗小、工作电压低、抗冲击与震动、性能稳定、寿命长；3. 灵敏度高、噪声低、动态范围大；4. 响应速度快、有自扫描功能、图像畸变小、无残像；5. 像素集成度高、尺寸精确、商品化生产成本低。其主要应用于数字相机、数字摄像机、扫描仪中，在采用光学方法测量外径的仪器 中，常把CCDS件作为光电接收器。（3）CCD勺输出信号图

26、3-7为CCD勺输出信号示意图，亮区处为高电平，暗区处为零，且像元之间的距 离是已知的（相邻像元中心距是制造时确定的）。CCD勺感光或挡光区域输出的信号经二 值化处理后并作适当的电平变换，成为一定宽度的电平信号。如果得到挡光区域所包含 的像元个数，则就可计算出该挡光区的宽度来。由于 CCD勺信号是移位输出的，且移位信号的输出是与移位时钟脉冲对应的，所以为了计算出挡光区域所包含的像元个数，只 需对图3-7（b）中a、b两点间所对应的移位时钟脉冲数进行计数即可，这样就不需要将 每一像元信号均读出处理，而只需采用计数电路对像元个数进行计数即可。亮区 暗区 亮区(a)25图3-7 CCD输出信号示意图

27、3.3.4 CCD-TCD142D 传感器CCC传感器本设计采用的是线阵 TCD142D传感器。TCD142D1 一种具有2048位光敏 元的双沟道两相线阵CCD器件，共有2110个光敏像元阵列，62个哑元（前51个、后11 个，以铝膜遮盖用于测量暗电流），共有22个引脚，其中12个是空脚。TCD142唄有高灵敏度、低暗电流等优点，其管脚排列如图 3-8所示: 引脚说明：匚匚匚匚匚匚匚匚匚匸匚 s s D /* * 030OCR%sc1A （1B2A、2B）:时钟SH转移栅RS:复位栅OS信号输出DOS补偿输出OD电源SS:地打川工'NC空脚图3-8 TCD142D管脚图其主要性能参数

28、如下：像敏单元数目：2048像元像敏单元大小：14 prriX 14 prriX 14（iri （相邻像元中心距为14耐总体传输效率：92%时钟频率：0.1-20MHZ工作温度：-25-+60°C供电电源：+12V光敏区域：采用高灵敏度和低暗电流PN结作为光敏单元 3.4分选部分341分选原理当前面的CCD测量出滚珠的直径后，单片机就将该直径与事先设定的合格直径范围 进行比较,一旦符合预设要求，则单片机就会向相应的输出口发出高电平，该高电平触发 继电器后开启电磁阀门，从而使滚珠落入不同的料箱中，即完成对不同直径滚珠的分选。 其流程图如下：图3-9分选装置流程图继续测量下一个滚珠342

29、分选装置本次设计拟将滚珠分为三类，直径在下偏差与上偏差之间的合格产品一类，直径超 过上偏差的一类，直径小于下偏差的一类。如图 3-8所示，分选装置主要由一个主滚道 与三个下料管道组成9，主滚道与水平成150角以使滚珠能靠自重顺滚道滚下，阀门开 关的长度C大于滚道宽度L,关系约为C=1.5L。当被测滚珠直径符合规定的合格直径时， 单片机控制阀门1,打开阀门1状态如图3-10（虚线所示），接着让滚珠沿主滚道滚下， 滚珠被开关1挡住，顺势滚向下料管道1,落入对应的料箱。然后开关复位，主滚道畅 通，开始分选下一个滚珠，如果所测滚珠直径超出了允许的误差范围，当其小于下偏差 时，打开阀门2;当其超过上偏差

30、，打开阀门 3;最后落入对应的料箱，以此完成对滚 珠的分选。阀门2阀门3图3-10分选装置结构示意图4系统软件设计4.1单片机4.1.1 AT89C52 简介本次系统设计单片机拟采用 AT89C52 AT89C52是美国ATMEL公司生产的低电压， 高性能CMOS驻单片机，片内含8k字节的可反复擦写的只读程序存储器和256字节的随机存取数据存储器，器件采用 ATMEL公司的高密度、非易失性存储技术生产，与标 准MCS-51指令系统及8052产品引脚兼容，片内置通用8位中央处理器和Flash存储单 元，功能强大AT89C52单片机适合于许多较为复杂控制应用场合10。AT89C52主要性能参数如下

