射线探测原理与技术综述

1、中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础核辐射探测方法核辐射探测方法陈明焌陈明焌中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础常用射线探测器的工作原理 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础1.1.气体探测器气体探测器共同特点共同特点： 作用介质为气体作用介质为气体 结构相似结构相似 探测依据探测依据 射线通过物质时的射线通过物质时的电离效应电离效应 气体探测器电离室电离室 （平板型、圆柱型）（平板型、圆柱型）正比计数器正比计数器 （圆柱型）（

2、圆柱型）G-M G-M 计数器（圆柱型）计数器（圆柱型）中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础1.1 气体探测器的工作原理 射线射线 气体（一种物质气体（一种物质) ) 相相互作用互作用 传递能量传递能量 气体原子（分子）气体原子（分子）中核外电子获得能量中核外电子获得能量 产生产生电离和激发电离和激发效效应，产生大量的应，产生大量的电子正离子电子正离子对，射线本身对，射线本身损失能损失能量量而被阻止下来。而被阻止下来。1. 气体的电离气体的电离中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础初电

3、离：初电离：入射粒子与气体原子分子碰撞直接产生入射粒子与气体原子分子碰撞直接产生正离子和电子。正离子和电子。 次电离：次电离：直接电离时产生的电子中能量特别高的直接电离时产生的电子中能量特别高的那部分，称为那部分，称为电子，它们也能使气体电离。另外电子，它们也能使气体电离。另外初电离可使原子分子产生内壳层空位，则外壳层向初电离可使原子分子产生内壳层空位，则外壳层向内壳层跃迁时，既可能发射俄歇电子，也有可能发内壳层跃迁时，既可能发射俄歇电子，也有可能发射紫外光或射紫外光或X射线，它们都可能使气体电离。射线，它们都可能使气体电离。电离的过程包括：电离的过程包括： 初电离和次电离的总和称为总电离初电

4、离和次电离的总和称为总电离。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础平均电离能平均电离能 带电粒子在气体中产生一对电子正离子对需要带电粒子在气体中产生一对电子正离子对需要的平均能量的平均能量 W平均电离能平均电离能射线通过气体时就可形成射线通过气体时就可形成N N对离子对：对离子对： WEN0 平均电离能平均电离能 W W 最低电离电位最低电离电位 I I0 0中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础几种气体的电离能几种气体的电离能w w、和最低电离电位、和最低电离电位气体气体w w( (

5、) )w w( (X, X, ) )w w( ( ) )I I0 0HeHe46.046.0 0.50.541.541.5 0.40.429.929.9+0.5+0.524.524.5NeNe35.735.7 2.62.636.236.2 0.40.428.628.6 8 821.621.6ArAr26.326.3 0.10.126.226.2 0.20.215.815.8O O2 232.332.3 0.10.131.831.8 0.30.331.531.5 2 212.512.5CHCH4 429.129.1 0.10.127.327.3 0.30.312.812.8C C2 2H H4

6、428.0328.03 0.050.0526.326.3 0.30.312.212.2空气空气34.9834.98 0.050.0533.7333.73 0.150.1536.036.0 0.40.4中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础2. 离子的收集和电压电流曲线离子的收集和电压电流曲线图图4.2 4.2 离子收集装置示意图离子收集装置示意图中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础图4.3 、两种粒子在气体探测器中产生的总的离子对数目和电场的关系曲线图图4.3 给出了给出了、两两种粒子

7、在气体探测器种粒子在气体探测器中产生的总的离子对中产生的总的离子对数目和电场的关系曲数目和电场的关系曲线明显分为五个区域：线明显分为五个区域： 在辐射强度恒定的在辐射强度恒定的条件下，随所加电压条件下，随所加电压与电离电流的关系如与电离电流的关系如图图4.3。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础图图 各种类型的气体探测器各种类型的气体探测器中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础例：210Po E=5.30MeV cm84.3R 空空气气 个个561056. 134103 . 5N 经推

8、导和实际测量已知，每一对电子正离子对经推导和实际测量已知，每一对电子正离子对都带有一定电量，大小为：都带有一定电量，大小为：C.e19106021 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础圆柱型电离室圆柱型电离室C0VLR+-中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础2. 2. 闪烁探测器闪烁探测器是利用辐射在某些物质中产生的是利用辐射在某些物质中产生的来探测电离辐射的探测器。来探测电离辐射的探测器。闪烁探测器的主要组成部分：闪烁探测器的主要组成部分： 闪烁体闪烁体 光电倍增管光电倍增管 相应