31、：与MCS-51产品指令和引脚完全兼容8k字节可重擦写Flash闪速存储器1000次擦写周期全静态操作：0Hz-24MHz三级加密程序存储器256 X 8字节内部RAM32个可编程I/O 口线3个16位定时/计数器8个中断源可编程串行UARTS道低功耗空闲和掉电模式4.1.2引脚介绍电源引脚Vcc （40脚）：正电源的引脚，工作电压是 5 VGND （20脚）：接地端AT89C52>XTALtPO.OZADOXTAL2P0.1WD1P0.2WD2P0.3WD3RSTP0.5WD5PO.5WD6P0.7/AD7PSENP2EW阳P2.1/A9P2 2/A10P2.3/A11ALE EAP2

32、 412P2 5/A13P1.0/T2P1 1/12EXP2 G曲 P2 7/A15P3.D/RXDP3.1/RDPI .2P1.3P3.2/INTO ps.wfiPI.4P3.4HDP1.5P3.5/F1P1.6P1.7P3.6ARP3炳193图4-1 AT89C52引脚示意图1216729.3D39-W:：时钟电路的引脚XTAL1 和 XTAL2为了产生时钟信号,在89C52单片机的芯片内部已经设置了一个反相放大器，其中XTAL1端口就是片内反相放大器的输入端，XTAL2端则是片内振荡器反相放大器的输出端。单片机使用的工作方式是自激振荡的方式，XTAL1和XTAL2外接的是12 MHz的石

33、英晶振，使内部振荡器按照石英晶振的频率频率进行振荡，从而就可以产生时钟信号。时钟信号电路如图4-2所示:复位RST（ 9脚）当振荡器运行时，只要有两个机器周期即 24个振荡周期以上的高电平在这个引脚 出现时，那么就将会使单片机复位，如果将这个引脚保持高电平，那么52单片机芯片就会循环不断地进行复位。复位后的P0 口至P3 口均置于高电平，这时程序计数器和特 殊功能寄存器将全部清零。复位电路如图所 4-3示：1891293091VCCR1XTAL2C3RST10uFPSENALEEA图4-3单片机复位电路图（4）输入输出口（ I/O 口）引脚P0 口是一个三态的双向口，既可以作为数据和地址的分时

34、复用口， 又可以作为通用 输入输出口。P0 口在有外部扩展存储器时将会被作为地址/数据总线口，此时P0 口就是 一个真正的双向口。而在没有外部扩展存储器时， P0 口可以作为通用的I/O接口使用， 但此时只是一个准双向口。P1 口是一个带内部上拉电阻的8位双向I/O 口，而P1 口只有通用I/O接口一种功 能，而且P1 口能驱动4个LSTTL负载；在使用时通常不需要外接上拉电阻就能够直接 驱动发光二极管；在端口置1时，其内部上拉电阻将端口拉到高电平，作输入端口用。 对于输出功能，可以通过程序指令来控制单片机引脚的输出。P2口是一个带内部上拉电阻的8位双向I/O 口，而且P2 口具有驱动4个LS

35、TTL负 载的能力。P2端口置1时，内部上拉电阻将端口的电位拉到高电平，作为输入口使用； 在对内部的Flash程序存储器编程时，P2 口接收高8位地址和控制信息，而在访问外部 程序和16位外部数据存储器时，P2 口就送出高8位地址。在访问8位地址的外部数据 存储器时，P2引脚上的内容在此期间不会改变。P3 口是一个带内部上拉电阻的8位双向I/O 口，P3 口能驱动4个LSTTL负载，当 P3 口写入“ 1”后，它们被内部上拉为高电平，并用作输入。作为输入，由于外部下拉为低电平，P3口将输出电流（ILL ）这是由于上拉的缘故。P3 口还有第二功能，如下：P3.0 :串行通讯输入口（ RXDP3.

36、1 :串行通讯输出口（ TXDP3.2 :外部中断0请求输入端（INTO）P3.3 :外部中断1请求输入端（INT1）P3.4 :定时器0输入端（TO）P3.5 :定时器1输入端（T1）P3.6 :外部数据存储器写选通信号输出端（/WRP3.7 :外部数据存储器写选通信号输出端（/RD）4.2 CCD-TCD142D 电路TCD142D的内部结构如图4-4所示，TCD142D& 2110个光敏二极管，其中前 51个 和后11个是用作暗电流检测（被遮蔽的），中间的2048个光敏二极管是曝光象敏单元。 光敏二极管的两侧是用作储存光生电荷的MOSI容阵列，在MOSI容阵列的两侧是转移栅电极，