9、的电子学仪器相应的电子学仪器中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础闪烁体闪烁体光电倍增管光电倍增管( (打拿极打拿极) )反射层反射层管座管座分压器分压器高压高压多道或单道多道或单道光阴极光阴极阳极阳极荧光荧光光子光子光电子光电子暗盒暗盒窗窗前置放大器前置放大器中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础1）闪烁探测器工作原理（五个相互联系的过程）：闪烁探测器工作原理（五个相互联系的过程）： 损失能量损失能量 射线进入闪烁题，闪烁体吸收带电粒子能量，而射线进入闪烁题，闪烁体吸收带电粒子能量，而

10、使原子、分子使原子、分子电离、激发电离、激发。 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 能量转换能量转换 受激原子、分子退激发时，发射荧光光子。受激原子、分子退激发时，发射荧光光子。 发出光子发出光子 射线能量的一部分转化为光能。射线能量的一部分转化为光能。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 收集光子、光电转换收集光子、光电转换 利用反射物和光导将闪烁光子尽可能多地收集利用反射物和光导将闪烁光子尽可能多地收集到光电倍增管的光阴极上，由于光电效应，光子到光电倍增管的光阴极上，由于光电效

11、应，光子在光阴极上打出光电子在光阴极上打出光电子 光能光能电子电子中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 光电子在光电倍增管中倍增，数量光电子在光电倍增管中倍增，数量由一个增加到由一个增加到104 109 ， 电子流在阳电子流在阳极负载上产生电信号，输出幅度几百极负载上产生电信号，输出幅度几百mV V, 在一定的条件下正比于入射在一定的条件下正比于入射粒子损失的能量，脉冲计数正比与入粒子损失的能量，脉冲计数正比与入射粒子强度。射粒子强度。 记录分析记录分析 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与

12、安全基础中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础a. NaI(Tl)a. NaI(Tl)晶体晶体密度大密度大 =3.67g/cm=3.67g/cm3 3原子序数高原子序数高 Z=53 (Z=53 (占总重的占总重的85%85%）对对射线探测效率高射线探测效率高输出脉冲幅度与吸收的能量基本上有线性关系输出脉冲幅度与吸收的能量基本上有线性关系2）介绍几种闪烁体）介绍几种闪烁体中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护

13、与安全基础中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础b. Zn(Ag)b. Zn(Ag)闪烁体闪烁体优点：优点：发光效率极高发光效率极高 对重带电粒子阻止本领很大，对重带电粒子阻止本领很大， 对对 射线不灵敏，射线不灵敏， 适合于在适合于在、本底场中用幅度甄别法测量本底场中用幅度甄别法测量 中带电粒子中带电粒子缺点：缺点：ZnSZnS层是半透明的层是半透明的 因此不能用来测量因此不能用来测量 能量，只能用来测量能量，只能用来测量 强度强度中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础c. c. 有机

14、晶体蒽和芪有机晶体蒽和芪具有良好的发光特性的芳香族化合物具有良好的发光特性的芳香族化合物蒽：蒽：1014HCZ Z小，小，H H的含量大的含量大探测探测和快中子的好材料和快中子的好材料在在0.130MeV0.130MeV能区线性好，可测能区线性好，可测能谱能谱芪：芪：1214HC光输出是蒽的光输出是蒽的60%60%，发光时间，发光时间-6ns-6ns常用作快计数常用作快计数加工困难加工困难 不多用不多用中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础a. 基本原理和构造基本原理和构造 光电倍增管是利用光电效应将光转换成光电光电倍增管是利用光电效应将光

15、转换成光电子，由光电子形成的电流来记录微弱闪光的元件。子，由光电子形成的电流来记录微弱闪光的元件。作用：光电转换、电子倍增、信号输出作用：光电转换、电子倍增、信号输出三个基本组成部分三个基本组成部分：光阴极光阴极、次阴极次阴极、阳极阳极3 3）光电倍增管）光电倍增管中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础光阴极光阴极接受光子并放出光电子的电极接受光子并放出光电子的电极作用：作用：光电转换光电转换次阴极次阴极 阳阳 极极光阴极产生的光电子被加速、聚焦、光阴极产生的光电子被加速、聚焦、倍增倍增作用：作用：电子倍增电子倍增收集经倍增放大后所产生的所