37、转移栅的两侧为CCD模拟移位寄存器，其输出由信号输出单元和补偿输出单元 构成。当TCD142D接受到光照后，光敏元件立刻产生电荷，改电荷被储存在转移栅电极 中；通过打开移位门，可将储存的电荷转移到移位寄存器中；最后，再在移位脉冲的控 制下，把CCD模拟移位寄存器中的每一个电荷按顺序地移入输出缓冲器中进行输出。图4-4 TCD142D内部结构示意图TCD142D的应用电路如图4-5所示，CCD在驱动脉冲的驱动下开始工作，输出信 号经过差分放大电路放大，峰值保持电路去干扰后，通过二值化处理电路整流变成矩形 方波脉冲信号后传到AT89C52中进行处理。图4-5 TCD142D应用电路示意图4.3二值

38、化电路处理线阵CCD乍为一种图像传感器，其输出信号是一列离散的模拟信号，其中既包含被 测尺寸的信息，又含有大量的复位噪声和电子系统的白噪声，所以需要进行前置放大和 滤波。由于被测物与背景在光强上的变化，反映在 CCD俞出信号所对应的图像谱上，其 边界处会有渐缓的过渡区，为了将图像信息提取出来以便进行信息处理，还需要进行二 值化处理，将其转换为矩形波11 0所谓二值化处理方法是通过阈值电平的设置，来对CCD俞出信号进行截断的处理方 法。信号二值化处理电路有固定阈值法、浮动阈值法等多种方法。固定阈值法受到光源 变化易引起CCD言号幅度的变化，从而导致测量误差。浮动阈值法是在固定阈值法的基 础上，使

39、电压比较器的阈值电平随 CCD俞出视频信号的幅值变化而浮动。当测量系统中 光源强度的变化引起CCD输出信号变化时，可通过电路将CCD俞出视频信号幅值的变化 关联到阈值电平上，使阈值电平跟着变化，以抵消 CCD俞出视频信号因光源不稳定而造 成的误差。高于阈值电平的信号输出为低电平，低于阈值电平的信号输出为高电平。这 种处理方法实际上是一种反向的二值化处理法，其电路图如图4-6所示，输出信号如图4-7所示：图4-6浮动二值化处理电路原理图二值化处理后信号反向后的输出信号图4-7反向二值化处理信号对比4.4输入模块本次设计采用矩阵键盘对系统的进行参数设置，矩阵键盘又称行列键盘，它是用四条I/O线作为

40、行线，四条I/O线作为列线组成的键盘。在行线和列线的每个交叉点上设置一个按键，这样键盘上按键的个数就为4X 4个12。在单片机中正好可以用一个 P 口实现16个按键功能，这也是在单片机系统中最常用的形式，这种行列式键盘结构能有 效地提高单片机系统中I/O 口的利用率。图4-8为矩阵键盘输入模块电路图。图4-8矩阵键盘输入模块电路图4.5显示模块显示模块主要负责显示单片机通过内置的计数器统计的符合误差范围的滚珠数量以及不合格滚珠的数量，这里拟采用 LCD12864-0402B其具有体积小、功耗低、显示内 容丰富、超薄轻巧等优点。它是一种具有 4位或8位并行、2线或3线串行多种接口方 式，内部含有

41、国标一级、二级简体中文字库的点阵图形液晶显示模块；其显示分辨率为128X 64,内置8192个16X 16点汉字，和128个16X 8点ASCII字符集。利用该模块灵活的接口方式和简单、方便的操作指令，可构成全中文人机交互图形界面。可以显示8X 4行16X 16点阵的汉字，也可完成图形显示。低电压低功耗是一显著特点。13。其电路图如下：FZAI!U5图4-9显示模块电路图9Z2D其基本特性如下：电源电压：+3.0-+5.5V分辨率：128 X 64字库：提供8192个16X 16点阵汉字字符：128个16X 8点阵字符时钟频率：2MHZ显示方式：STN半透、正显驱动方式：1/32DUTY 1/

42、5BIAS背光方式：侧部高亮白色 LED功耗仅为普通LED的1/5-1/10通讯方式：串行、并口可选工作温度：0 °C -+55 °C存储温度：-20 C -+60 C4.6分选模块电路设计由分选装置设计可知，需单片机控制分选管道上的三个分选阀门，随得到如图4-10所示电路图。测量部分得到的信号由单片机处理后，给出相应的高电平控制相应的继电 器，从而控制阀门的开关，完成滚珠的分选动作XTAL2wrrPBENALE ElP1XFTZ pi .vrze<IP1JM3科号Pl JSPt.?1LEB-REDRL1iNTE-RtS-Z*图4-10分选阀门控制电路图4.7总体电路