16、有电子收集经倍增放大后所产生的所有电子作用：作用：信号输出信号输出中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础图4.13 光电倍增管的工作原理中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 C1eMQgFhCAECeMTnCqVkcphnp0ph 设：系统电容为设：系统电容为C , C , 引起阳极上电极电位变化幅度为引起阳极上电极电位变化幅度为: : V E0结论与启示结论与启示：2. 为了提高，必须增大为了提高，必须增大、A、T 等等phC、cg能量损失率能量损失率平均光电转换效率平均光电转换效率

17、电子收集效率电子收集效率总发光效率总发光效率中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础方法：方法：增大增大A , A , 增大闪烁体尺寸。增大闪烁体尺寸。( (提高探测效率提高探测效率) )选选 的闪烁体（高发光效率）的闪烁体（高发光效率）提高提高 （光子收集效率）（光子收集效率）调节光电倍增管得分压电阻，提高调节光电倍增管得分压电阻，提高 ( (电子收电子收集效率）集效率）1.1. 闪烁体与光电倍增管相匹配增加闪烁体与光电倍增管相匹配增加 （光电转换效率）（光电转换效率）phFphCcg kQ中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护

18、部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础3. 3. 半导体探测器半导体探测器 工作原理工作原理与气体探测器类似与气体探测器类似半导体材料半导体材料 SiSi或或GeGe对辐射损伤较灵敏对辐射损伤较灵敏性能随温度变化关系较大性能随温度变化关系较大能量分辨率高能量分辨率高时间响应快（时间响应快（1010-9-9秒）秒）线性范围宽线性范围宽(300KeV-1.3MeV (300KeV-1.3MeV 线性偏移线性偏移 0.2KeV) 0.2KeV)主要缺点主要缺点主要优点主要优点探测介质探测介质中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础时间响应快：时

19、间响应快： 带电粒子在半导体中形成的电离密度要比在气带电粒子在半导体中形成的电离密度要比在气体中形成的体中形成的电离密度高，大约电离密度高，大约3 3个数量级个数量级。 所以，当探测高能电子或所以，当探测高能电子或射线时，半导体探射线时，半导体探测器的尺寸要比气体探测器小得多，因而可以制测器的尺寸要比气体探测器小得多，因而可以制成高空间分辨、快时间相应的探测器。成高空间分辨、快时间相应的探测器。线性范围宽：线性范围宽： 在很大的能量范围内，探测器输出脉冲幅度与在很大的能量范围内，探测器输出脉冲幅度与所测射线的能量成正比。所测射线的能量成正比。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部

20、培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础表表4.2 不同探测器能量分辨率的比较不同探测器能量分辨率的比较放射源放射源探测器探测器能量分辨率能量分辨率241Am-5.486MeVPIPS离子注入表面钝化硅半导体探测器离子注入表面钝化硅半导体探测器约约0.2%气体探测器气体探测器约约1%60Co-1.33MeV高纯锗半导体探测器高纯锗半导体探测器约约0.1%NaI（Tl）闪烁探测器）闪烁探测器约约8%55Fe-X5.9keVSi（Li）半导体探测器）半导体探测器约约3%正比计数器（气体）正比计数器（气体）约约17%NaI（Tl）闪烁探测器）闪烁探测器约约5060%中华人民共和国环境保护部培训中华人

21、民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础电离室成为探测器必须满足的电离室成为探测器必须满足的条件条件：没有射线穿过灵敏体积时，不产生信号或信号可以忽略；没有射线穿过灵敏体积时，不产生信号或信号可以忽略；带电粒子穿过灵敏体积时，在其中产生离子对；带电粒子穿过灵敏体积时，在其中产生离子对；在电场的作用下，离子在漂向两极的过程中没有明显的损在电场的作用下，离子在漂向两极的过程中没有明显的损失，在回路中形成的信号能代表原初产生的离子对数。失，在回路中形成的信号能代表原初产生的离子对数。1） 半导体探测器的基本原理：半导体探测器的基本原理：中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境