43、设计CCD测出的信号经过二值化电路等放大、整流处理，输入到单片机中，通过单片机 程序处理，计算出被测滚珠的直径，与既定的合格直径范围作比较，并对比较结果进行 统计显示，同时根据比较结果给与相应的I/O接口端以高电平，从而通过继电器控制相 应的分选管道阀门完成滚珠的自动分选。系统电路图详见附录一。4.8系统程序设计根据上文中的系统电路设计，本系统的主程序流程图详见附录二，主要包括系统初 化、系统参数设置、数据采集、数据处理、LCD显示、分选控制等功能。数据采集子程序流程图见附录三，将CCD俞出信号经过二值化处理后接入单片机 To 口，对To进行判断来完成数据的采集，当To为0时开始计数，否则等待

44、。当To为1时， 停止计数，关闭计数器，然后清理计数器，继续下一次测量。数据处理子程序如图4-11所示，开始接入数据采集信号，单片机用测得的脉冲数 乘上像元中心距14旳 从而计算出滚珠的直径，再判断器直径所属范围，然后进行储存 显示和分选控制。图4-11数据处理子程序5测量误差分析及误差消除方案该设备属于精密测量仪器，测量的精确性是测量结果的保证。设备结构设计是为了 满足用户使用功能要求，而误差分析是对设备结构是否能够达到使用功能，满足使用需 求的前提条件。该设备中，CCD光电传感器是测量的工具，V型定位块是滚子测量的定位装置，其 偏移、定位不准确等问题会导致测量结果与真实结果的差异，因此，对

45、其进行误差分析 不仅有利于测量设备的安装调试，也能验证设备结构设计的合理性。另外，测量环境对 测量结果的影响也需重点考虑，是误差产生的另一个重要原因。本章将对上述可能情况 产生的误差进行分析，对每种产生的误差对测量结果的影响进行评价，同时对测量结果 产生重大影响的因素提出减小误差产生的方案。5.1误差分析的要素产生误差的原因种类有多方面，分类方式也不同，不同的设备有不同的分析方式14 分类的根据是取决于设备的结构形式以及使用环境，本文将结合具体实际情况将测量过 程中产生的误差进行分类，如图 5-1所示：图5-1产生误差的因素分析误差产生的原因有三种类型，分别是随机误差，系统测量误差以及系统误差

46、。 随机误差是指测量结果与同一待测量的大量重复测量的平均结果之差。其特点是： 误差具有随机性，符合统计规律，大小和方向都不固定，也无法测量或校正。但测量结 果随着测定次数的增加，正负误差可以互相抵偿，误差的平均值将逐渐趋向于零。虽然 单侧测量的随机误差没有规律，但多次测量的总体却服从统计规律，通过对测量数据的 统计处理能在理论上估计对测量结果的影响。 该分析过程中随机误差是由多种原因引起 的，包括滚珠热胀冷缩，滚珠表面粗糙度等因素引起的误差。系统测量误差是指在测量过程中由于外来因素引起的难以避免的误差，但该误差可以被量化，可以根据数学推理来判断其对测量结果的影响大小，从而找到减小该误差对 测量

47、结果影响的解决方案。本设备中产生系统测量误差的有两种，一种是由于测量过程 中杂质产生的影响，另一种是由于 CCD光电传感器在定位、安装过程中发生偏斜、移动 等产生的测量误差。系统误差是指大小和方向为确定数值或是具有确定性变化规律的误差。其特点是具 有重复性、单向性。该误差可以根据实验条件，系统误差的特点，找出产生系统误差的 主要原因，采取适当的措施降低它的影响，但不能完全避免其对测量结果的影响。5.2随机误差521滚珠热胀冷缩引起的随机误差由于该设备所使用的是CCD光电传感器，测量精度较高，如果测量环境不是恒温环 境，被测滚珠会发生热胀冷缩的现象，从而对测量结果产生一定的影响。下面，以滚珠 的

48、热膨胀为例分析其变形情况。被测对象为滚珠，材料为钢，钢的线膨胀系数为 11.7 X 10-6 °C，即被测对象温度变 化1C产生的变形量为11.7 X 10-6，传感器的温度测量精度为0.01 C，可得传感器由于 温度变化产生的误差为：E1=11.7 X 10-6 X 0.01=0.12 X 10-6与测量精度的允许总误差的值进行比较，表明其产生的误差不会影响测量误差，属 于次要误差。但在生产过程中，仍要求测量工作台和待测滚珠同时在相同环境中存放一 段时间，保持其与周围环境温度基本一致，以减少温度波动带来的随机误差。5.2.2被测滚珠尺寸产生的测量误差滚珠测量前是经过多步加工完成的，