22、保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 与气体探测器类似，核辐射在半导体中，每产生与气体探测器类似，核辐射在半导体中，每产生一对电子空穴对，平均损失的能量即一对电子空穴对，平均损失的能量即平均电离能平均电离能w eVw76. 3eVw96. 2硅硅锗锗 对于能量为对于能量为E的核辐射，半导体探测器输出脉冲幅度：的核辐射，半导体探测器输出脉冲幅度： CwEV1 探测器的结电容探测器的结电容中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础漂移型：漂移型： 硅锂漂移探测器硅锂漂移探测器 锗锂漂移探测器锗锂漂移探测器高纯材料：高纯材料：低能低能、x

23、x射线射线射线能谱射线能谱高纯锗探测器高纯锗探测器 HPGeHPGe扩散型：扩散型：主要用于测量粒子主要用于测量粒子能谱和粒子计数能谱和粒子计数扩散结型扩散结型面垒型面垒型离子注入型离子注入型2）常见的半导体探测器）常见的半导体探测器 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础图图4.18 4.18 金硅面垒半导金硅面垒半导体探测器外形体探测器外形图4.21 液氮致冷冗余设计致冷器和脉冲管电致冷器中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 4. 4. 中子探测器中子探测器1）中子探测的基本原理）

24、中子探测的基本原理 由于由于中子不带电中子不带电，中子与物质中的电子发生相互，中子与物质中的电子发生相互作用作用不能引起直接电离不能引起直接电离。 因此，中子探测器只能依靠中子与原子核相互作因此，中子探测器只能依靠中子与原子核相互作用产生的用产生的核反应核反应、核反冲核反冲、核裂变核裂变和和活化活化等产生的等产生的次次级带电粒子级带电粒子来测量中子。来测量中子。 中子与原子核的反应过程，以及相互作用截面的中子与原子核的反应过程，以及相互作用截面的大小，大小，依赖于中子的能量和物质的性质依赖于中子的能量和物质的性质。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防

25、护与安全基础 常用中子探测器主要有：常用中子探测器主要有：BF3正比计数器、硼正比计数器、硼电离室、裂变室、闪烁探测器、半导体探测器等。电离室、裂变室、闪烁探测器、半导体探测器等。2）常用中子探测器简介）常用中子探测器简介 BF3正比计数器正比计数器 BF3气体作为探测介质，利用中子和气体作为探测介质，利用中子和10B发生核发生核反应产生的反应产生的粒子和粒子和7Li在正比计数器产生的电离在正比计数器产生的电离效应来达到探测中子的目的。效应来达到探测中子的目的。 LiBnLiBn710*710 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础重带电粒

26、子，射程比较短重带电粒子，射程比较短 BF3计数管主要用于热中子和慢中子的测量，它计数管主要用于热中子和慢中子的测量，它对快中子的探测效率很低，若探测器外有用石蜡对快中子的探测效率很低，若探测器外有用石蜡（或聚乙烯）制成的慢化剂，是快中子经慢化后再（或聚乙烯）制成的慢化剂，是快中子经慢化后再进入计数管，则进入计数管，则BF3计数管也可以用来探测快中子。计数管也可以用来探测快中子。这样就可以使得测量中子的能量范围更宽，被称为这样就可以使得测量中子的能量范围更宽，被称为“长计数管长计数管”。 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 硼电离室和裂

27、变室硼电离室和裂变室硼电离室硼电离室 在电离室的一个电极上涂有在电离室的一个电极上涂有10B薄薄膜，利用核反应产生的膜，利用核反应产生的粒子和粒子和7Li在电离室产生的电流来测量中子在电离室产生的电流来测量中子的注量率的注量率 裂变室裂变室 在电离室的电极上涂裂变物质在电离室的电极上涂裂变物质235U, 利用中子轰击利用中子轰击235U产生裂变，记录产生裂变，记录裂变碎片在电离室中产生的电流来裂变碎片在电离室中产生的电流来记录中子。一般用于核反应堆控制。记录中子。一般用于核反应堆控制。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 3He气体探测器

28、气体探测器 He气体与中子发生如下反应，也广泛地用作气体与中子发生如下反应，也广泛地用作探测中子的介质：探测中子的介质：He + n H + p + 0.765 MeV此反应产生的此反应产生的0.765MeV能量分别由反应产物能量分别由反应产物H（0.191MeV）和）和p(0.574MeV)获得。获得。 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 闪烁中子探测器闪烁中子探测器有机闪烁体有机闪烁体 主要用于快中子的测量主要用于快中子的测量 硫化锌快中子屏硫化锌快中子屏 主要用于快中子的测量主要用于快中子的测量 硫化锌慢中子屏硫化锌慢中子屏 主要