49、加工后的滚珠不仅尺寸不相同，而且滚珠的外 形的不同，也会对测量结果产生影响。成都学院学士学位论文（设计）如图5-2所示，如果滚珠圆度不满足加工要求，就会导致测量后的值产生偏差，对 测量结果不利。若满足测量要求，贝| di 一 d | < 2 m I d2 一 d | < 2(6-1 )式中，di、d2分别为圆度不同的滚珠的截面测量尺寸，d为滚珠理想尺寸。因此，为了避免由于滚珠圆度不同而产生对滚珠分组的影响，应使滚珠的圆度控制 在I pm之内。针对此类问题，采取的解决方法主要有：一方面，在加工过程中进行控制，保证滚 珠加工精度；另一方面，在测量过程时，对滚珠测量过程中进行多次测量，取

50、测量结果 平均值，使测量结果接近真实值，避免由于测量方式不合理而对滚珠分选而产生影响。图5-2圆度产生测量误差示意图523被测滚珠表面粗糙度引起的误差被测对象表面的粗糙度对传感器测量结果也有一定影响， 被测对象光泽主要由折射 率和表面粗糙度决定。当表面过于光滑，粗糙度值过小，一方面，使漫反射成份减少， CCD图像传感器输出减弱；另一方面，当正反射成份的增大，CCD图像传感器可能接收到正反射光，正反射光是一种干扰信号。当表面过于粗糙，粗糙度值过大，容易造成照 明光点的局部丢光现象，破坏了原光点的均匀性，从而使输出值不稳定。被测面粗糙度 较大时，光泽较暗淡，有利于激光传感器的正常工作。测量时的滚珠

51、是经过精加工后才进行测量，因此滚珠的表面粗糙度值较低，表面较 光滑，会对滚子测量结果产生一定的影响，这是工件自身条件决定的，无法改变。但可 以通过改变激光器的发射功率，使用偏振片削光来减少光强变化对测量的影响。5.3系统测量误差5.3.1测量环境中杂质引起的误差CCD光电传感器的工作位置在测量工作台上，虽然测量区域的外部有外形罩进行防 尘，但不能完全避免粉尘、杂质的存在。在正常的工作环境下，对测量环境要求允许存 在的杂质大小不超过0.05mm该标准是一般工厂能够保证的，同时也是测量设备维持测 量精度的基本尺度。在测量的过程中，如果由于测量环境的清洁度不够高或者待测滚珠在测量前没有完 全清洗干净

52、，会在滚珠的表面附着一些杂质，这些杂质体积微小，当滚珠之间发生滚动 摩擦的时候会产生静电，杂质会依附在滚珠的表面，如果不进行处理，在测量的过程中 会影响滚珠直径偏离真实值。该问题的解决在测量仪器本身上可以得到解决，CCD光电传感器内装有专用数字指令控制器的异常值除去过滤器，可以高精度的除去附着在工件上的水滴、灰尘、划伤等异常数值。因此，此种杂质将不会对测量结果产生影响。5.3.2传感器定位引起的误差传感器与工作台面的安装采用螺钉连接，工作台面在设计中对平面度有技术要求，但不能完全保证安装后的传感器相对于工作台面保持水平，进而使激光束与工作台面以及V型定位块的轴线之间产生相对的倾角。图5-3传感

53、器偏转引起误差示意图如图5-3所示，假设传感器的底面相对于工作台的 X轴、丫轴发生偏转，传感器激 光发射端发射的激光同样相对工作台面形成倾斜。如果被测对象的截面为非圆形，则会 改变测量结果，但此处测量对象为滚珠，任意截面为圆形，而测量的原理是通过比较滚 珠遮挡像元的数值来计算而得。因此，传感器的偏转对测得的像元数值将不会带来影响。5.4本章小结从本章上述对于误差的分析过程中，可发现影响测量精度的因素有多种，分为随机 误差、系统测量误差以及系统误差三种。随机误差尽管有多种，但被测滚珠由于热胀冷 缩和表面粗糙度而产生的随机误差之和都远小于滚珠的测量精度，将不会对滚珠的测量结果产生影响；然而，滚珠由于自身尺寸问题，如滚珠圆度产生的误差对测量结果的影 响较为明显，是产生误差的主要因素。在滚珠加工的过程中，应采取适当的工艺优化以 避免圆度不合格的滚珠。同时，通过对误差的分析证明本设计的测量手段对滚珠的测量 而言是一种合理、有效、可以信赖的测量方式。28成都学院学士学位论文(设计)6结论本设计在总