29、用于快中子的测量主要用于快中子的测量 锂玻璃闪烁体锂玻璃闪烁体 主要用于热中子到几百主要用于热中子到几百 keV中子的测量中子的测量 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础5. 半导体探测器半导体探测器 用某种物质作为用某种物质作为辐射体辐射体，通过，通过核反应核反应、核反冲核反冲和和核裂变核裂变产生产生重带电粒子重带电粒子，然后用半导体探测器测量。，然后用半导体探测器测量。 图图4.22 夹心式夹心式6LiF半导体中子谱仪半导体中子谱仪两个面对面的金硅面两个面对面的金硅面垒半导体探测器，中垒半导体探测器，中间放入含间放入含6Li薄膜，制薄

30、膜，制成成“夹心式夹心式”中子谱中子谱仪，仪， 中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础5.5.热释光探测器热释光探测器 TLD TLD 1)1)热释光探测器的基本原理热释光探测器的基本原理什么是什么是 “热释光热释光” 辐射照射在某种结晶上之后，将这种结晶体加辐射照射在某种结晶上之后，将这种结晶体加热，它会热，它会放出与受照剂量大致成正比的光放出与受照剂量大致成正比的光来。这来。这种现象成为种现象成为“热致发光现象热致发光现象”。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础电子获得足够的能量，

31、使原子电离电子由价带电子获得足够的能量，使原子电离电子由价带进入导带进入导带 电离电离电子获得的能量不足以使它电离，而只能达到电子获得的能量不足以使它电离，而只能达到激子带激子带 激发激发a. 当当带电粒子穿过介质时带电粒子穿过介质时“激子激子” 处于激子带的电子和空穴，在晶格中运动，处于激子带的电子和空穴，在晶格中运动，但不导电。但不导电。 运动过程中，电子和空穴可能被陷阱俘获而运动过程中，电子和空穴可能被陷阱俘获而落入不同的落入不同的陷阱陷阱能级中，或落入被杂质原子能级中，或落入被杂质原子在禁带所形成的能级中。在禁带所形成的能级中。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐

32、射防护与安全基础辐射防护与安全基础 只有通过热起伏而重新被激发到导带，才能只有通过热起伏而重新被激发到导带，才能形成的发光中心复合而发光。形成的发光中心复合而发光。 显然：显然： 提高磷光体的温度可以使储存与其中提高磷光体的温度可以使储存与其中的辐射能加速地释放出来。的辐射能加速地释放出来。这一现象称为：“热致发光现象热致发光现象”b. b. 被俘获后的电子被俘获后的电子中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础 加热发出的总光子数与陷阱中释放出来的电子加热发出的总光子数与陷阱中释放出来的电子数成正比，而总电子数又与磷光体最初被吸收的数成正比，

33、而总电子数又与磷光体最初被吸收的辐射能量成正比。因此，辐射能量成正比。因此，可以通过测量总光子数可以通过测量总光子数来测量各种核辐射。来测量各种核辐射。加热温度加热温度（）（）)exp(kTsnI 热释光强度：在所考虑时刻陷阱能级在所考虑时刻陷阱能级 上的电子数上的电子数陷阱能级陷阱能级波尔兹曼常数波尔兹曼常数常数 C. 发光强度曲线发光强度曲线中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础图图4.24 LiF热释光发光热释光发光强度曲线强度曲线 加热热释光材料可以得到热释加热热释光材料可以得到热释光发光强度随温度的变化曲线，光发光强度随温度的变化曲线，这就是这就是“热释光的发光曲线热释光的发光曲线”。 发光曲线下的面积叫做发光总发光曲线下的面积叫做发光总额。对同一热释光材料若接受的额。对同一热释光材料若接受的照射量一定，则发光总额是一个照射量一定，则发光总额是一个常数。因此，常数。因此，原则上可以用任何原则上可以用任何一个峰的积分强度确定所接受的一个峰的积分强度确定所接受的照射剂量。照射剂量。常用的测量发光强度的方法有：常用的测量发光强度的方法有：峰高法峰高法、光和法光和法。中华人民共和国环境保护部培训中华人民共和国环境保护部培训辐射防护与安全基础辐射防护与安全基础加热发光装置的三个主要部分：